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DISPERSION OF NANODIAMOND AND ULTRA-FINE POLISHING OF QUARTZ WAFER 被引量:1
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作者 YongweiZhu ZhijingFeng +1 位作者 BaichunWang XianyangXu 《China Particuology》 SCIE EI CAS CSCD 2004年第4期153-156,共4页
Mechanochemical Modification (MCM) of nanodiamond surface with DN-10 was studied in relation to the performance of nanodiamond in polishing quartz wafers. Results show that the modified nanodiamond is more stable in t... Mechanochemical Modification (MCM) of nanodiamond surface with DN-10 was studied in relation to the performance of nanodiamond in polishing quartz wafers. Results show that the modified nanodiamond is more stable in the pH range 8~11. A super smooth surface with an average roughness of 0.214 nm was achieved using a nanodia-mond-based slurry regulated by N-(2-hydroxyethyl)ethylenediamine. It is suggested that the principal ultra-fine polishing mechanism of quartz wafer involves atom-level removal under the synergism of chemical and mechanical actions. 展开更多
关键词 NANODIAMOND DISPERSION mechanochemical modification ultra-fine polishing quartz wafer
原文传递
The Effect of Quartz Window on Bistability of the Silicon Wafer in Lamp-Based Reactor
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作者 Valeriya P. Prigara Aleksandr N. Kupriyanov Vladimir V. Ovcharov 《Journal of Materials Science and Chemical Engineering》 2020年第1期54-65,共12页
The effect of a quartz plate (window) on the silicon wafer temperature is studied in the conditions of the combined thermal transfer in a lamp-based chamber for the rapid thermal treatment (RTP) set up. The chamber fo... The effect of a quartz plate (window) on the silicon wafer temperature is studied in the conditions of the combined thermal transfer in a lamp-based chamber for the rapid thermal treatment (RTP) set up. The chamber for RTP is simulated by a radiative-closed thermal system including the influence of quartz window as a spectral filter of lamp emission and a source of emitted thermal radiation. Energy equations for thermal fluxes involved in the heat input and