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Target voltage behaviour of a vanadium-oxide thin film during reactive magnetron sputtering
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作者 王涛 蒋亚东 +2 位作者 于贺 吴志明 赵赫男 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2011年第3期491-496,共6页
This paper simulates reactive magnetron-sputtering in constant current mode in a Vanadium-O2/Ar system equipped with a DC power supply by adopting both kinetics model and Berg's model. The target voltage during the r... This paper simulates reactive magnetron-sputtering in constant current mode in a Vanadium-O2/Ar system equipped with a DC power supply by adopting both kinetics model and Berg's model. The target voltage during the reactive sputtering has been investigated as a function of reactive gas flow. Both experiments and simulations demonstrate a hysteresis curve with respect to the oxygen supply. The time-dependent variation of the target mode is studied by measuring the target voltage for various reactive oxygen gas flows and pre-sputtering times. The pre- sputtering time increases with the increased initial target voltage. Furthermore, a corresponding time-dependent model simulating target voltage changes is also proposed. Based on these simulations, we find some relationships between the discharge voltage behaviour and the properties of the formed oxide. In this way, a better understanding of the target voltage changes during reactive sputtering can be achieved. We conclude that the presented theoretical models for parameter-dependent case and time-dependent case are in qualitative agreement with the experimental results and can be used to comprehend the target voltage behaviour in the deposition of vanadium oxide thin films. 展开更多
关键词 Berg's model time dependence target voltage vanadium oxide
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不同氩气气压下钒靶HIPIMS放电特性的演变 被引量:5
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作者 李春伟 田修波 +1 位作者 巩春志 许建平 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第8期103-109,共7页
目的以V靶为例,研究高功率脉冲磁控溅射(HIPIMS)放电时不同工作气压下靶脉冲电流及等离子体发射光谱的表现形式和演变规律,为HIPIMS技术的进一步广泛应用提供理论依据。方法利用数字示波器采集HIPIMS脉冲放电电流波形,并利用发射光谱仪... 目的以V靶为例,研究高功率脉冲磁控溅射(HIPIMS)放电时不同工作气压下靶脉冲电流及等离子体发射光谱的表现形式和演变规律,为HIPIMS技术的进一步广泛应用提供理论依据。方法利用数字示波器采集HIPIMS脉冲放电电流波形,并利用发射光谱仪记录不同放电状态下的光谱谱线,分析不同气压下V靶HIPIMS放电特性的演变规律。同时,利用HIPIMS技术成功制备了V膜,并利用扫描电子显微镜观察了V膜的截面形貌。结果不同氩气气压下,随着靶脉冲电压的增加,靶电流峰值、靶电流平台值及靶电流平均值均单调增加,而且增加的速度越来越快,但靶电流峰值的增加速度明显高于平台值,这是由于脉冲峰值电流由气体放电决定所致。不同气压下,Ar0、Ar+、V0和V+四种谱线峰的光谱强度均随靶电压的增加而增加,相同靶电压时,其光谱强度随着气压的增加而增加。当气压为0.9 Pa、靶电压为610 V时,Ar和V的离化率分别为78%和35%。此外,利用HIPIMS技术制备的V膜光滑、致密,无柱状晶生长形貌特征。结论较高的工作气压和靶脉冲电压有利于获得较高的系统粒子离化率,但HIPIMS放电存在不稳定性。合适的工作气压是获得优质膜层的关键。 展开更多
关键词 高功率脉冲磁控溅射 氩气气压 V靶 放电靶电流 放电光谱特性 V薄膜
