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纳米MOS器件中的超浅结和相关离子掺杂新技术的发展
被引量:
1
1
作者
何进
张兴
黄如
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第4期389-396,共8页
MOS器件特征尺寸进入纳米领域时如何形成超浅结是一个重要的挑战。文中讨论了纳米 MOS器件对超浅结离子束掺杂技术的特殊要求以及发展超浅结的主要途径 ,介绍了目前超浅结离子掺杂新技术的最新发展 ,并对其前景进行了展望。
关键词
MOS器件
超浅结
离子掺杂
纳米技术
金属-氧化物-半导体场效应器件
下载PDF
职称材料
题名
纳米MOS器件中的超浅结和相关离子掺杂新技术的发展
被引量:
1
1
作者
何进
张兴
黄如
机构
北京大学微电子学研究所
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第4期389-396,共8页
基金
富士通和北京大学联合研究项目"低能离子注入模拟及软件开发"的支持
文摘
MOS器件特征尺寸进入纳米领域时如何形成超浅结是一个重要的挑战。文中讨论了纳米 MOS器件对超浅结离子束掺杂技术的特殊要求以及发展超浅结的主要途径 ,介绍了目前超浅结离子掺杂新技术的最新发展 ,并对其前景进行了展望。
关键词
MOS器件
超浅结
离子掺杂
纳米技术
金属-氧化物-半导体场效应器件
Keywords
nano technique
MOS devices
ultra-shallow jun ction
ion-doping
分类号
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
纳米MOS器件中的超浅结和相关离子掺杂新技术的发展
何进
张兴
黄如
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2003
1
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