期刊文献+
共找到14篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
超高速GaAs IC研制动态
1
作者 戴玲华 《半导体情报》 1991年第1期37-46,共10页
本文叙述了最近几年国外研制超高速GaAs器件和IC的成果以及开发新技术的状况。
关键词 半导体器件 砷化镓 集成电路
下载PDF
键合金丝的研究进展及应用 被引量:15
2
作者 郭迎春 杨国祥 +2 位作者 孔建稳 刀萍 管伟明 《贵金属》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期68-71,78,共5页
介绍了键合金丝的特性、种类及其适用的封装领域;微合金化高纯金丝、合金型金丝、复合型金丝和键合铜丝的研究发展概况,以及各类型键合丝在市场上所处的地位;键合金丝主要应用领域—集成电路(IC)和半导体分立器件的发展情况。分析了国... 介绍了键合金丝的特性、种类及其适用的封装领域;微合金化高纯金丝、合金型金丝、复合型金丝和键合铜丝的研究发展概况,以及各类型键合丝在市场上所处的地位;键合金丝主要应用领域—集成电路(IC)和半导体分立器件的发展情况。分析了国内外键合金丝市场、产业状况以及该行业的发展趋势。 展开更多
关键词 金属材料 半导体封装 键合金丝 分立器件 集成电路
下载PDF
PDP扫描驱动芯片的新型200VP沟功率MOSFET及工艺研究 被引量:1
3
作者 易扬波 孙伟锋 +2 位作者 孙智林 陈畅 陆生礼 《应用科学学报》 CAS CSCD 2004年第2期162-166,共5页
提出了一种适合PDP扫描驱动芯片的高压P沟道ED-LDMOS器件结构,源漏击穿电压及栅耐压均达到220V以上.通过添加P型扩展阱,能够有效降低P+漏极边缘电场60%,减轻漏极电流汇聚效应,抑制寄生双极型晶体管开启,从而原器件开启态耐压(180V)提高... 提出了一种适合PDP扫描驱动芯片的高压P沟道ED-LDMOS器件结构,源漏击穿电压及栅耐压均达到220V以上.通过添加P型扩展阱,能够有效降低P+漏极边缘电场60%,减轻漏极电流汇聚效应,抑制寄生双极型晶体管开启,从而原器件开启态耐压(180V)提高了40V;同时设计了能与0.6μm标准低压CMOS工艺完全兼容的制备工艺,特别提出一种厚栅氧与多晶栅的刻蚀方法——余量刻蚀法,有效防止由于光刻误差引起的栅源短路击穿. 展开更多
关键词 功率集成电路 功率器件 半导体工艺 PDP扫描驱动芯片 MOSFET 量刻蚀 等离子平板显示器
下载PDF
基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案设计 被引量:8
4
作者 杜晓岚 张磊 《电子设计工程》 2019年第14期51-54,共4页
集成电路产业已经成为我国重点发展产业。集成电路生产封装后都要先进行引脚开短路测试,从而尽早筛出失效芯片以缩短整体测试时长,提升经济效益。针对集成电路引脚开短路测试要求,本文提出一种基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案... 集成电路产业已经成为我国重点发展产业。集成电路生产封装后都要先进行引脚开短路测试,从而尽早筛出失效芯片以缩短整体测试时长,提升经济效益。针对集成电路引脚开短路测试要求,本文提出一种基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案。该方案具备可操作性强的优点,只需要配合平台搭接简单的测试电路,然后使用C语言编写测试程序就能快速的将一个型号芯片的引脚开短路问题测试出来,并将结果反馈至上位机,使用户能够直观地判别被测芯片的好坏。 展开更多
关键词 ic开短路测试 LK8810平台 集成电路测试 半导体器件
下载PDF
激光直写系统制作掩模和器件的工艺 被引量:4
5
作者 侯德胜 冯伯儒 +2 位作者 张锦 杜春雷 邱传凯 《微细加工技术》 EI 1999年第1期55-61,共7页
激光直写系统是国际上90年代制作集成电路光刻掩模版的新型专用设备。微细加工光学技术国家重点实验室从加拿大引进了国内第一台激光直写系统。利用这台系统,通过高精度激光束在光致抗蚀剂上扫描曝光,将设计图形直接转移到掩模或硅... 激光直写系统是国际上90年代制作集成电路光刻掩模版的新型专用设备。微细加工光学技术国家重点实验室从加拿大引进了国内第一台激光直写系统。利用这台系统,通过高精度激光束在光致抗蚀剂上扫描曝光,将设计图形直接转移到掩模或硅片上。激光直写系统的应用,可以分成一次曝光制作光刻掩模和多次套刻曝光制作器件两个方面。介绍使用激光直写系统制作光刻掩模和套刻器件的具体工艺。 展开更多
关键词 激光直写 光刻掩模 半导体器件 微电子工艺
下载PDF
半导体器件工艺与薄膜科学
6
作者 许振嘉 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 1997年第6期369-393,共25页
