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光线弯曲对激光测量热钢板厚度的影响 被引量:12
1
作者 黄战华 蔡怀宇 +1 位作者 李贺桥 张以谟 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2001年第6期40-43,共4页
以无热源大平面空气壁模型,用传热学理论计算了大平面热钢板附近空气的一维温度分布,从而得到了大平面热钢板附近空气的一维折射率分布。利用光线折射理论,求出了光线的传输路径和像点的偏离量。分析和计算表明:当钢板温度、测量角和测... 以无热源大平面空气壁模型,用传热学理论计算了大平面热钢板附近空气的一维温度分布,从而得到了大平面热钢板附近空气的一维折射率分布。利用光线折射理论,求出了光线的传输路径和像点的偏离量。分析和计算表明:当钢板温度、测量角和测量距离等参数增大时,像点偏离值就随着增大。对于钢板激光测厚系统,采用单表面单光路时,光线弯曲引起的测量误差较大,并且基本不随测量厚度减小而减小。采用完全对称的双面双光路时,左右光路的像点偏离正好抵消,光线弯曲引起的测量总误差很小,而且随测量厚度减小而减小。 展开更多
关键词 光线弯曲 厚度测量 激光测量 热钢板
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椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率 被引量:10
2
作者 马逊 刘祖明 +1 位作者 陈庭金 廖华 《云南师范大学学报(自然科学版)》 2005年第4期24-27,共4页
文章通过对椭偏仪测量原理的分析给出了四区平均消光状态下的计算公式,利用该公式计算在一个周期内的薄膜厚度和折射率结果较好;同时给出了膜厚大于一个周期时的计算方法。
关键词 椭圆偏振测量 薄膜厚度 折射率
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用模拟退火法确定MgF_2薄膜折射率和厚度 被引量:5
3
作者 郭春 李斌成 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第4期858-863,共6页
研究了确定单层MgF2薄膜的物理厚度及其在深紫外/真空紫外波段折射率的方法。首先,利用钼舟热蒸发工艺在B270基底上制备了单层MgF2薄膜。然后,依据MgF2单层膜在不同入射角下的反射光谱,采用模拟退火方法确定了MgF2薄膜在170~260nm波段... 研究了确定单层MgF2薄膜的物理厚度及其在深紫外/真空紫外波段折射率的方法。首先,利用钼舟热蒸发工艺在B270基底上制备了单层MgF2薄膜。然后,依据MgF2单层膜在不同入射角下的反射光谱,采用模拟退火方法确定了MgF2薄膜在170~260nm波段的折射率和物理厚度,并与由椭圆偏振法确定的薄膜参数进行了比较。实验显示,采用模拟退火和椭圆偏振两种方法确定的MgF2薄膜厚度分别为248.5nm和249.5nm,偏差为0.4%;而用上述两种方法在240~260nm波段确定的单层MgF2薄膜的折射率偏差均小于0.003。得到的结果证实了依据不同入射角下的反射光谱,用模拟退火方法确定MgF2薄膜厚度和折射率的可靠性。 展开更多
关键词 薄膜参数测量 折射率测量 膜厚测量 模拟退火算法 MGF2
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InGaAsP/InP外延薄膜折射率与厚度测量
4
作者 刘永智 余般枚 边红 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第7期429-433,共5页
