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Influences of Ag and Au Additions on Structure and Tensile Strength of Sn-5Sb Lead Free Solder Alloy 被引量:2
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作者 A.A.El-Daly Y.Swilem A.E.Hammad 《Journal of Materials Science & Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2008年第6期921-925,共5页
It is important, for electronic application, to decrease the melting point of Sn-5Sb solder alloy because it is relatively high as compared with the most popular eutectic Pb-Sn solder alloy. Adding Au or Ag can decrea... It is important, for electronic application, to decrease the melting point of Sn-5Sb solder alloy because it is relatively high as compared with the most popular eutectic Pb-Sn solder alloy. Adding Au or Ag can decrease the onset melting temperature (233℃) of this alloy to 203,5℃ and 216℃, respectively. The results indicate that the Sn-5Sb-i.5Au alloy has very good ultimate tensile strength (UTS), ductility, and fusion heat, which are better than both those of the Sn-5Sb-3.SAg and Sn-5Sb alloys. The formation of intermetallic compounds (IMCs) AuSn4 and Ag3Sn enhanced the SbSn precipitates in the solidification microstructure microstructure stability, while retained the formation of thus significantly improved the strength and ductility For all alloys, both UTS and yield stress (σy) increase with increasing strain rate and decrease with increasing temperature in tensile tests, but changes of ductility are generally small with inconsistent trends. 展开更多
关键词 Sn-Sb solder Lead-free solder Melting temperature Tensile strength
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Interfacial intermetallic compound growth and shear strength of low-silver SnAgCuBiNi/Cu lead-free solder joints 被引量:1
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作者 Guo-qiang Wei Lei Wang +1 位作者 Xin-qiang Peng Ming-yang Xue 《International Journal of Minerals,Metallurgy and Materials》 SCIE EI CAS CSCD 2013年第9期883-889,共7页
The growth rule of the interfacial intermetallic compound (IMC) and the degradation of shear strength of Sn-0.SAg-0.5Cu-2.0Bi-0.05Ni (SACBN)/Cu solder joints were investigated in comparison with Sn-3.0Ag-0.5Cu (S... The growth rule of the interfacial intermetallic compound (IMC) and the degradation of shear strength of Sn-0.SAg-0.5Cu-2.0Bi-0.05Ni (SACBN)/Cu