全面地介绍了半导体器件工艺中有关薄膜研究的基本原理,并给出几个实例以说明这些薄膜研究。主要论述了硅IC工艺。
关键词 薄膜研究 硅集成电路工艺 半导体器件
下载PDF
2009年IEEE功率半导体器件及功率集成电路国际会议述评(上)
7
作者 胡冬青 《电力电子》 2009年第4期5-14,共10页
本文分两部分概括介绍第21届ISPSD09发表的有关功率半导体器件及集成电路的一些主要成果和进展, (上)部分包括特邀综述、低压器件、高压硅器件;(下)部分包括集成功率、宽禁带器件与电路等几个方面。
关键词 IEEE 功率半导体期间 功率集成电路
下载PDF
一种高增益低失调高速运算放大器 被引量:3
8
作者 陈亮 《微电子学》 CAS CSCD 1996年第1期11-14,共4页
研制了一种具有高增益和低失调的高速运算放大器。介绍了其电路结构及工艺条件等方面所进行的优化设计。。将设计结果在微机上进行了Tspice模拟验证。研制出的运算放大器满足设计指标,获得了预期的结果。
关键词 半导体器件 模拟集成电路 运算放大器 集成电路
下载PDF
功率MOSFET的研究与进展 被引量:12
9
作者 褚华斌 钟小刚 +2 位作者 吴志伟 戴鼎足 苏祥有 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期363-367,413,共6页
器件设计工艺、封装、宽禁带半导体材料和计算机辅助设计4大技术的发展进步使得功率MOSFET的性能指标不断达到新的高度。超级结技术使得高压功率MOSFET的导通电阻大大降低,降低栅极电荷和极间电容的改进沟槽工艺和横向扩散工艺技术进一... 器件设计工艺、封装、宽禁带半导体材料和计算机辅助设计4大技术的发展进步使得功率MOSFET的性能指标不断达到新的高度。超级结技术使得高压功率MOSFET的导通电阻大大降低,降低栅极电荷和极间电容的改进沟槽工艺和横向扩散工艺技术进一步提高了低压功率MOSFET的优值因子,中小功率MOSFET继续朝着单片集成智能功率电子发展。功率MOSFET封装呈现出集成模块化、增强散热性和高可靠性的特点。基于宽禁带半导体材料SiC和GaN的功率MOSFET具有高温、高频和低功耗等优异性能,计算机辅助设计工具引领功率MOSFET在工艺设计、制造和电路系统应用方面快速发展。 展开更多
关键词 功率金属氧化物半导体场效应晶体管 器件设计工艺 智能功率电子 封装 宽禁带半导体材料 计算机辅助设计
下载PDF
从全球视角看我国移动芯片发展
10
作者 周兰 李莹 +1 位作者 乔亲旺 金桦 《电视技术》 北大核心 2015年第12期55-58,67,共5页
近年来,移动互联网的快速兴起及迅猛发展使得移动芯片成为全球集成电路产业发展的关键引擎,我国也概莫能外,并在此领域取得了较好基础,但未来转型升级的瓶颈依然存在。在梳理、对比、分析移动芯片产业发展现状、趋势及特色的同时,重点... 近年来,移动互联网的快速兴起及迅猛发展使得移动芯片成为全球集成电路产业发展的关键引擎,我国也概莫能外,并在此领域取得了较好基础,但未来转型升级的瓶颈依然存在。在梳理、对比、分析移动芯片产业发展现状、趋势及特色的同时,重点探讨我国移动芯片技术及产业发展的若干问题,并对我国未来发展提出相关建议。 展开更多
关键词 集成电路 移动芯片 制造工艺
下载PDF
稀土元素Gd掺杂氮化物半导体在自旋电子器件中的应用(英文)
11
作者 周逸凯 《上海师范大学学报(自然科学版)》 2015年第4期404-411,共8页
本研究利用分子束外延的方法生长了Gd掺杂氮化物半导体。根据X线衍射和XAFS测定未有发现第二相的析出。观察到了来自In Gd Ga N的光致发光,发光峰随着In N的摩尔份数的变化而变化。这些材料在室温明显地观测到了磁滞曲线。Si共掺杂的Ga ... 本研究利用分子束外延的方法生长了Gd掺杂氮化物半导体。根据X线衍射和XAFS测定未有发现第二相的析出。观察到了来自In Gd Ga N的光致发光,发光峰随着In N的摩尔份数的变化而变化。这些材料在室温明显地观测到了磁滞曲线。Si共掺杂的Ga Gd N超晶格显示出了超大的磁矩,其原因可归于载流子诱发铁磁。最后,说明了这一材料在自旋发光二极管中的应用。 展开更多
关键词 稀磁半导体 铁磁性 光致发光 硅共掺杂 超晶格 自旋半导体器件
下载PDF
中国半导体集成电路诞生三十年
12
作者 金圣东 赵正平 《半导体情报》 1995年第6期1-6,共6页
回顾了我国集成电路三十年发展历程,介绍了国内外集成电路的现状,提出了今后分三个阶段发展我国集成电路的建议。
关键词 集成电路 半导体器件
下载PDF
Review of Technologies for High-Voltage Integrated Circuits 被引量:1
13
作者 Bo Zhang Wentong Zhang +3 位作者 Le Zhu Jian Zu Ming Qiao Zhaoji Li 《Tsinghua Science and Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2022年第3期495-511,共17页
