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FCVAD合成Ta-C薄膜的Raman和XPS分析 被引量:2
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作者 王广甫 刘玉龙 +1 位作者 田人和 张荟星 《北京师范大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2001年第5期608-611,共4页
用磁过滤阴极真空弧沉积 (FCVAD)方法在Si衬底上合成了Ta C薄膜 ,Raman光谱和光电子能谱 (XPS)分析表明衬底加 80~ 10 0V负偏压时合成的Ta C薄膜sp3 键所占比例最高 ,可达 80 %以上 ,并且在Ta C薄膜表面存在一sp3 键所占比例较低的薄层 .
关键词 过滤阴极真空弧沉积 沉积能量 sp^3键所占比例 FCVAD 钽-碳薄膜
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类金刚石碳膜的研究进展 被引量:12
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作者 江功武 于翔 王成彪 《金属热处理》 CAS CSCD 北大核心 2003年第11期1-6,共6页
从类金刚石碳膜作为耐磨薄膜的角度出发 ,综述了近年来类金刚石碳膜 (DLC)结构、沉积技术、沉积机理和性能方面的相关研究进展。介绍了DLC的相结构、过滤阴极真空弧 (FCVA)、类金刚石碳膜的沉积机理及主要工艺影响因素 ,同时指出了存在... 从类金刚石碳膜作为耐磨薄膜的角度出发 ,综述了近年来类金刚石碳膜 (DLC)结构、沉积技术、沉积机理和性能方面的相关研究进展。介绍了DLC的相结构、过滤阴极真空弧 (FCVA)、类金刚石碳膜的沉积机理及主要工艺影响因素 ,同时指出了存在的问题及研究发展趋势。 展开更多
关键词 相结构 过滤阴极真空弧(FCVA) sp^3和氢含量 发展趋势
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低氮掺杂对含氢类金刚石结构和力学性能的影响 被引量:5
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作者 杨满中 彭继华 韦宇冲 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第5期38-43,共6页
为探讨低氮掺杂对含氢类金刚石组织结构和力学性能的影响.采用非平衡磁控溅射和等离子增强化学气相沉积(PECVD)复合技术,在316不锈钢和硅片上制备碳化钨过渡层和不同掺氮量的含氢类金刚石薄膜(a-C:H(N)).通过拉曼光谱、X射线衍射(XRD)、... 为探讨低氮掺杂对含氢类金刚石组织结构和力学性能的影响.采用非平衡磁控溅射和等离子增强化学气相沉积(PECVD)复合技术,在316不锈钢和硅片上制备碳化钨过渡层和不同掺氮量的含氢类金刚石薄膜(a-C:H(N)).通过拉曼光谱、X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)和扫描电镜(SEM)对薄膜组织结构进行表征,薄膜的硬度和残余应力采用微纳米力学综合测量系统和薄膜应力测量仪进行表征.结果表明随着氮掺杂,薄膜形成碳氮键(CN)且其主要以C=N键形式存在,C=N/CN的比值随着薄膜氮含量增加逐渐下降.同时当掺氮量从0增至0.12 at%时,薄膜I_D/I_G比值迅速下降,sp^2C=C/sp^3C-C比值由0.65降至0.563,而薄膜硬度基本不变,约为20.4 GPa,残余应力则由3.35 Gpa降至1.31 GPa;随着掺氮量进一步增加,sp^2C=C/sp^3C-C比值增加,薄膜硬度迅速下降,残余应力则缓慢降低.可知氮的掺杂对DLC薄膜结构的影响有临界值0.12 at%,当掺氮量低于该值时,氮掺杂促进sp^3杂化的形成,薄膜具有较高的sp^3杂化含量.而随着薄膜含氮量进一步增加,sp^3杂化含量下降.同时当低氮掺杂时,可获得具有较高硬度以及较低残余应力的薄膜. 展开更多
关键词 掺氮类金刚石薄膜 PECVD 碳氮键 sp^3含量 硬度 残余应力
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Mechanism of high growth rate for diamond-like carbon films synthesized by helicon wave plasma chemical vapor deposition
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作者 季佩宇 於俊 +4 位作者 黄天源 金成刚 杨燕 诸葛兰剑 吴雪梅 《Plasma Science and Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2018年第2期166-171,共6页
A high growth rate fabrication of diamond-like carbon(DLC)films at room temperature was achieved by helicon wave plasma chemical vapor deposition(HWP-CVD)using Ar/CH4gas mixtures.The microstructure and morphology ... A high growth rate fabrication of diamond-like carbon(DLC)films at room temperature was achieved by helicon wave plasma chemical vapor deposition(HWP-CVD)using Ar/CH4gas mixtures.The microstructure and morphology of the films were characterized by Raman spectroscopy and scanning electron microscopy.The diagnosis of plasma excited by a helicon wave was measured by optical emission spectroscopy and a Langmuir probe.The mechanism of high growth rate fabrication for DLC films by HWP-CVD has been discussed.The growth rate of the DLC films reaches a maximum value of 54μm h^-1at the CH4flow rate of 85 sccm,which is attributed to the higher plasma density during the helicon wave plasma discharge.The CH and Hαradicals play an important role in the growth of DLC films.The results show that the Hαradicals are beneficial to the formation and stabilization of C=C bond from sp^2to sp^3. 展开更多
关键词 helicon wave plasma diamond-like carbon film sp^3 content Raman spectra
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