solder joints were investigated in comparison with Sn-3.0Ag-0.5Cu (SAC305)/ Cu solder joints aging at 373, 403, and 438 K. The results show that (Cul-x,Nix)6Sn5 phase forms between the SACBN solder and Cu substrate during soldering. The interracial IMC thickens constantly with the aging time increasing, and the higher the aging temperature, the faster the IMC layer grows. Compared with the SAC305/Cu couple, the SACBN/Cu couple exhibits a lower layer growth coefficient. The activation energies of IMC growth for SACBN/Cu and SAC305/Cu couples are 111.70 and 82.35 kJ/mol, respectively. In general, the shear strength of aged solder joints declines continuously. However, SACBN/Cu solder joints exhibit a better shear strength than SAC305/Cu solder joints. 展开更多
关键词 soldering alloys soldered joints AGING INTERMETALLICS activation energy shear strength
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Influence of electroless Sn/Bi on Sn/Pb soldered joint strength
3
作者 禹胜林 朱小军 严伟 《中国有色金属学会会刊:英文版》 CSCD 2005年第S3期349-352,共4页
The solder joint strength of Pb/Sn soldering aluminum with electroless layer Sn/Bi and Cu was studied. The results show that the joint shear strength of electroless Sn/Bi on aluminum surface is lower than that of Cu. ... The solder joint strength of Pb/Sn soldering aluminum with electroless layer Sn/Bi and Cu was studied. The results show that the joint shear strength of electroless Sn/Bi on aluminum surface is lower than that of Cu. A Pb-riched region with porosity is formed in region of soldering fillet with electroless Sn/Bi. Both the electroless Sn/Bi layer and Pb-riched layer become thicker, which are the reasons why the shear strength of the solder joint with electroless Sn/Bi on aluminum surface is lower than that of electroless Cu, and the higher the thickness of the electroless Sn/Bi layer is, the lower the shear strength of solder joint is. 展开更多
关键词 ELECTROLESS LAYER soldered JOINT Sn/Pb Sn/Bi SHEAR strength
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Bond Strength of the Sn-Ti-Ⅹ Ternary Active Solders on Sialon Ceramic
4
作者 Aiping XIAN Zhongyao SI Institute of Metal Research,Academia Sinica,Shenyang,110015,China 《Journal of Materials Science & Technology》 SCIE EI CAS CSCD 1993年第5期343-349,共7页
