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Test Resource Partitioning Based on Efficient Response Compaction for Test Time and Tester Channels Reduction 被引量:3
1
作者 Yin-HeHan Xiao-WeiLi +1 位作者 Hua-WeiLi AnshumanChandra 《Journal of Computer Science & Technology》 SCIE EI CSCD 2005年第2期201-209,共9页
This paper presents a test resource partitioning technique based on anefficient response compaction design called quotient compactor(q-Compactor). Because q-Compactor isa single-output compactor, high compaction ratio... This paper presents a test resource partitioning technique based on anefficient response compaction design called quotient compactor(q-Compactor). Because q-Compactor isa single-output compactor, high compaction ratios can be obtained even for chips with a small numberof outputs. Some theorems for the design of q-Compactor are presented to achieve full diagnosticability, minimize error cancellation and handle unknown bits in the outputs of the circuit undertest (CUT). The q-Compactor can also be moved to the load-board, so as to compact the outputresponse of the CUT even during functional testing. Therefore, the number of tester channelsrequired to test the chip is significantly reduced. The experimental results on the ISCAS ''89benchmark circuits and an MPEG 2 decoder SoC show that the proposed compaction scheme is veryefficient. 展开更多
关键词 system-on-a-Chip (SoC) test resource partitioning (trp) responsecompaction DIAGNOSE error cancellation
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SOC可测试性设计与测试技术 被引量:42
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作者 胡瑜 韩银和 李晓维 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2005年第1期153-162,共10页
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性... 超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩/解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向. 展开更多
关键词 芯片系统 可测试性设计 测试资源划分 测试资源优化
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划分测试中测试用例最优分配问题研究 被引量:4
3
作者 张德平 聂长海 徐宝文 《南京大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2005年第5期553-561,共9页
研究了划分测试中每个子域错误率已知,测试资源受约束时,测试用例如何合理分配的优化问题.主要考虑了两类测试用例分配问题:测试资源受约束的测试用例分配及测试资源受约束且各个子域的可靠性要达到一定要求时测试用例的分配,证明了带... 研究了划分测试中每个子域错误率已知,测试资源受约束时,测试用例如何合理分配的优化问题.主要考虑了两类测试用例分配问题:测试资源受约束的测试用例分配及测试资源受约束且各个子域的可靠性要达到一定要求时测试用例的分配,证明了带约束的测试用例最优分配问题是一个NPC问题.给出了动态规划求解方法,从理论上证明了该方法是最优的,并通过随机模拟将该方法与其它常见的测试用例分配策略进行分析比较,用实验数据验证了该方法能合理利用有限测试资源,有效地提高缺陷检测能力. 展开更多
关键词 划分测试 测试资源 动态规划 测试用例分配方案
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改进型FDR码对SoC测试数据的压缩及解压缩 被引量:1
4
作者 欧阳一鸣 郭文鹏 梁华国 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2008年第1期174-177,共4页
针对SoC测试中的关键问题——测试数据的压缩,提出了一种改进型的FDR码编码方法,称为IFDR码。它将测试序列看做连续的0串和1串,从而用同一种编码方法同时对0游程和1游程进行编码,突破了FDR码仅能对0游程进行编码的限制。通过分析可知IFD... 针对SoC测试中的关键问题——测试数据的压缩,提出了一种改进型的FDR码编码方法,称为IFDR码。它将测试序列看做连续的0串和1串,从而用同一种编码方法同时对0游程和1游程进行编码,突破了FDR码仅能对0游程进行编码的限制。通过分析可知IFDR码的解压电路的结构较简单,所需要的额外硬件开销很小;对ISCAS 89标准电路的实验结果表明,与FDR码以及同类型的其他编码方法相比,该编码方法能获得更高的压缩率,从而可以更好地节省测试数据的存储空间和测试应用时间。 展开更多
关键词 测试源划分 压缩/解压缩 FDR码 系统级芯片
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片上系统测试数据压缩的优化型FDR编码机制(英文) 被引量:1
5
作者 张颖 吴宁 葛芬 《Transactions of Nanjing University of Aeronautics and Astronautics》 EI 2012年第1期77-83,共7页
测试数据压缩是片上系统(System-on-chip,SoC)测试中的关键问题之一,用于有效地减少测试数据总量。本文提出了一种新颖的变长-变长压缩编码,称为AFDR(Advanced frequency-directed run-length)编码。它同时对0游程和1游程进行编码,并对... 测试数据压缩是片上系统(System-on-chip,SoC)测试中的关键问题之一,用于有效地减少测试数据总量。本文提出了一种新颖的变长-变长压缩编码,称为AFDR(Advanced frequency-directed run-length)编码。它同时对0游程和1游程进行编码,并对等长游程赋以相同的编码,优化了仅仅考虑0游程的FDR(Frequency-directed run-length)码。此外,对游程长度为2的数据(即00和11)进行特殊处理,进一步地提高了压缩比。ISCAS89标准电路下的实验结果表明,AFDR编码的压缩效果明显优于FDR编码以及同类型的其他编码。 展开更多
关键词 测试数据压缩 FDR编码 测试源划分 片上系统
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基于游程编码的测试数据压缩方法分析 被引量:2
6
作者 刘娟 黄忠 《廊坊师范学院学报(自然科学版)》 2013年第2期65-67,共3页
基于游程编码的测试数据压缩方案能够有效地压缩测试数据。文中介绍了4种经典的游程编码方案,并对它们的压缩率进行了比较。
关键词 测试数据压缩 变长-变长的编码 测试源划分 系统芯片
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一种基于测试集分组的广义交替码
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作者 张磊 梁华国 陶珏辉 《电子质量》 2007年第8期11-16,共6页
测试数据编码压缩是一类重要、经典的测试源划分(TRP)方法。本文提出了一种广义交替码,将FDR码、交替码都看作它的特例;又扩展了两步压缩方法,将原测试集划分成多组,每组采用不同的比值进行交替编码,综合了交替码与两步编码各自的优势,... 测试数据编码压缩是一类重要、经典的测试源划分(TRP)方法。本文提出了一种广义交替码,将FDR码、交替码都看作它的特例;又扩展了两步压缩方法,将原测试集划分成多组,每组采用不同的比值进行交替编码,综合了交替码与两步编码各自的优势,弥补了FDR码、交替码对某些电路测试集压缩的缺陷,得到了较好的压缩率。实验结果表明,与同类型的编码压缩方法相比,该方案具有更高的测试数据压缩率和较好的综合测试性能。 展开更多
关键词 测试数据 编码压缩 测试源划分
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