output from the working wafer and quartz window are solved in spectral approximation. The transfer characteristics that are defined by the temperature dependencies of the silicon wafer and the quartz window on the temperature of the heater are accounted. It is shown that temperature bistability in the silicon wafer initiates an induced bistability into the quartz window that does not reveal bistable behavior because of the linear temperature dependence of its total optical characteristics. A possibility for simulation of the quartz window by spectral restriction of the heater radiation is confirmed. The availability of the weak bistable effect in the mode of zero effective heat exchange coefficient of a non-radiative component of the thermal flux removed from the working wafer has been obtained. 展开更多
关键词 Lamp-Based Rector Silicon wafer quartz WINDOW Temperature and Optical BISTABILITY Induced BISTABILITY Effect
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石英晶片化学机械抛光工艺优化 被引量:2
3
作者 贾玙璠 朱祥龙 +3 位作者 董志刚 康仁科 杨垒 高尚 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2023年第1期159-164,共6页
为同时优化化学机械抛光(CMP)后石英晶片平面度和表面粗糙度,进行化学机械抛光协调控制实验。分析了抛光时间、抛光转速和抛光压力对石英晶片平面度和表面粗糙度的影响,确定了最佳工艺参数。研究结果表明:石英晶片平面度和表面粗糙度都... 为同时优化化学机械抛光(CMP)后石英晶片平面度和表面粗糙度,进行化学机械抛光协调控制实验。分析了抛光时间、抛光转速和抛光压力对石英晶片平面度和表面粗糙度的影响,确定了最佳工艺参数。研究结果表明:石英晶片平面度和表面粗糙度都随抛光时间延长而优化,在150 min时,平面度和表面粗糙度都能达到稳定。抛光时间为150 min、抛光盘转速为50 r/min、抛光压力为53.5 N时,能使晶片同时得到较好的平面度和表面粗糙度,此时平面度为2.03μm,表面粗糙度为0.68 nm。 展开更多
关键词 石英晶片 化学机械抛光(CMP) 表面粗糙度 平面度 工艺优化
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固结磨料研磨石英晶片材料去除率建模与试验研究 被引量:1
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作者 贾玙璠 朱祥龙 +2 位作者 杨垒 康仁科 董志刚 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第16期2362-2371,共10页
针对固结磨料研磨石英晶片材料去除率难以预测的问题,提出一种基于接触力学和广义回归神经网络(GRNN)的石英晶片材料去除率模型。首先根据脆/塑材料去除机理、磨粒块与晶片微观接触简化形式,采用微积分、力平衡原理等方法,建立了理想情... 针对固结磨料研磨石英晶片材料去除率难以预测的问题,提出一种基于接触力学和广义回归神经网络(GRNN)的石英晶片材料去除率模型。首先根据脆/塑材料去除机理、磨粒块与晶片微观接触简化形式,采用微积分、力平衡原理等方法,建立了理想情况下的材料去除率模型。然后采用微单元法,进行了三因素四水平正交试验,并通过GRNN分析研磨液流量、研磨液浓度、研磨盘转速与材料去除率修正系数的映射关系,进一步完善了材料去除率模型。最后为验证材料去除率模型,设定研磨盘转速为20 r/min,研磨液浓度为5 wt.%,研磨液流量为36 ml/min,仿真并测量不同研磨压强以及相对速度下,晶片材料去除率预测值与实际值。结果表明:研磨压强和相对速度的增加使晶片材料去除加快,材料去除率模型预测值与实际值变化趋势相同,模型误差为8.57%。材料去除率模型基本满足固结磨料研磨工艺中石英晶片材料去除率预测需求。 展开更多