The bond strength of the Sn based ternary active solders,Sn-5Ti with various contents of Ag,Cu,In, Ni or AI on sialon ceramic was investigated by the ceramic/ceramic joint joining.The bond strength of Sn-STi (about 80... The bond strength of the Sn based ternary active solders,Sn-5Ti with various contents of Ag,Cu,In, Ni or AI on sialon ceramic was investigated by the ceramic/ceramic joint joining.The bond strength of Sn-STi (about 80 MPa) may increase to 90-100 MPa by small addition of Ag or Cu (about 5-10%).A little Ni (about 1-3%) in the solder is slightly beneficial,but too more Ni (more than 5%) is harmful.Small addition of In is trivial,but too more In is detrimental.On the other hand,small addi- tion of AI in the active solder decreases greatly the bond strength of the solder,therefore it is very harmful.In discussion,three suggestions for selection of the third element to increase the bond strength of the soft solders on ceramic,i.e.with a high surface energy,benefiting to wetting on ce- ramic and strengthening the soft solder itself,have been made. 展开更多
关键词 bond strength Sn-Ti-X ternary solders ceramic/ceramic joint
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四元共聚型聚酰亚胺的合成及应用
5
作者 胡彬扬 陆佳莹 +2 位作者 张雪平 李桢林 范和平 《塑料工业》 CAS CSCD 北大核心 2024年第6期159-163,共5页
在聚酰亚胺(PI)中引入旋转能垒较低的醚键或酮键可以增加分子链的柔性,从而有效地提高PI的黏附力。本文将含柔性醚键的4,4′-二氨基二苯醚(ODA)、含柔性酮键的3,3′,4,4′-二苯甲酮四甲酸二酐(BTDA)、具有非共面扭曲结构的联苯四甲酸二... 在聚酰亚胺(PI)中引入旋转能垒较低的醚键或酮键可以增加分子链的柔性,从而有效地提高PI的黏附力。本文将含柔性醚键的4,4′-二氨基二苯醚(ODA)、含柔性酮键的3,3′,4,4′-二苯甲酮四甲酸二酐(BTDA)、具有非共面扭曲结构的联苯四甲酸二酐(BPDA)和1,4-二氨基苯(PPDA)原位缩聚,通过两步法制备了一种四元共聚型PI膜。结果表明,该共聚型PI膜的玻璃化转变温度为237.1℃,10%热分解温度为538.1℃,拉伸强度为139.64 MPa,断裂伸长率为22.29%,弹性模量为3.12 GPa,将0.5%(相对于单体总质量的百分比)的滑石粉填料在单体聚合之前加入N,N-二甲基乙酰胺(DMAc)溶液内,酰亚胺化后制备的PI膜对铜箔的剥离强度由0.62 N/mm提高到了0.94 N/mm。 展开更多
关键词 聚酰亚胺 聚酰胺酸 醚键 酮键 剥离强度 耐锡焊性 挠性覆铜板
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回流焊温度对SnBi-SAC/ENIG焊点剪切强度的影响
6
作者 陈慧峰 姜梦夏 +2 位作者 邱俊 曹荣幸 薛玉雄 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2024年第2期246-252,共7页
针对有机电路板在回流焊接时的热变形问题,采用机械混合方法制备SnBi-SAC/ENIG复合焊点,研究回流焊温度对焊点微观组织和力学性能的影响。结果表明复合焊点在180℃下的剪切强度约为25 MPa,可满足芯片与基板预连接强度需求。随着回流焊... 针对有机电路板在回流焊接时的热变形问题,采用机械混合方法制备SnBi-SAC/ENIG复合焊点,研究回流焊温度对焊点微观组织和力学性能的影响。结果表明复合焊点在180℃下的剪切强度约为25 MPa,可满足芯片与基板预连接强度需求。随着回流焊温度的升高,复合焊点界面微观组织细化,存在弥散分布的小尺寸富Bi相与Ag_(3)Sn相。在250℃回流焊时,复合焊点强度提升至约55 MPa。该材料可适用于低温预连接-结构加固-高温回流的封装工艺,对抑制封装结构热变形具有显著效果。 展开更多
关键词 回流焊 微观组织 剪切强度 复合焊点
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AgCuInTi钎料对YG16硬质合金/钢接头强度的影响研究