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不同靶基距下凹槽表面HIPIMS法制备钒膜的微观结构及膜厚均匀性 被引量:3
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作者 李春伟 田修波 +1 位作者 巩春志 许建平 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第7期122-127,共6页
目的研究不同靶基距对高功率脉冲磁控溅射(HIPIMS)在凹槽表面制备钒膜微观结构和膜厚均匀性的影响,实现凹槽表面高膜层致密性和均匀性的钒膜制备。方法采用HIPIMS方法制备钒膜,在其他工艺参数不变的前提下,探讨不同靶基距对凹槽表面钒... 目的研究不同靶基距对高功率脉冲磁控溅射(HIPIMS)在凹槽表面制备钒膜微观结构和膜厚均匀性的影响,实现凹槽表面高膜层致密性和均匀性的钒膜制备。方法采用HIPIMS方法制备钒膜,在其他工艺参数不变的前提下,探讨不同靶基距对凹槽表面钒膜相结构、表面形貌及表面粗糙度、膜层厚度均匀性的影响。采用XRD、AFM及SEM等观测钒膜的表面形貌及生长特征。结果随着靶基距的增加,V(111)晶面衍射峰强度逐渐降低。当靶基距为12 cm时,钒膜膜层表面粗糙度最小,为0.434nm。相比直流磁控溅射(DCMS),采用HIPIMS制备的钒膜呈现出致密的膜层结构且柱状晶晶界不清晰。采用HIPIMS和DCMS方法制备钒膜时的沉积速率均随靶基距的增加而减少。当靶基距为8 cm时,采用HIPIMS方法在凹槽表面制备的钒膜均匀性最佳。结论采用HIPIMS方法凹槽表面钒膜生长的择优取向、表面形貌、沉积速率及膜厚均匀性均有影响。在相同的靶基距下,采用HIPIMS获得的钒膜膜厚均匀性优于DCMS方法。 展开更多
关键词 高功率脉冲磁控溅射 靶基距 钒膜 微观结构 厚度均匀性
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常温直流对靶溅射制备高TCR氧化钒薄膜 被引量:2
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作者 吴淼 胡明 +1 位作者 吕宇强 刘志刚 《天津大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第7期806-809,共4页
常温下用直流对靶磁控溅射的方法在玻璃基片上制备出了高电阻温度系数(TCR)氧化钒薄膜.通过设计正交试验,系统分析了Ar和O_2的标准体积比、溅射功率、工作压强和热处理时间对氧化钒薄膜TCR的影响.对最佳工艺条件下制得的薄膜进行电阻温... 常温下用直流对靶磁控溅射的方法在玻璃基片上制备出了高电阻温度系数(TCR)氧化钒薄膜.通过设计正交试验,系统分析了Ar和O_2的标准体积比、溅射功率、工作压强和热处理时间对氧化钒薄膜TCR的影响.对最佳工艺条件下制得的薄膜进行电阻温度特性测试,TCR达到-3.3%/K,室温方块电阻为28.5kΩ,个别样品的TCR达到-4%/K以上.扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)的形貌分析显示,这种制备方法结合适当的退火可以制备出氧化钒多晶薄膜,晶粒尺寸在纳米数量级.X射线光电子能谱(XPS)分析发现,高TCR薄膜样品中钒的总体价态接近+4价.所有结果表明,制得的氧化钒薄膜电性能满足红外探测器的要求,且该工艺能与CMOS工艺兼容. 展开更多
关键词 直流对靶磁控溅射 氧化钒薄膜 电阻温度系数 正交试验
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工作参数对电场增强高功率脉冲磁控溅射的调制作用研究
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作者 李春伟 田修波 +4 位作者 徐淑艳 郑权 张群利 陈春晟 张旭 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第5期400-406,共7页
基于辅助阳极的电场增强高功率脉冲磁控溅射(Hi PIMS)技术改善了常规Hi PIMS放电及镀膜过程。研究工作参数对电场增强Hi PIMS的调制作用可为该技术的应用提供理论依据。利用数字示波器收集Hi PIMS基体离子电流,分析了不同工作气压、靶... 基于辅助阳极的电场增强高功率脉冲磁控溅射(Hi PIMS)技术改善了常规Hi PIMS放电及镀膜过程。研究工作参数对电场增强Hi PIMS的调制作用可为该技术的应用提供理论依据。利用数字示波器收集Hi PIMS基体离子电流,分析了不同工作气压、靶基间距、脉冲频率和脉冲宽度等工作参数对基体离子电流的调制作用规律。利用扫描电镜观察了钒膜的截面形貌特征。结果表明:在相同的靶电压下,基体离子电流平均值随工作气压的增加而增加并逐渐达到饱和值;随靶基间距的增加基体离子电流平均值逐渐减小;随脉冲频率的增加基体离子电流平均值逐渐减小后趋于稳定;当脉冲宽度为150μs时的基体离子电流平均值高于脉冲宽度为200μs时的基体离子电流平均值。工作参数对膜层的制备具有调制作用,在适中的工作参数下,电场增强Hi PIMS获得的钒膜与基底结合良好、膜层致密完整。 展开更多
关键词 高功率脉冲磁控溅射 辅助阳极 工作气压 靶基间距 钒膜 放电特性
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纯二氧化钒薄膜制备工艺参数试验优化研究 被引量:1
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作者 董亮 左敦稳 徐锋 《化学工程师》 CAS 2018年第3期12-17,共6页