High-Voltage power Integrated Circuits(HVICs) are widely used to realize high-efficiency power conversions(e.g., AC/DC conversion), gate drivers for power devices and LED lighting, and so on. The Bipolar-CMOS-DMOS(BCD... High-Voltage power Integrated Circuits(HVICs) are widely used to realize high-efficiency power conversions(e.g., AC/DC conversion), gate drivers for power devices and LED lighting, and so on. The Bipolar-CMOS-DMOS(BCD) process is proposed to fabricate devices with bipolar, CMOS, and DMOS modes, and thereby realize the single-chip integration of HVICs. The basic integrated technologies of HVICs include High-Voltage(HV) integrated device technology, HV interconnection technology, and isolation technology. The HV integrated device is the core of HVICs. The basic requirements of the HV integrated device are high breakdown voltage, low specific on-resistance,and process compatibility with low-voltage circuits. The REduced SURFace field(RESURF) technology and junction termination technology are developed to optimize the surface field of integration power devices and breakdown voltage. Furthermore, the ENhanced DIelectric layer Field(ENDIF) and REduced BULk Field(REBULF) technologies are proposed to optimize bulk fields. The double/triple RESURF technologies are further developed, and the superjunction concept is introduced to integrated power devices and to reduce the specific on-resistance. This work presents a comprehensive review of these technologies, including the innovation technologies of the authors’ group,such as ENDIF and REBULF, substrate termination technology prospective integrated technologies and HVICs in wide band gap semiconductor materials are also discussed. 展开更多
关键词 High-Voltage ics(HVics) high-voltage integrated technology Bipolar-CMOS-DMOS(BCD)process integrated power semiconductor devices SUPERJUNCTION
原文传递
金属氧化物半导体场效应晶体管之发展——从起始到ULSI
14
作者 施敏 《航空精密制造技术》 1993年第1期14-16,共3页
金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)是用于ULSI中的重要器件。现在,我们评述从MOSFET的起始,直到在ULSI中应用时期的主要里程碑,并且讨论MOSFET功能的未来趋势。
关键词 半导体 集成电路 电子器件
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部