本文报道一种应用波导耦合光栅测量InGaAsP/InP外延薄膜折射率与厚度的方法。该法测量精度高,具有非破坏性与工艺实时性优点。外延薄膜折射率与厚度测量精度分别可达到±2×10^(-3)与±1×10^(-2)μm,这完全满足DFB与DB... 本文报道一种应用波导耦合光栅测量InGaAsP/InP外延薄膜折射率与厚度的方法。该法测量精度高,具有非破坏性与工艺实时性优点。外延薄膜折射率与厚度测量精度分别可达到±2×10^(-3)与±1×10^(-2)μm,这完全满足DFB与DBR等一类半导体激光器以及有源导波光学器件的设计需要。 展开更多
关键词 INGAASP/INP 薄膜 折射率 厚度测量
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牛顿环实验的分析与扩展研究
5
作者 禹大宽 《科技创新导报》 2011年第1期67-68,共2页
通过对牛顿环等厚干涉原理的介绍,分析了牛顿环干涉图样中一些特殊图样的形成,同时,为了扩展牛顿环实验的应用,提出了利用牛顿环装置测量透明介质折射率的扩展实验。
关键词 牛顿环 等厚干涉 折射率测量
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基于光纤激光频率分裂效应的折射率/厚度双参量测量研究 被引量:2
6
作者 陈恺 祝连庆 +2 位作者 刘昭君 鹿利单 庄炜 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第11期27-34,共8页
折射率作为光学系统中应用最广泛的光学参数之一,对系统的光学性能具有极其重要的影响。厚度与折射率所组成的光学长度直接影响双折射器件在光学系统中的时延特性。本文提出一种基于光纤激光频率分裂效应的折射率/厚度双参量测量方法。... 折射率作为光学系统中应用最广泛的光学参数之一,对系统的光学性能具有极其重要的影响。厚度与折射率所组成的光学长度直接影响双折射器件在光学系统中的时延特性。本文提出一种基于光纤激光频率分裂效应的折射率/厚度双参量测量方法。该系统通过对插入激光腔内的双折射器件进行旋转,利用频率分裂效应对不同角度的器件的双折射参数进行测量。基于双折射器件中的折射率椭球,建立相位延迟、折射率、厚度和旋转角度之间的关系,通过拟合计算得到器件的折射率/厚度参数。实验结果表明,通过该系统对双折射元件的厚度测量误差为210 nm,本征折射率进行测量误差为10^(-5),可广泛应用于红外波段的双折射器件的本征折射率/厚度双参量测量。 展开更多
关键词 光纤激光 频率分裂 折射率 厚度 双参数测量
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非接触千分尺的设计及实验验证 被引量:1
7
作者 李梦朝 谢杰 +2 位作者 常相辉 刘其军 樊代和 《大学物理》 北大核心 2017年第12期57-61,共5页
利用大学物理实验室中使用的分光计并结合线阵CCD等常用实验仪器,设计了一个可以同时实现非接触测量玻璃厚度和折射率的实验方案.通过不确定度的分析,给出了方案满足千分尺测量精度的仪器要求.在此基础上,通过实验具体地测量了一平板玻... 利用大学物理实验室中使用的分光计并结合线阵CCD等常用实验仪器,设计了一个可以同时实现非接触测量玻璃厚度和折射率的实验方案.通过不确定度的分析,给出了方案满足千分尺测量精度的仪器要求.在此基础上,通过实验具体地测量了一平板玻璃的厚度和折射率,实验结果证明了设计方案的可行性. 展开更多
关键词 厚度 折射率 非接触测量
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测量透明平行玻璃板折射率及厚度 被引量:3
8
作者 王鑫 曾翘楚 柴钰奇 《物理实验》 2017年第8期51-53,共3页
利用氦氖激光器、2块衰减片、USB型CCD图像传感器,多次测量出入射角α和2束反射平行光间距离L,通过几何光学知识推导计算出透明平行玻璃板折射率及厚度.
