1 100 k V滤波器用柱式断路器作为电力制造行业推出的新型高电压设备,是特高压电网中重要的控制和保护设备,其开合过程中产生的电弧会对灭弧室中的触头及喷口造成烧蚀,随着开合次数增加烧蚀程度会不断加重,造成断路器开断能力下降,因此...1 100 k V滤波器用柱式断路器作为电力制造行业推出的新型高电压设备,是特高压电网中重要的控制和保护设备,其开合过程中产生的电弧会对灭弧室中的触头及喷口造成烧蚀,随着开合次数增加烧蚀程度会不断加重,造成断路器开断能力下降,因此需要找到有效的方法,来评估频繁开合操作对灭弧室运行状态造成的影响。文中通过对某型1 100 k V滤波器用柱式断路器开展C2级试验,对试验后设备内部SF_6分解产物进行检测、化学机理分析及设备解体检查,提出了通过检测CF_4体积分数来评估1 100 k V滤波器用柱式断路器开合容性电流操作对灭弧室工况造成影响的方法,该方法可为其他SF_6断路器的维护检修提供参考。展开更多
Square ZnO nano-columns have been manufactured by molecular beam epitaxy on p-type Si (100) substrate. The morphology and the evolution sequences after thermal annealing were investigated by in-situ scanning tunneling...Square ZnO nano-columns have been manufactured by molecular beam epitaxy on p-type Si (100) substrate. The morphology and the evolution sequences after thermal annealing were investigated by in-situ scanning tunneling microscopy. We associated the morphology and microstructure evolution with the cubic Si (100) substrate, large lattice mismatching, the coexistence of wurtzite and zincblende phases of ZnO, and the thermal effect.展开更多
文摘1 100 k V滤波器用柱式断路器作为电力制造行业推出的新型高电压设备,是特高压电网中重要的控制和保护设备,其开合过程中产生的电弧会对灭弧室中的触头及喷口造成烧蚀,随着开合次数增加烧蚀程度会不断加重,造成断路器开断能力下降,因此需要找到有效的方法,来评估频繁开合操作对灭弧室运行状态造成的影响。文中通过对某型1 100 k V滤波器用柱式断路器开展C2级试验,对试验后设备内部SF_6分解产物进行检测、化学机理分析及设备解体检查,提出了通过检测CF_4体积分数来评估1 100 k V滤波器用柱式断路器开合容性电流操作对灭弧室工况造成影响的方法,该方法可为其他SF_6断路器的维护检修提供参考。
基金supported by the Natural Science Foundation of Fujian Province (Grant No. 2009J01267)
文摘Square ZnO nano-columns have been manufactured by molecular beam epitaxy on p-type Si (100) substrate. The morphology and the evolution sequences after thermal annealing were investigated by in-situ scanning tunneling microscopy. We associated the morphology and microstructure evolution with the cubic Si (100) substrate, large lattice mismatching, the coexistence of wurtzite and zincblende phases of ZnO, and the thermal effect.
