X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量

采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10%,其余均小于5%。

便携式X荧光仪测定铅黄铜合金中主元素的研究应用

讨论了便携式能量色散X荧光仪在测量铜合金中主元素的研究应用中[1],便携式能量色散X荧光仪测量铜合金中主量元素的最佳条件。通过实验研究证明,在测量运用中采用0.2 mm纯Al的滤片能够大大改善原级谱低能射线产生的本底,过滤效果良好。当X光管管压和管流分别选择22 k V和8μA时可获得最佳峰背比,得到最佳激发电压和管电流。此外,针对经验系数法和基本参数法各自缺陷,利用经验系数法计算出基本参数法中的荧光相对强度和迭代所需的首次元素含量值后代入到基本参数法的流程中进行迭代。实验结果表明,应用此法进行定量分析Cu、Zn、Pb的平均相对误差1.04%、3.3%、6.22%,可见该方法能得到较好的定量结果。

X射线荧光光谱扩展基本参数法解析不锈钢炉渣成分

针对复杂的不锈钢炉渣成分解析问题,实验采用Li_2B_4O_7-LiBO_2(m∶m=67∶33)为混合熔剂,NH_4NO_3做氧化剂,LiBr溶液(500g/L)做脱模剂,制备玻璃熔片;应用X射线荧光光谱(XRF)分析软件UniQuant扩展基本参数法,建立并校正不锈钢炉渣的背景形状、杂质因子,以谱线灵敏度系数和光谱重叠系数校正光谱干扰和基体效应,对不锈钢渣中可能存在的20余种成分进行解析,实现了不锈钢渣系中CaO、MgO、SiO_2、Al_2O_3、TiO_2、MnO、Fe_2O_3、P_2O_5、SO_3、F、Cr_2O_3、NiO、V_2O_5、BaO共14种成分的定量分析及其他成分的定性半定量分析。对不锈钢工艺炉渣进行制样方法精密度考察,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)为0.15%~11%;对标样JKS11进行精密度测试,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)为0.030%~12%;对不锈钢炉渣标样和不锈钢工艺炉渣试样进行分析,14种主要组分的测定值与认定值或湿法值比对一致性好。

铜冶炼分析X射线荧光仪工作标准样的研制

通过对铜冶炼分析的X射线荧光工作标准样品的制备、化学分析法定值、压片法制样、建立标准曲线、用基本参数法和经验系数法进行校正、最后进行精密度和准确度验证的全部过程。分析数据表明,这套用于铜冶炼控制分析的X射线荧光工作标样在制备和应用上都比较满意。

波长色散X射线荧光分析的新发展

除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中、重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时,对无标样分析的基本参数法目前发展状况也做了介绍。

波长色散X射线荧光分析的新发展

论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析范围;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法(F P法)目前发展状况的介绍。