关键词 固结磨料研磨 石英晶片 材料去除率 广义回归神经网络
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AT切型石英晶圆抛光工艺对材料去除速率及厚度非均匀性的影响 被引量:1
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作者 万杨 陈庚豪 +2 位作者 栾兴贺 周龙早 吴丰顺 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2023年第3期427-434,共8页
通过双面抛光工艺研究了抛光盘转速、抛光盘压力及抛光垫材质与厚度等对AT切型石英晶圆材料去除速率(MRR)与厚度非均匀性(TNU)的影响。实验结果表明,抛光盘压力越大、转速越高,材料去除速率越高;晶圆厚度非均匀性随抛光盘压力增加先减... 通过双面抛光工艺研究了抛光盘转速、抛光盘压力及抛光垫材质与厚度等对AT切型石英晶圆材料去除速率(MRR)与厚度非均匀性(TNU)的影响。实验结果表明,抛光盘压力越大、转速越高,材料去除速率越高;晶圆厚度非均匀性随抛光盘压力增加先减小后增加,随抛光盘转速增加而增加;杨氏模量越大、厚度越薄的抛光垫在晶圆表面产生的压力分布越均匀,有助于提高抛光均匀性。最后基于上述实验结果对抛光工艺参数进行了优化,优化后晶圆的材料去除速率为0.9μm/h、单片晶圆厚度非均匀性小于1.5‰、表面粗糙度为0.6 nm。该研究结果适用于石英晶圆的批量抛光工艺,对石英晶圆加工企业的抛光工艺优化有较高的参考价值。 展开更多
关键词 石英晶圆 双面抛光 材料去除速率(MRR) 厚度非均匀性(TNU) 有限元分析
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普通晶体振荡器的关键工序研究 被引量:2
6
作者 田永盛 宛琰 《电子产品可靠性与环境试验》 2023年第5期21-26,共6页
普通晶体振荡器(SPXO)是用量最大的石英晶体器件,其关键生产工序控制对于保障其质量与可靠性具有重要的意义。因此,对SPXO的关键工序进行了研究。首先,介绍了SPXO的结构和加工工序;然后,从中找出3个关键工序,即:被银前的清洗工序、点胶... 普通晶体振荡器(SPXO)是用量最大的石英晶体器件,其关键生产工序控制对于保障其质量与可靠性具有重要的意义。因此,对SPXO的关键工序进行了研究。首先,介绍了SPXO的结构和加工工序;然后,从中找出3个关键工序,即:被银前的清洗工序、点胶工序和微调工序;最后,介绍了一些由于关键工序未得到有效控制而导致的失效案例和失效分析过程,以使相关研究者更深刻地了解和掌握这些关键工序,从而有效地提高SPXO的总体质量,降低SPXO的失效率。 展开更多
关键词 普通晶体振荡器 关键工序 失效分析 被银 点胶 微调
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石英晶片镀膜频率监控技术研究 被引量:3
7
作者 赵双琦 刘桂礼 +1 位作者 李东 刘刚 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期437-440,共4页
石英晶片镀膜是石英晶体谐振器生产中的重要工序之一,通过控制镀膜厚度使石英晶片谐振频率达到目标值。传统的镀膜采用时间控制方法,膜层厚度取决于镀源材料蒸发速率和镀膜时间,用该方法石英晶片谐振频率的控制精度较低。为提高石英晶... 石英晶片镀膜是石英晶体谐振器生产中的重要工序之一,通过控制镀膜厚度使石英晶片谐振频率达到目标值。传统的镀膜采用时间控制方法,膜层厚度取决于镀源材料蒸发速率和镀膜时间,用该方法石英晶片谐振频率的控制精度较低。为提高石英晶片的镀膜精度,提出了基于晶体微量天平原理的晶片镀膜过程频率监控方案。重点探讨了镀膜过程中石英晶片和标晶谐振频率变化与镀膜厚度之间的关系,并通过实验给出石英晶片和标晶表面膜层沉积质量的比率关系,设计了监控晶片谐振频率的振荡器电路。实验证明,将研究的石英晶片镀膜监控技术应用于生产实际,可以显著提高镀膜后的石英晶片谐振频率的控制精度,具有较高的实际应用价值。 展开更多
关键词 石英晶片 镀膜 频率监控
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压电式加速度传感器的结构改进与设计 被引量:3
8
作者 叶伟国 沈国伟 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2003年第9期1-2,共2页
