气体钻井钻头泥包风险预测及影响因素研究

为深入研究气体钻井过程中地层出水后的岩屑运移情况、避免或减少钻头泥包风险、指导气体钻井的顺利实施,在分析出水量预测模型的基础上,引入工程岩土学中的稠度指标,将黏土的黏着界限作为泥包的临界条件,对地层出水后的泥包情况进行数学建模,利用编制的计算机程序对所建模型进行求解计算,并对计算结果进行分析,预测泥包风险;然后对影响钻头泥包的岩性、钻头表面性质及钻井参数等因素进行分析。结果表明:1所建模型能够预测地层出水后形成泥包的时间,并以泥包时间为指标对钻头泥包风险进行预测,进行风险评级;2岩性及钻头表面性质对钻头泥包影响很大;3钻头泥包风险随着机械钻速、井口回压、井深和井径扩大率等的增加而降低。结论认为:从钻遇水层到钻头形成泥包,时间非常短暂,基本在数十分钟之内就会发生井下事故。因此,现场操作过程中,一定要提前做好对出水层的预测和转换钻井方式的准备工作;发生水侵后也可根据数值模拟结果采取适当的措施延缓发生钻头泥包的时间。

降低岩层定向钻穿越用泥浆浆屑比的研究

通过对已施工完成的70个岩层定向钻穿越工程项目进行调查统计,泥浆浆屑比主要集中在（4.0~6.0）∶1。通过控制环空返速和泥浆密度,提高钻具转速,改善泥浆流变性能及泥浆黏度等措施,使泥浆平均浆屑比由3.8∶1降低至1.8∶1,平均卡钻次数从1.5次降至0.2次,为今后类似工程的设计、施工积累了经验。

电子元器件的微剂量效应研究进展

高能重离子在其径迹周围局域空间所沉积的微剂量,足以引起器件特性的永久性退化,导致存储器状态无法改变或器件功能异常等现象。本文综述了此领域的国内外研究进展,基于局域总剂量与强库仑斥力两种失效机制,结合几种典型电子元器件的结构特征,介绍了微剂量效应的失效表征,并讨论了其主要影响因素和发展趋势。

罗34-平2井卡钻事故处理

本文介绍了罗34-平2井卡钻事故及处理方案,分析了事故原因并提出了相应的预防措施。为广大钻井工作者对同类型钻井工艺的施工提供参考经验。

凿岩台车钻孔作业常见问题分析及排除方法

本文主要分析了凿岩台车在钻孔作业时常出现钻孔偏差和卡钻的原因,提出了降低钻孔偏差及排除卡钻的方法,从而解决因钻孔偏差影响爆破效果和因卡钻影响凿岩台车使用寿命问题。

重离子辐照下SDRAM存储器“固定位”错误研究

对65nm SDRAM存储器进行重离子试验,分析其出现“固定位”错误的地址分布规律性,并研究错误数量与辐射能量以及注量之间的关系。对辐照后样品采用不同温度和时长退火,分析不同参数设定对“固定位”错误恢复的影响。根据试验现象,围绕微剂量效应,分析“固定位”错误的产生机理。提出一种方法,通过三维堆叠的方式在SDRAM存储芯片下叠封一个加热芯片,利用加热退火使“固定位”错误消失,可有效解决SDRAM存储器在宇航环境下出现“固定位”错误却无法维修器件的问题。