基于噪声奇异性的光耦器件爆裂噪声检测新法

为了准确客观地检测出爆裂噪声的存在,提出了基于噪声信号奇异性的光耦器件爆裂噪声检测方法。通过对光耦器件噪声样本的计算发现,含有大量爆裂噪声的样本,其平均Hlder指数接近于0,反映到局部奇异性指数分布直方图中,其最可几率所对应的h值也在0值附近。而不含爆裂噪声的样本平均Hlder指数则在-0·3附近。实验证实了奇异性检测方法可以明晰地区分良品组与次品组光耦器件。噪声奇异性参数可以作为爆裂噪声是否存在的客观依据。