介绍了压电式加速度传感器的结构特点与工作原理。通过对传统的压电式加速度传感器结构的深入分析和试验,发现其有一定的局限性,为此对其进行了结构改进的尝试,经实验测试,表明其在性能上有一定的提高。同时对其新的设计结构和发展趋势... 介绍了压电式加速度传感器的结构特点与工作原理。通过对传统的压电式加速度传感器结构的深入分析和试验,发现其有一定的局限性,为此对其进行了结构改进的尝试,经实验测试,表明其在性能上有一定的提高。同时对其新的设计结构和发展趋势进行了技术性的演讲与预测。 展开更多
关键词 压电式加速度传感器 结构改进 石英晶片 ADP 压电效应 设计
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表面结构对集成式石英谐振器性能的影响 被引量:2
9
作者 田文杰 田双 +2 位作者 霍静 崔媛媛 鄂然 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2008年第3期276-278,281,共4页
在研究石英晶体谐振器力敏特性与加力方位角关系及晶体薄片内波的传播特性的基础上,设计制作了基于同一晶体基片上的集成式四电极谐振器。研究了这种结构的谐振器的力敏特性与加力方位、谐振频率稳定性与基片表面和边沿结构的关系。实... 在研究石英晶体谐振器力敏特性与加力方位角关系及晶体薄片内波的传播特性的基础上,设计制作了基于同一晶体基片上的集成式四电极谐振器。研究了这种结构的谐振器的力敏特性与加力方位、谐振频率稳定性与基片表面和边沿结构的关系。实验结果表明,谐振器的力敏特性与加力方位密切相关;对晶体基片表面进行抛光处理,能有效地消除表面缺陷对谐振器振动状态的影响,提高谐振频率的稳定性;对晶体基片边沿进行倒边处理,能缩短谐振波波幅在边沿区衰减的空间距离,抑制了谐振器振动能量沿晶片边沿的散失,使谐振器频率稳定性得到进一步提高。经表面抛光及边沿倒边处理后,谐振器频率波动的平均值分别下降到处理前的42%和30%。 展开更多
关键词 表面结构 集成式石英谐振器 抛光 倒边
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基于OpenCV的石英晶片污垢检测技术研究 被引量:4
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作者 宋文宁 李东 《现代电子技术》 2012年第22期155-157,共3页
污垢检测是石英晶片缺陷检测的重要组成部分。为实现比较理想的污垢检测,采用基于开源计算机视觉库OpenCV的图像处理技术对石英晶片污垢缺陷进行检测。在此通过依次对图像进行平滑去噪、二值化阈值分割、轮廓提取和跟踪等处理,计算出轮... 污垢检测是石英晶片缺陷检测的重要组成部分。为实现比较理想的污垢检测,采用基于开源计算机视觉库OpenCV的图像处理技术对石英晶片污垢缺陷进行检测。在此通过依次对图像进行平滑去噪、二值化阈值分割、轮廓提取和跟踪等处理,计算出轮廓的周长,将有缺陷与无缺陷晶片轮廓进行比较,为晶片污垢检测提供依据。实验结果表明在VisualStudio 2008环境下,利用OpenCV库函数缩短了大量编程时间,提高了工作效率。 展开更多
关键词 OPENCV 石英晶片 轮廓提取 污垢检测
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原子氧环境对石英晶体微量天平性能影响的分析 被引量:1
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作者 院小雪 臧卫国 +1 位作者 易忠 刘向鹏 《航天器环境工程》 2010年第6期690-692,671,共3页
随着高可靠、长寿命航天器的发展,对在轨污染检测的要求也越来越高。石英晶体微量天平是分子污染检测的重要工具,为了分析了解原子氧对石英晶体微量天平的影响,文章用理论分析和试验的方法对石英晶片在1×1020 atom/cm2注量的原子... 随着高可靠、长寿命航天器的发展,对在轨污染检测的要求也越来越高。石英晶体微量天平是分子污染检测的重要工具,为了分析了解原子氧对石英晶体微量天平的影响,文章用理论分析和试验的方法对石英晶片在1×1020 atom/cm2注量的原子氧辐照条件下的性能变化进行了研究。试验证明,石英晶体微量天平在总注量1020 atom/cm2量级的原子氧辐照后,其振荡频率和等效阻容感发生了一定变化,但仍具备污染传感能力和频率输出能力,其功能不受影响。 展开更多
关键词 石英晶片 原子氧 频率
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一体式石英振梁加速度计工程化研究进展 被引量:4
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作者 杨挺 刘平 +2 位作者 杨贵玉 路文一 金小锋 《遥测遥控》 2019年第2期39-45,共7页
