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磁控溅射沉积薄膜预溅射时间的光谱诊断
被引量:
1
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作者
郭庆林
范青
+5 位作者
崔永亮
董开虎
张磊
李旭
张金平
陈金忠
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第3期595-599,共5页
利用Omni-λ300系列光栅光谱仪、CCD数据采集和处理系统以及光纤导光系统等构成的等离子体光谱分析系统,实现了实时获取射频磁控溅射过程中等离子体光谱,分别对NiTa,TiAl陶瓷靶,NiAl,TiAl合金靶四种靶材的磁控溅射过程产生的等离子体进...
利用Omni-λ300系列光栅光谱仪、CCD数据采集和处理系统以及光纤导光系统等构成的等离子体光谱分析系统,实现了实时获取射频磁控溅射过程中等离子体光谱,分别对NiTa,TiAl陶瓷靶,NiAl,TiAl合金靶四种靶材的磁控溅射过程产生的等离子体进行监测,以TaⅡ333.991nm,NiⅠ362.473nm,AlⅠ396.153nm和TiⅠ398.176nm为分析线,获得了分析谱线强度随时间的变化规律,并以此为依据确定了预溅射时间,同时研究了不同溅射功率和压强对预溅射时间的影响。
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关键词
等离子体发射光谱
光谱分析
磁控溅射
预溅射时间
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职称材料
分段扫描在VG9000型辉光放电质谱中的应用
被引量:
1
2
作者
梁德华
《云南化工》
CAS
2016年第4期76-79,共4页
采用VG9000型辉光放电质谱(GDMS)测定样品时,在不同预溅射时间和不同质量分辨率的情况下,对高纯样品中的杂质元素进行分段扫描测定。本法可有效的缩短样品的测定时间及提高测定结果的准确性。
关键词
辉光放电质谱(GDMS)
分段扫描
预溅射时间
质量分辨率
下载PDF
职称材料
题名
磁控溅射沉积薄膜预溅射时间的光谱诊断
被引量:
1
1
作者
郭庆林
范青
崔永亮
董开虎
张磊
李旭
张金平
陈金忠
机构
河北大学物理科学与技术学院
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第3期595-599,共5页
基金
国家自然科学基金项目(60876055)
河北省自然科学基金项目(A2012201013)资助
文摘
利用Omni-λ300系列光栅光谱仪、CCD数据采集和处理系统以及光纤导光系统等构成的等离子体光谱分析系统,实现了实时获取射频磁控溅射过程中等离子体光谱,分别对NiTa,TiAl陶瓷靶,NiAl,TiAl合金靶四种靶材的磁控溅射过程产生的等离子体进行监测,以TaⅡ333.991nm,NiⅠ362.473nm,AlⅠ396.153nm和TiⅠ398.176nm为分析线,获得了分析谱线强度随时间的变化规律,并以此为依据确定了预溅射时间,同时研究了不同溅射功率和压强对预溅射时间的影响。
关键词
等离子体发射光谱
光谱分析
磁控溅射
预溅射时间
Keywords
Plasma emission spectra
Spectral analysis
Magnetron
sputtering
time
of
pre
-
sputtering
分类号
O657 [理学—分析化学]
下载PDF
职称材料
题名
分段扫描在VG9000型辉光放电质谱中的应用
被引量:
1
2
作者
梁德华
机构
红河砷业公司
出处
《云南化工》
CAS
2016年第4期76-79,共4页
文摘
采用VG9000型辉光放电质谱(GDMS)测定样品时,在不同预溅射时间和不同质量分辨率的情况下,对高纯样品中的杂质元素进行分段扫描测定。本法可有效的缩短样品的测定时间及提高测定结果的准确性。
关键词
辉光放电质谱(GDMS)
分段扫描
预溅射时间
质量分辨率
Keywords
GDMS
segmented scans
pre - sputtering time
quality resolution
分类号
O657.63 [理学—分析化学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
磁控溅射沉积薄膜预溅射时间的光谱诊断
郭庆林
范青
崔永亮
董开虎
张磊
李旭
张金平
陈金忠
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013
1
下载PDF
职称材料
2
分段扫描在VG9000型辉光放电质谱中的应用
梁德华
《云南化工》
CAS
2016
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
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导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
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