关键词 平行玻璃板 折射率 厚度 非接触测量
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基于多光谱数字图像相关的全场厚向应变测量
9
作者 赵华涛 唐新桥 陈振宁 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第11期66-73,共8页
使用多光谱数字图像相关装置测量透明超弹性体的全场厚向应变。通过在透明试样前后表面预制2种荧光散斑,结合辅助棱镜与单个彩色相机的组合装置,在试样单侧实现了4个虚拟相机对厚度变化的同步观测。为了准确计算厚度变化,首先利用基于... 使用多光谱数字图像相关装置测量透明超弹性体的全场厚向应变。通过在透明试样前后表面预制2种荧光散斑,结合辅助棱镜与单个彩色相机的组合装置,在试样单侧实现了4个虚拟相机对厚度变化的同步观测。为了准确计算厚度变化,首先利用基于斯涅尔定律的折射畸变校正与4个虚拟相机的位置关系,重构并统一试样前后表面的形貌坐标;然后,利用逆距离加权插值方法,将任意受力状态下局部坐标系中的前后表面三维离散数据进行插值,生成均匀且对称分布的插值点,建立前后表面点的一一对应关系;最后,逐点计算厚向应变,确定全场厚度变化的分布。所提方法成功用于上转换荧光响应二硫交联聚氨酯(DSPU)弹性体的大变形拉伸实验。 展开更多
关键词 测量 超弹性体透明材料 全场厚向应变 荧光散斑 折射校正 多光谱数字图像相关
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Simultaneous quality improvement of the roughness and refractive index of SiC thin films
10
作者 Gh.Sareminia H.Simchi +1 位作者 A.Ostovari L.Lavasanpour 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2012年第6期6-9,共4页
We deposite silicon carbide thin layers on cleaned Si(100) substrates using the plasma enhanced chemical vapor deposition method,and show that the RFTIR spectrum is periodic in the near and medium infrared ranges. I... We deposite silicon carbide thin layers on cleaned Si(100) substrates using the plasma enhanced chemical vapor deposition method,and show that the RFTIR spectrum is periodic in the near and medium infrared ranges. It is shown that both the deposition rate and the uniformity of the thin films are decreased by increasing the substrate temperature,and that the refractive index is increased by increasing the substrate temperature.This shows that there is a trade-off between the quality improvement of the uniformity and refractive index. 展开更多
关键词 SiC PECVD RFTIR thickness measurement refractive index
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斯托克斯椭偏仪仪器矩阵在位定标方法 被引量:4
11
作者 张勇 黄佐华 +2 位作者 赵振堂 曾宪佑 周进朝 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期89-93,共5页
斯托克斯椭偏仪可以快速测量薄膜材料的光学参数,其仪器矩阵的精确度直接影响系统对薄膜反射光线斯托克斯参量的测量,间接限制了薄膜参数的测量精度。对线偏振光与标准薄膜片产生不同偏振态的机制进行理论推导,并根据四点定标法原理,利... 斯托克斯椭偏仪可以快速测量薄膜材料的光学参数,其仪器矩阵的精确度直接影响系统对薄膜反射光线斯托克斯参量的测量,间接限制了薄膜参数的测量精度。对线偏振光与标准薄膜片产生不同偏振态的机制进行理论推导,并根据四点定标法原理,利用线偏振光与标准薄膜片组合的在位定标方法实现对斯托克斯椭偏仪仪器矩阵的精确测量,有效避免了传统定标方法中光学元件方位角及其不完美产生的误差,进而提高了薄膜光学参数的测量精度。实验表明,采用在位定标方法,薄膜反射光线的斯托克斯参量的测量精度达0.6%,薄膜厚度及折射率的测量偏差分别小于0.2nm及0.003。 展开更多
关键词 测量 斯托克斯椭偏仪 在位定标 仪器矩阵 薄膜厚度 折射率
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光波导技术同步测量棱镜及波导薄膜参数 被引量:3