7
作者 张素慧 王世清 +2 位作者 戴勇波 温国栋 骆晓伟 《热加工工艺》 北大核心 2024年第3期39-42,共4页
采用AgCuInTi钎料对YG16硬质合金和碳钢进行真空钎焊试验。通过分析不同钎焊温度下的接头剪切强度和微观形貌,得到了较好的钎焊温度。并在此基础上提升钎料中的Cu、In含量,得到了不同钎料配比的接头强度。同时利用扫描电镜对接头界面处... 采用AgCuInTi钎料对YG16硬质合金和碳钢进行真空钎焊试验。通过分析不同钎焊温度下的接头剪切强度和微观形貌,得到了较好的钎焊温度。并在此基础上提升钎料中的Cu、In含量,得到了不同钎料配比的接头强度。同时利用扫描电镜对接头界面处元素的扩散情况进行能谱分析。结果表明,AgCuInTi钎料在780℃钎焊较好。随着Cu、In元素的增加,钎焊接头的剪切强度增大。钎缝中In元素倾向于固溶进Ag金属中形成Ag基固溶体,还形成了Cu基固溶体,产生了固溶强化效应。钎料/钢界面处存在大量的元素扩散,比钎料/硬质合金界面处扩散更容易。 展开更多
关键词 AgCuInTi钎料 YG16硬质合金 真空钎焊 剪切强度
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倒装LED微小焊点空洞对其性能的影响
8
作者 汤健生 王善林 卢鹏 《照明工程学报》 2024年第3期115-122,共8页
利用SnCu0.7锡膏回流工艺制备倒装LED,针对于焊点微小化引起的焊接缺陷。采用X-ray检测分选出不同空洞率焊点,系统研究了空洞率对于接头键合强度的影响规律及回流焊后接头断口特征,通过有限元仿真;探究空洞率对于芯片散热能力影响特性,... 利用SnCu0.7锡膏回流工艺制备倒装LED,针对于焊点微小化引起的焊接缺陷。采用X-ray检测分选出不同空洞率焊点,系统研究了空洞率对于接头键合强度的影响规律及回流焊后接头断口特征,通过有限元仿真;探究空洞率对于芯片散热能力影响特性,同时,本文设计了结温测量实验,验证了仿真结果的准确性。最后通过高温老化实验,深入探究不同空洞率LED样品光通量及光电转换效率变化趋势。结果表明:焊点接头键合强度不完全取决于空洞的数量,空洞的大小及其位置对接头键合强度也会有一定的影响,其次随着空洞率逐渐增大,焊点的断裂模式逐渐由韧性断裂转变为脆韧性混合断裂。随着空洞率增大,LED在正常工作下的芯片结温基本呈线性增长趋势,并且空洞率越大,芯片表现出的散热能力越差,当空洞率约为5%,芯片结温为41.472℃,当空洞率为30%时,芯片结温达到45.969℃。随着空洞率增加,光通量与光电转换效率在高温老化开始阶段呈上升趋势,在500 h后光通量开始逐渐下降,在1500 h节点5%空洞率样品光通量维持率为93.22%比30%空洞率样品的82.37%高10.85%,5%空洞率样品光效为42.5%比30%空洞率样品的30.5%高12%。 展开更多
关键词 LED倒装焊点 剪切强度 热学仿真分析 光电性能
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Cu核微焊点液-固界面反应及剪切行为研究
9
作者 钱帅丞 陈湜 +1 位作者 乔媛媛 赵宁 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2024年第3期367-373,共7页
相较于传统Sn基焊点,Cu核焊点具备更好的导热性、导电性及力学性能。为揭示尺寸效应对Cu核焊点界面反应及剪切强度的影响,制备了不同Sn镀层厚度的Cu核焊点(Cu@Ni-Sn/Cu)。观察回流不同时间后Cu核微焊点横截面微观组织,研究了Cu核微焊点... 相较于传统Sn基焊点,Cu核焊点具备更好的导热性、导电性及力学性能。为揭示尺寸效应对Cu核焊点界面反应及剪切强度的影响,制备了不同Sn镀层厚度的Cu核焊点(Cu@Ni-Sn/Cu)。观察回流不同时间后Cu核微焊点横截面微观组织,研究了Cu核微焊点在尺寸效应下的液-固界面反应。之后对Cu核微焊点进行剪切测试,结合断口形貌,分析断裂机理。界面反应结果表明:Cu@Ni-Sn/Cu焊点在250℃回流时,Sn/Ni界面生成Ni含量较高的针状(Cu,Ni)_(6)Sn_(5)IMC,Sn/Cu界面生成Ni含量较低的层状(Cu,Ni)_(6)Sn_(5)IMC。剪切测试结果表明:随着Sn镀层厚度增加,Cu@Ni-Sn/Cu焊点的剪切强度先增大后减小。基于Sn镀层厚度对界面(Cu,Ni)_(6)Sn_(5)IMC层体积的直接影响,Sn层厚度的增加提升了焊点剪切强度。然而Cu@Ni-Sn(60μm)/Cu焊点中Cu核位置的偏移,造成剪切强度略有降低。 展开更多
关键词 电子封装 Cu核焊球 液-固界面反应 金属间化合物 剪切强度
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Properties analysis of a new type of solder paste SACBN07 被引量:3
10
作者 石林 孙凤莲 +1 位作者 刘洋 张洪武 《China Welding》 EI CAS 2017年第2期11-17,共7页