针对传统方法制备VO_2膜成分伴随多种其他钒氧化物生成的问题,设计正交试验采用VO_2靶在蓝宝石基底上通过射频磁控溅射的方法制备VO_2薄膜,并对其进行退火热处理。对XRD检测结果进行分析,工艺参数下所制备的薄膜均在以2θ=28.9°为... 针对传统方法制备VO_2膜成分伴随多种其他钒氧化物生成的问题,设计正交试验采用VO_2靶在蓝宝石基底上通过射频磁控溅射的方法制备VO_2薄膜,并对其进行退火热处理。对XRD检测结果进行分析,工艺参数下所制备的薄膜均在以2θ=28.9°为中心出现较明显的衍射峰,并在2θ=44.3°出现微弱衍射峰,分别对应VO_2的(011)、(021)两个面,并且只有这两个衍射峰。发现其制备薄膜纯度高,避免了传统制备方法多种钒氧化物的生成。检测了2~25μm波段范围内高低温(15、80℃)透过率。在选定波段,常温透过率可达60%以上,高温相变后透过率低于10%,透过率变化幅度高于50%。在最优工艺参数下制备的薄膜具有更好的激光防护性能。 展开更多
关键词 二氧化钒靶 二氧化钒 最佳工艺 透过率
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用对靶磁控溅射附加低温热氧化处理方法制备相变氧化钒薄膜 被引量:1
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作者 梁继然 胡明 +1 位作者 刘志刚 韩雷 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第7期1203-1208,共6页
采用直流对靶磁控溅射低价态氧化钒(VO2-x)薄膜再附加热氧化处理的方式,进行具有金属-半导体相变特性氧化钒薄膜的制备。采用X射线光电子能谱(XPS)、X射线衍射(XRD)和原子力显微镜(AFM)对薄膜中钒的价态与组分、薄膜结晶结构和表面微观... 采用直流对靶磁控溅射低价态氧化钒(VO2-x)薄膜再附加热氧化处理的方式,进行具有金属-半导体相变特性氧化钒薄膜的制备。采用X射线光电子能谱(XPS)、X射线衍射(XRD)和原子力显微镜(AFM)对薄膜中钒的价态与组分、薄膜结晶结构和表面微观形貌进行分析,利用热敏感系统对薄膜的电阻温度特性进行测量。结果表明:新制备的低价态氧化钒薄膜以V2O3和VO为主,经过300℃低温热氧化处理后,薄膜中出现单斜金红石结构的VO2相,薄膜具有金属-半导体相变特性;薄膜表面颗粒之间存在间隙,利于氧的渗入;在300~320℃进行热处理时,薄膜中的V2O3和VO向单斜结构的VO2转变,VO2含量增加,随着薄膜内VO2含量的增加,薄膜的金属-半导体相变幅度增大,超过2个数量级,相变性能变好,但是此热处理温度区间对已获得的VO2的结构没有影响。同时利用直流对靶磁控溅射方法还可以在低氧化温度下获得具有优异金属-半导体相变特性的氧化钒薄膜,制备工艺与微机械电子系统(MEMS)工艺相兼容。 展开更多
关键词 相变氧化钒薄膜 低温热氧化 直流对靶磁控溅射
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Microstructure and corrosion resistance of vanadium films deposited at different target-substrate distance by HPPMS 被引量:2
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作者 Chun-Wei Li Xiu-Bo Tian +2 位作者 Tian-Wei Liu Jian-Wei Qin Chun-Zhi Gong 《Rare Metals》 SCIE EI CAS CSCD 2014年第5期587-593,共7页
High power pulsed magnetron sputtering(HPPMS), a novel physical vapor deposition technology, was applied to prepare vanadium films on aluminum alloy substrate in this paper. The influence of target–substrate dista... High power pulsed magnetron sputtering(HPPMS), a novel physical vapor deposition technology, was applied to prepare vanadium films on aluminum alloy substrate in this paper. The influence of target–substrate distance(Dt–s)(ranging from 8 to 20 cm) on phase structure, surface morphology, deposition rate, and corrosion resistance of vanadium films was investigated. The results show that the vanadium films are textured with a preferential orientation in the(111) direction except for that fabricated at 20 cm. With Dt–sincreasing, the intensity of(111) diffraction peak of the films decreases and there exists a proper distance leading to the minimum surface roughness of 0.65 nm. The deposition rate decreases with Dt–sincreasing. All the V-coated aluminum samples possess better corrosion resistance than the control sample. The sample fabricated at Dt–sof 12 cm demonstrates the best corrosion resistance with the corrosion potential increasing by 0.19 V and the corrosion current decreasing by an order of magnitude compared