12
作者 周进朝 黄佐华 +1 位作者 曾宪佑 张勇 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第12期153-157,共5页
依据全反射理论和棱镜耦合原理,实现了对棱镜折射率及波导薄膜材料折射率和厚度的同步测量。使用高准直半导体激光器激光入射到棱镜内部与波导膜的分界面上,逐步旋转棱镜或改变棱镜的入射角,得到棱镜耦合M线,曲线前面几组的波谷为波导... 依据全反射理论和棱镜耦合原理,实现了对棱镜折射率及波导薄膜材料折射率和厚度的同步测量。使用高准直半导体激光器激光入射到棱镜内部与波导膜的分界面上,逐步旋转棱镜或改变棱镜的入射角,得到棱镜耦合M线,曲线前面几组的波谷为波导模激发,在M线左侧收尾处有一个不完整波峰,其反射光强随入射角迅速衰减,为全反射时的临界点,由此可实现棱镜及波导薄膜参数的同步测量;用此法测量了棱镜耦合一体化平面波导棱镜的折射率和聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)聚合物波导薄膜的折射率和厚度。测量棱镜折射率精度为±1.9×10-4,波导薄膜折射率和厚度的精度分别为±6.2×10-4μm和±1.6×10-2μm。 展开更多
关键词 测量 平面波导 折射率 棱镜耦合 全反射 M线 厚度
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SMILE术后眼前节变化对眼压测量值的影响 被引量:1
13
作者 宋爽 梁涛 +3 位作者 冷林 刘胜男 姜仲泰 刘美光 《中华眼视光学与视觉科学杂志》 CAS CSCD 2022年第7期522-529,共8页
目的:探讨飞秒激光小切口角膜基质透镜取出术(SMILE)后眼压(IOP)检测的影响因素,分析眼前节参数变化与IOP的关系。方法:前瞻性临床研究。收集2020年6—11月在青岛大学附属医院眼科接受SMILE手术患者141例(258眼)的资料。根据剩余基质床... 目的:探讨飞秒激光小切口角膜基质透镜取出术(SMILE)后眼压(IOP)检测的影响因素,分析眼前节参数变化与IOP的关系。方法:前瞻性临床研究。收集2020年6—11月在青岛大学附属医院眼科接受SMILE手术患者141例(258眼)的资料。根据剩余基质床厚度(RST)分为3组,分别为A组(280μm360μm)。采用Pentacam测量眼前节形态参数,非接触眼压计(NCT)测量IOP,Corvis ST测量角膜生物力学参数。观察患者术前,术后1、3、6个月不同时间点参数的变化。数据采用方差分析、Pearson线性相关、配对t检验进行分析。结果:除前房角(ACA)外,各组术后CCT、中央前房深度(ACD)、前房容积(ACV)等眼前节形态学参数均较术前降低,差异均有统计学意义(P<0.05);3组术后6个月与术前相比,第一压平时间(A1T)、角膜硬度参数(SP-A1)降低,变形幅度(DA)、峰距(PD)、水平方向Ambrosio相关厚度(ARTh)增加;组间比较A组中△A1T、第一压平速率的变化量(△A1V)、△DA及△PD高于B、C组,差异均有统计学意义(P<0.05);各组△IOP与|SE|、术前IOP、△CCT、△ACD、△ACV呈正相关关系(P<0.05),与△ACA无相关性(P>0.05);A组中△ACD、△ACV与△A1T、△SP-A1、△ARTh呈正相关,与△DA呈负相关(P<0.05);3组分别建立△IOP的线性回归方程,进而得出术后IOP的校正方程:A组IOP术后校正值=IOP术后测量值+0.572×IOP术前+15.759×△ACD-2.401(调整后R2=0.55,P<0.001);B组IOP术后校正值=IOP术后测量值+0.471×IOP术前+0.54×SE-1.099×△CV-3.551(调整后R2=0.50,P<0.001);C组IOP术后校正值=IOP术后测量值+0.553×IOP术前+0.304×SE-4.013(调整后R2=0.38,P<0.001)。结论:SMILE术后ACD、ACV变化与△IOP呈正相关关系,RST在280~320μm范围时,IOP的测量需要考虑前房参数变化的影响。 展开更多
关键词 角膜屈光手术 眼压测量 剩余基质床厚度 眼前节参数 角膜生物力学
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干涉法测量光学材料非线性折射率的方法研究
14
作者 贺小凤 段存丽 姜旭 《光学与光电技术》 2013年第1期67-70,共4页
提出了一种基于楔形平板等厚干涉原理测量光学玻璃非线性折射率变化的方法。在理论分析的基础上,建立了变形的等厚干涉条纹变化Δe/e与待测玻璃平片(K9玻璃)折射率变化量Δnb之间的数学模型;在选取一定的实验条件下,获得等厚干涉实验测... 提出了一种基于楔形平板等厚干涉原理测量光学玻璃非线性折射率变化的方法。在理论分析的基础上,建立了变形的等厚干涉条纹变化Δe/e与待测玻璃平片(K9玻璃)折射率变化量Δnb之间的数学模型;在选取一定的实验条件下,获得等厚干涉实验测量干涉图样,并利用MATLAB对实验所得的干涉图进行图像数据处理分析计算,恢复出非线性变化光学玻璃材料的折射率变化量Δnb,该方法的测量精度可达10-6。 展开更多
关键词 光学测量 非线性折射率 K9玻璃 等厚干涉 MATLAB图像处理
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