一体式石英振梁加速度计是一种高精度谐振式MEMS惯性传感器。针对现有石英振梁加速度计存在的体积大、全温及力学环境适应性不足等问题,提出一种基于三层石英结构的一体式石英振梁加速度计的设计方案。通过突破高精度薄梁腐蚀及晶圆级... 一体式石英振梁加速度计是一种高精度谐振式MEMS惯性传感器。针对现有石英振梁加速度计存在的体积大、全温及力学环境适应性不足等问题,提出一种基于三层石英结构的一体式石英振梁加速度计的设计方案。通过突破高精度薄梁腐蚀及晶圆级键合两项关键技术,成功研制出加速度计样机。经测试,产品全温稳定性优于0.5mg,振动整流误差优于200μg/g^2(@15.68g rms),可以满足中高精度惯性导航应用需求。后续期望通过原位温度补偿及直接键合等技术进一步提升一体式石英振梁加速度计的全温精度及长期稳定性。 展开更多
关键词 石英振梁加速度计 晶圆级键合 全温稳定性 振动整流误差
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ZnO纳米/微米结构传感器对乙醇气敏性研究 被引量:3
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作者 曹培江 彭双娇 +5 位作者 韩舜 柳文军 贾芳 曾玉祥 朱德亮 吕有明 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第4期460-464,共5页
采用化学气相法分别在石英舟内表面和单晶硅衬底上制备了ZnO微米片、纳米线、微米四足体以及微米球4种结构,并制作了相应的气敏传感器。扫描电子显微镜、气敏测试仪等结果显示:合成的ZnO纳米/微米结构尺寸在200 nm^100μm之间,传感器最... 采用化学气相法分别在石英舟内表面和单晶硅衬底上制备了ZnO微米片、纳米线、微米四足体以及微米球4种结构,并制作了相应的气敏传感器。扫描电子显微镜、气敏测试仪等结果显示:合成的ZnO纳米/微米结构尺寸在200 nm^100μm之间,传感器最佳工作电流区间为120~130 mA,其中微米四足体制备的传感器灵敏度高达127,展现出优异的气敏特性。在4种结构中,微米四足体材料内部的VO缺陷含量最高,结合气敏测试与荧光光谱结果,我们认为材料内部的VO缺陷含量是影响材料气敏特性的最重要因素。 展开更多
关键词 ZNO 化学气相法 气敏特性 缺陷含量
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西门子小型PLC在石英晶片自动分选机中的应用 被引量:1
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作者 崔艳艳 张新军 《济源职业技术学院学报》 2011年第2期96-99,共4页
石英晶片自动分选机是在原有的半自动X射线角分类机的基础上,针对晶体的角度分类问题,采用单片机构成的数据采集器、PLC控制系统和上位计算机系统来实现微弱信号的检测、数据处理和各部分执行机构的全自动化操作,本文主要设计并开发了... 石英晶片自动分选机是在原有的半自动X射线角分类机的基础上,针对晶体的角度分类问题,采用单片机构成的数据采集器、PLC控制系统和上位计算机系统来实现微弱信号的检测、数据处理和各部分执行机构的全自动化操作,本文主要设计并开发了石英晶片自动分选系统中的PLC控制子系统,包括自动上料程序、自动下料程序和自动分选程序。 展开更多
关键词 石英晶片 PLC 自动分选
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石英晶片厚度检测仪研究设计
15
作者 杨亭 田世锋 《机电工程技术》 2005年第8期38-40,共3页
本文所研究设计的基于单片机系统的石英晶片厚度检测仪是为生产中测量晶片厚度而设计的,它利用LVDT传感器检测晶片厚度信息,在单片机系统中进行数据处理,利用传感器感应电势与晶片厚度成线性的关系,将厚度信息进行转换显示。其具有结构... 本文所研究设计的基于单片机系统的石英晶片厚度检测仪是为生产中测量晶片厚度而设计的,它利用LVDT传感器检测晶片厚度信息,在单片机系统中进行数据处理,利用传感器感应电势与晶片厚度成线性的关系,将厚度信息进行转换显示。其具有结构简单、操作方便、性能稳定可靠、精确度高等特点,可广泛使用于超薄物件的精确测量,具有很好的应用前景。 展开更多
关键词 石英晶片 差动传感器 单片机 厚度检测仪
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基于有限元方法研究AT切石英晶体谐振器的动态特性 被引量:4
16
作者 李辉 陈向东 赵静 《人工晶体学报》 CSCD 北大核心 2017年第5期782-785,共4页