with that of the substrate. The samples gain further improvement in corrosion resistance after annealing, and if compared with that of annealed aluminum alloy, then the corrosion potential of the sample fabricated at 20 cm increases by 0.415 V and the corrosion current decreases by two orders of magnitude after annealed at 200 °C. If the annealing temperature further rises to 300 °C, then the corrosion resistance of samples increases less obviously than that of the control sample. 展开更多
关键词 High power pulsed magnetron sputtering vanadium films target–substrate distance MICROSTRUCTURE Corrosion resistance
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低温热氧化处理温度与时间对氧化钒薄膜性能的影响
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作者 梁继然 胡明 刘志刚 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第1期43-47,共5页
采用直流对靶磁控溅射氧化钒薄膜再附加热氧化处理的方式进行金属-半导体相变特性氧化钒薄膜的制备,研究了低热处理温度下热处理温度与时间对氧化钒薄膜组分、晶体结构和相变性能的影响。新制备的氧化钒薄膜为V2O3和VO的混合相。经30... 采用直流对靶磁控溅射氧化钒薄膜再附加热氧化处理的方式进行金属-半导体相变特性氧化钒薄膜的制备,研究了低热处理温度下热处理温度与时间对氧化钒薄膜组分、晶体结构和相变性能的影响。新制备的氧化钒薄膜为V2O3和VO的混合相。经300℃/1h热处理后,薄膜内出现单斜结构VO2,薄膜具有相变特性;保持热处理时间不变,升高热处理温度至360℃,薄膜表面变得致密,致密的薄膜表面阻碍了氧气与薄膜内部V2O3和VO的反应,VO2成分含量与300℃/1h处理时的含量接近;增加热处理温度并延长热处理时间,如热处理条件为320℃/3h时,薄膜内VO2成分大量增多,电阻值变化幅度超过两个数量级;在300~360℃的热处理温度区间内,薄膜内V2O3和VO不断向VO2转变,相变性能变好,但对VO2的单斜金红石结构没有影响。 展开更多
关键词 相变氧化钒薄膜 低温热处理 直流对靶磁控溅射
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陕西省山阳县夏家店金(钒)矿地质特征、成矿模式与找矿预测 被引量:6
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作者 夏长玲 赵晓龙 +4 位作者 王瑞廷 丁坤 孟德明 周辉 杨梦林 《西北地质》 CAS CSCD 2015年第1期164-171,共8页
夏家店金矿床处于区域性山阳-凤镇、镇安-板岩镇深大断裂交汇复合构造较为复杂且强烈的特殊位置,含矿岩系为寒武系水沟口组薄互层重晶石-碳-泥-硅质板岩、泥质岩、硅质岩,容矿构造为脆-韧性断裂,属于与黑色岩系有关的金矿床。经多年勘查... 夏家店金矿床处于区域性山阳-凤镇、镇安-板岩镇深大断裂交汇复合构造较为复杂且强烈的特殊位置,含矿岩系为寒武系水沟口组薄互层重晶石-碳-泥-硅质板岩、泥质岩、硅质岩,容矿构造为脆-韧性断裂,属于与黑色岩系有关的金矿床。经多年勘查,矿床控制金、钒资源量均达中型规模。矿石类型可分为板岩角砾岩型、硅质角砾岩型、白云岩角砾岩型和混合角砾岩型4种类型。笔者详细介绍了主要矿体的地质和矿化特征,在总结矿床地质、地球化学、流体包裹体和同位素特征的基础上,进一步建立了成矿模式和找矿标志,并指出了苏岭沟和Ⅶ号矿化带倒转背斜槽部是进一步找矿工作的重点地段。 展开更多
关键词 夏家店金(钒)矿 黑色岩系 成矿模式 找矿靶位 陕西省山阳县
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钒化合物的靶点蛋白及其生物效应
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作者 杨雪 张铄 +3 位作者 黄东娜 赵琳 王婉盈 王宇传 《化学通报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第1期12-22,共11页
作为一种生物相关的金属元素,基于钒的金属化合物在糖尿病、癌症、阿尔茨海默症、神经炎症等疾病的治疗方面表现出独特的潜在应用价值。现阶段研究表明,钒发挥其生物活性主要源于钒酸根作为磷酸根类似物对细胞内磷酸转移反应的影响,及... 作为一种生物相关的金属元素,基于钒的金属化合物在糖尿病、癌症、阿尔茨海默症、神经炎症等疾病的治疗方面表现出独特的潜在应用价值。现阶段研究表明,钒发挥其生物活性主要源于钒酸根作为磷酸根类似物对细胞内磷酸转移反应的影响,及钒在细胞内经氧化还原转化产生的活性氧物质对相关信号通路的调节;而钒化合物与细胞内靶点蛋白的相互作用亦被认为是发挥其治疗作用的关键因素。本文就钒的化学性质、钒化合物与血清蛋白的结合、钒化合物对细胞内效应靶点蛋白及其作用通路的调控、细胞内金属药物靶点蛋白分析鉴定等几方面,对近年来取得的相关研究的进展进行综述,以系统性阐释钒化合物用于疾病治疗的生物活性机制,并对进一步揭示钒化合物作用机理的探索方向及其药用前景进行展望。 展开更多
关键词 钒化合物 靶点蛋白 抗糖尿病效应 神经保护机制 金属蛋白质组学
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