In this work, the wettability, aging and shear properties of a new type of lead-free solder paste Sn-01Ag-Q5Cu + BiNi (SACBNQ7) was investigated by conducting a series of comparison experiments with SAC305 and SAC... In this work, the wettability, aging and shear properties of a new type of lead-free solder paste Sn-01Ag-Q5Cu + BiNi (SACBNQ7) was investigated by conducting a series of comparison experiments with SAC305 and SAC0307 solder paste. The results show that wettability of SACBNQ1 is almost equal to SAC3Q5,and better than that of SACQ3Q1 solder paste. The thickness of intermetallic compound (IMC) layer in SACBNQl/Cu is lower than that o f other two types o f solder joint after aging. And Cu3Sn layer of SACBNQl/Cu is thinner than that of SAC3Q5 and SAC0307. In addition, the SACBNQ7 solder joints perform the best shear strength among these three types of solder pastes. 展开更多
关键词 solder paste WETTABILITY thermal aging intermetallic compound shear strength
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Sn-Cu-Au低温圆片键合强度偏低原因分析
11
作者 胡立业 何洪涛 杨志 《电子工艺技术》 2023年第5期46-50,共5页
分析了某MEMS器件Sn-Cu-Au低温圆片键合强度偏低的原因,发现该问题主要由“金脆”现象引起。结合实践经验和相关文献,总结了“金脆”现象发生的一般规律,制定了一个可以避免该现象发生的工艺方案,并开展了针对性的验证试验。试验结果表... 分析了某MEMS器件Sn-Cu-Au低温圆片键合强度偏低的原因,发现该问题主要由“金脆”现象引起。结合实践经验和相关文献,总结了“金脆”现象发生的一般规律,制定了一个可以避免该现象发生的工艺方案,并开展了针对性的验证试验。试验结果表明,通过优化键合焊料系统的组分配比可以避免“金脆”现象的发生,同时也证实了这一措施是可行有效的。 展开更多
关键词 Sn-Cu-Au低温圆片 键合 金脆 金属间化合物 锡基焊料 键合强度 剪切强度 剪切力
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连接温度对CaO-Al_(2)O_(3)-MgO-SiO_(2)-TiO_(2)玻璃钎料连接SiC陶瓷接头微观结构和性能的影响
12
作者 吴利翔 龙军 +7 位作者 薛佳祥 任啟森 廖业宏 翟剑晗 刘洋 詹创添 郭伟明 林华泰 《机械工程材料》 CAS CSCD 北大核心 2023年第9期52-56,共5页
采用新型玻璃钎料CaO-Al_(2)O_(3)-MgO-SiO_(2)-TiO_(2)(CAMST)连接无压烧结SiC陶瓷,研究了连接温度(1 300~1 450℃)对SiC陶瓷接头微观结构和力学性能的影响。结果表明:CAMST玻璃钎料在1 350~1 450℃下可实现SiC陶瓷的有效连接。当连接... 采用新型玻璃钎料CaO-Al_(2)O_(3)-MgO-SiO_(2)-TiO_(2)(CAMST)连接无压烧结SiC陶瓷,研究了连接温度(1 300~1 450℃)对SiC陶瓷接头微观结构和力学性能的影响。结果表明:CAMST玻璃钎料在1 350~1 450℃下可实现SiC陶瓷的有效连接。当连接温度为1 350℃时,焊缝厚度约为36μm,母材与焊缝界面存在较多孔洞,接头剪切强度为(21.4±2.7) MPa;当连接温度为1 400℃时,焊缝厚度为3μm,母材与焊缝结合良好,接头剪切强度为(47.6±6.2) MPa;当连接温度升高至1 450℃时,焊缝厚度约为50μm,母材与焊缝结合良好,但焊缝中存在裂纹缺陷,接头剪切强度为(20.9±3.9) MPa。连接温度对焊缝硬度无明显影响。 展开更多
关键词 SIC陶瓷 玻璃钎料 连接温度 剪切强度 微观结构 硬度
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Ni含量对In-48Sn钎料焊点显微组织和剪切性能的影响
13
作者 吴皓东 杨莉 +1 位作者 高慧明 姜伟 《焊接》 北大核心 2023年第12期1-5,共5页