基于有限元方法研究石英晶体谐振器的谐响应振动特性。通过改变AT切石英晶片尺寸,分析不同尺寸情况下石英晶体各轴向的振动位移分布情况,可了解AT切石英晶体谐振器的厚度剪切振荡模态和寄生振动模态分布情况。仿真结果与实际测试结果对... 基于有限元方法研究石英晶体谐振器的谐响应振动特性。通过改变AT切石英晶片尺寸,分析不同尺寸情况下石英晶体各轴向的振动位移分布情况,可了解AT切石英晶体谐振器的厚度剪切振荡模态和寄生振动模态分布情况。仿真结果与实际测试结果对比,证明了采用这种仿真方法有助于石英晶体谐振器的设计。 展开更多
关键词 石英晶片 有限元方法 厚度剪切振动 寄生振动
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基于图像处理的石英晶体片分选系统 被引量:1
17
作者 邱敏 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2007年第12期66-68,共3页
利用图像处理的方法识别石英晶体片缺陷,进而按照品质实现自动分选。石英晶体片经光学显微镜放大后,经CCD摄像头转换成为计算机图像,其缺陷被量化。按照缺陷特征设置了分类阈值,图像处理软件按照阈值进行分选,并将分选结果传送到控制器... 利用图像处理的方法识别石英晶体片缺陷,进而按照品质实现自动分选。石英晶体片经光学显微镜放大后,经CCD摄像头转换成为计算机图像,其缺陷被量化。按照缺陷特征设置了分类阈值,图像处理软件按照阈值进行分选,并将分选结果传送到控制器,控制分选机构将其放入分类容器中。阐述了系统的组成、工作原理及控制器的部分软件流程,最后给出了石英晶体片分选系统目前达到的整体性能。 展开更多
关键词 石英晶体片 缺陷 图像采集 数字图像处理
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π网络石英晶片自动分选机测控系统设计 被引量:3
18
作者 黄淼兰 李东 +1 位作者 王艳林 刘桂礼 《北京机械工业学院学报》 2004年第4期31-34,共4页
石英晶片自动分选机的设计对提高国内石英晶片测试行业水平具有重要的实用价值。测控系统采用π网络零相位技术,主要由计算机、信号发生器、π网络和控制电路等组成。实验结果表明,系统测试频率范围为1MHz~60MHz,中心频率附近分选一致... 石英晶片自动分选机的设计对提高国内石英晶片测试行业水平具有重要的实用价值。测控系统采用π网络零相位技术,主要由计算机、信号发生器、π网络和控制电路等组成。实验结果表明,系统测试频率范围为1MHz~60MHz,中心频率附近分选一致性高达80%,主要性能指标优于国内普遍采用的振荡器测试系统和阻抗计测试系统,并能有效地测试寄生谐振频率。 展开更多
关键词 Π网络 石英晶片 谐振频率 自动分选 测控系统
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石英晶片测量分选系统的研究与设计 被引量:1
19
作者 罗凌辉 桂卫华 《现代电子技术》 2004年第13期68-70,共3页
阐述了基于 ISA总线接口的测量系统 ,采用 π网络法测量石英晶片的电参数 ,使用直接数字频率合成器( DDS)生成期望的频率扫描信号并激励 π网络的方法 ,获得石英晶片的谐振频率、活力、杂波数等电参数 ;分选系统通过对石英晶片电参数进... 阐述了基于 ISA总线接口的测量系统 ,采用 π网络法测量石英晶片的电参数 ,使用直接数字频率合成器( DDS)生成期望的频率扫描信号并激励 π网络的方法 ,获得石英晶片的谐振频率、活力、杂波数等电参数 ;分选系统通过对石英晶片电参数进行分析 ,由基于 ISA总线的步进电机控制卡控制分档。软件部分利用 V isual C+ + 6.0编写程序 ,由用户界面、数据分析模块、通信模块和数据库模块四部分组成。 展开更多
关键词 石英晶片 ISA总线接口 Π网络 步进电机控制卡 VISUAL C^++6.0
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π网络法测试石英晶片方法及系统设计 被引量:2
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作者 李刚 刘桂礼 +1 位作者 李东 王艳林 《北京机械工业学院学报》 2002年第3期15-18,共4页
石英晶片电参数决定了其产品质量优劣 ,因此在石英晶片生产加工过程中精确测试其电参数尤为重要。符合国际标准的π网络法石英晶片测试系统由单片机、直接数字频率合成器及电压检测单元等组成。系统可测试 1MHz~ 6 0MHz的石英晶片谐振... 石英晶片电参数决定了其产品质量优劣 ,因此在石英晶片生产加工过程中精确测试其电参数尤为重要。符合国际标准的π网络法石英晶片测试系统由单片机、直接数字频率合成器及电压检测单元等组成。系统可测试 1MHz~ 6 0MHz的石英晶片谐振频率 ,具有较高的重复精度 。 展开更多
关键词 Π网络 谐振频率 测试系统 石英晶体谐振器
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