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基于开关级故障模型的CMOS自检比较器特性的研究
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作者 毛志刚 叶以正 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第1期33-37,共5页
在以往的电路自检特性研究工作中往往采用逻辑级或版图级故障模型，本文采用了比逻辑级模型完善，比版图级模型实用的开关级故障模型来研究ＣＭＯＳ比较器的自检特性．研究结果表明，只要电路中非码字的错误是同向的，则比较器是强码字... 在以往的电路自检特性研究工作中往往采用逻辑级或版图级故障模型，本文采用了比逻辑级模型完善，比版图级模型实用的开关级故障模型来研究ＣＭＯＳ比较器的自检特性．研究结果表明，只要电路中非码字的错误是同向的，则比较器是强码字不相交的． 展开更多
关键词 检测器 比较器 CMOS电路 自检特性
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