研究了Ni含量对In-48Sn钎料焊点的显微组织与剪切性能的影响。结果表明,Ni颗粒可抑制界面IMC的生长,细化焊缝组织,随着Ni含量的增加,界面IMC的厚度由4.01μm逐渐减小到2.83μm,In48Sn-45Ni复合钎料焊点组织最为细小;Ni颗粒可提高In-48S... 研究了Ni含量对In-48Sn钎料焊点的显微组织与剪切性能的影响。结果表明,Ni颗粒可抑制界面IMC的生长,细化焊缝组织,随着Ni含量的增加,界面IMC的厚度由4.01μm逐渐减小到2.83μm,In48Sn-45Ni复合钎料焊点组织最为细小;Ni颗粒可提高In-48Sn钎料焊点的抗剪强度,复合钎料焊点的抗剪强度随Ni含量的增加呈先上升后下降的趋势。当Ni的质量分数为45%时,由于Ni颗粒对位错的阻碍、对组织的细化并且界面IMC达到合适厚度,抗剪强度达到峰值9.76 MPa。 展开更多
关键词 In-48Sn钎料 Ni颗粒 显微组织 抗剪强度
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钢化真空玻璃封接工艺及封接接头性能研究
14
作者 任鹏凯 徐冬霞 +2 位作者 徐深深 郑越 张红霞 《兵器材料科学与工程》 CAS CSCD 北大核心 2023年第4期58-63,共6页
用自主研发的Sn-0.3Ag-0.7Cu-0.6Ga-0.8Sb低Ag无铅焊料对覆Ag玻璃基板进行真空封接。封接温度为270、280、290、300℃,保温时间为15、20、25、30 min。通过剪切强度测试、气密性测试、扫描电镜观察及EDS能谱分析对钢化真空玻璃封接接头... 用自主研发的Sn-0.3Ag-0.7Cu-0.6Ga-0.8Sb低Ag无铅焊料对覆Ag玻璃基板进行真空封接。封接温度为270、280、290、300℃,保温时间为15、20、25、30 min。通过剪切强度测试、气密性测试、扫描电镜观察及EDS能谱分析对钢化真空玻璃封接接头的性能与组织进行分析。结果表明:封接接头依靠焊料合金中的Sn与Ag层中的Ag相互扩散形成冶金结合。封接接头剪切强度随封接温度上升、保温时间延长先增后降,封接温度为290℃、保温20 min时,接头剪切强度最高,为14.01 MPa,此时接头内部的IMC层组织厚度适中,分布均匀,接头断裂位置位于Ag层与玻璃结合部位,封接接头气密性在该封接工艺下达到最佳,为1×10^(-9)Pa·m^(3)/s。 展开更多
关键词 钢化真空玻璃 低Ag无铅焊料 真空钎焊 剪切强度 气密性
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用于功率器件封装的新型Cu@Sn@Ag焊片性能
15
作者 王天文 高卫民 +1 位作者 徐菊 徐红艳 《半导体技术》 CAS 北大核心 2023年第3期240-246,254,共8页
提出了一种用于焊接半导体芯片的新型焊接材料Cu@Sn@Ag焊片。对比分析了Cu@Sn@Ag焊片和商用PbSn5Ag2.5焊片焊层的孔隙率和力学性能,采用这两种焊片封装了110 A商用Si器件并对其进行了电学、热学性能和功率循环可靠性对比。结果表明:优... 提出了一种用于焊接半导体芯片的新型焊接材料Cu@Sn@Ag焊片。对比分析了Cu@Sn@Ag焊片和商用PbSn5Ag2.5焊片焊层的孔隙率和力学性能,采用这两种焊片封装了110 A商用Si器件并对其进行了电学、热学性能和功率循环可靠性对比。结果表明:优化后的Cu@Sn@Ag焊片孔隙率小于4%,焊层剪切强度平均值约为35 MPa;相应器件的最小热阻为0.18 K/W,且经过150000次的有源功率循环(温差为60℃)后正向压降增长率基本小于2%,Cu@Sn@Ag焊片的性能和器件功率循环可靠性高于商用PbSn5Ag2.5焊片。基于瞬态液相扩散焊接(TLPS)的Cu@Sn@Ag焊片可以实现高铅焊片的无铅化替代,是一种具有良好应用前景的耐高温芯片焊接材料。 展开更多
关键词 Cu@Sn@Ag焊片 瞬态液相扩散焊接(TLPS) 功率器件 剪切强度 功率循环
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银纳米立方焊膏制备及其焊接性能研究
16
作者 梁志杰 周国云 +2 位作者 何为 张仁军 艾克华 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2023年第5期625-630,共6页
纳米立方银由于表面原子比例高,且具有自组装的特性,颗粒之间可以紧密排列形成超晶格结构,相比较传统的球状银颗粒,在烧结工艺中可以形成高致密化的烧结接头,表现出更好的性能。因此为了探索纳米立方银在芯片封装中的应用可靠性,获得纳... 纳米立方银由于表面原子比例高,且具有自组装的特性,颗粒之间可以紧密排列形成超晶格结构,相比较传统的球状银颗粒,在烧结工艺中可以形成高致密化的烧结接头,表现出更好的性能。因此为了探索纳米立方银在芯片封装中的应用可靠性,获得纳米立方银的烧结特性和热力学性能,以纳米立方银为溶质配制了一种新型焊膏。通过热重分析设计出此焊膏的最佳烧结温度曲线,最终在空气中280℃下烧结30 min获得了坚固的烧结接头,根据计算,孔隙率仅为0.76%,剪切强度高达31 MPa,完全符合电子器件的封装要求。结合对烧结接头的表面、横截面的表征分析,证实了纳米立方银作为高温功率器件应用的互连焊料具有很好的潜力,为电子器件的低温低压烧结提供了一种新方法。 展开更多
关键词 烧结 纳米立方银 焊膏 孔隙率 剪切强度
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激光植球工艺仿真方法研究
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作者 朱旻琦 张浩 曾燕萍 《应用科技》 CAS 2023年第2期66-71,共6页
为解决焊接试验周期长、局限大和成本高的问题,采用数值模拟的方法对复杂的焊接试验进行模拟计算来预测焊接目标的可靠性。本文利用ANSYS有限元分析软件以Φ500μm的Sn63Pb37焊球为研究对象,建立旋转高斯体热源模型,进行热瞬态分析和剪... 为解决焊接试验周期长、局限大和成本高的问题,采用数值模拟的方法对复杂的焊接试验进行模拟计算来预测焊接目标的可靠性。本文利用ANSYS有限元分析软件以Φ500μm的Sn63Pb37焊球为研究对象,建立旋转高斯体热源模型,进行热瞬态分析和剪切强度分析,研究激光焊接温度场和焊接后焊球剪切强度。将焊球剪切强度的仿真结果与焊球剪切试验的测试结果进行对比,发现两者之间的误差小于10%,验证了本文提出的激光植球工艺仿真模型的正确性。本文所建立的工艺仿真模型可以用于不同焊接工艺参数条件下Sn63Pb37焊球剪切强度的预测。 展开更多
关键词 激光植球 剪切强度 焊接仿真 热源模型 焊接工艺 热仿真 力仿真 可靠性
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激光植球焊点剪切强度研究及断裂途径分析
18
作者 石凯 潘开林 +3 位作者 黄伟 郑宇 欧文坤 潘宇航 《桂林电子科技大学学报》 2023年第4期265-270,共6页
为提高激光植球焊点的可靠性,研究了不同工艺参数对激光植球焊点剪切强度的影响,分析了不同剪切情况下焊点的断裂途径。实验材料为SAC焊球,直径为500μm,以Au-Ni/P-Cu为基底,通过激光植球机进行焊点的制备。通过正交试验及极差、方差分... 为提高激光植球焊点的可靠性,研究了不同工艺参数对激光植球焊点剪切强度的影响,分析了不同剪切情况下焊点的断裂途径。实验材料为SAC焊球,直径为500μm,以Au-Ni/P-Cu为基底,通过激光植球机进行焊点的制备。通过正交试验及极差、方差分析法发现激光功率对焊点剪切强度影响最大,推断出工艺参数的最优组合。通过改变剪切参数,用电子显微镜(SEM)对焊点的断裂面进行观察,分析其断裂途径,发现降低剪切高度及加快剪切速度均会使焊点的断裂途径发生变化,焊点由完全的韧性断裂向脆性断裂转变。本研究可为提高激光植球过程中焊点的强度及不同外界条件下器件的使用提供一定参考。 展开更多
关键词 SAC焊球 激光植球技术 正交试验 剪切强度 断裂途径
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界面密排六方固溶体提高Au-Ge/Cu焊点的剪切强度
19
作者 王檬 彭健 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2023年第8期2449-2460,共12页
系统研究界面产物形貌、化学成分、力学性能及其对Au−Ge/Cu焊点剪切强度的影响。结果表明,在400℃下钎焊5~60 min后,焊点界面生成密排六方结构固溶体相(HCP)。该HCP相成分为78%~46%Cu,9%~42%Au和~12%Ge(摩尔分数),杨氏模量为105~112 GPa... 系统研究界面产物形貌、化学成分、力学性能及其对Au−Ge/Cu焊点剪切强度的影响。结果表明,在400℃下钎焊5~60 min后,焊点界面生成密排六方结构固溶体相(HCP)。该HCP相成分为78%~46%Cu,9%~42%Au和~12%Ge(摩尔分数),杨氏模量为105~112 GPa,硬度为4.3~4.7 GPa。钎焊5 min焊点的剪切强度为57 MPa,但钎焊60 min后焊点的剪切强度上升至68 MPa。焊点强度的提高可归因于塑性HCP相的生成及其对脆性(Ge)相的消耗。这说明生成塑性HCP界面产物是一种能有效提高钎焊焊点剪切强度的方法。 展开更多
关键词 金锗焊料 界面反应 固溶体 密排六方结构 剪切强度
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Ni对SnAgCuRE钎料及其钎焊接头性能的影响 被引量:8
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作者 樊艳丽 张柯柯 +3 位作者 王要利 祝要民 张鑫 闫焉服 《特种铸造及有色合金》 CAS CSCD 北大核心 2007年第8期651-653,共3页
以商用Sn3.8Ag0.7Cu为参照系,研究了Ni对Sn2.5Ag0.7Cu0.1 RE钎料合金及其钎焊接头性能的影响。研究结果表明,添加0.05%(质量分数)Ni能在不降低Sn2.5Ag0.7Cu0.1RE钎料合金抗拉强度的同时显著提高其伸长率,是商用Sn3.8Ag0.7Cu的1.4倍;相... 以商用Sn3.8Ag0.7Cu为参照系,研究了Ni对Sn2.5Ag0.7Cu0.1 RE钎料合金及其钎焊接头性能的影响。研究结果表明,添加0.05%(质量分数)Ni能在不降低Sn2.5Ag0.7Cu0.1RE钎料合金抗拉强度的同时显著提高其伸长率,是商用Sn3.8Ag0.7Cu的1.4倍;相应地钎焊接头的蠕变断裂寿命最长,为未添加Ni时的13.3倍,远高于现行商用Sn3.8Ag0.7Cu的,满足微电子连接高强韧高可靠性无铅钎料合金系的需求。 展开更多
关键词 Sn2.5Ag0.7Cu0.1 REXNi钎料 拉伸强度 伸长率 钎焊接头 蠕变断裂寿命
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