期刊文献+
共找到7篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
从缺陷影响看高压XLPE电缆绝缘减薄的必要性 被引量:13
1
作者 刘英 王乐 +3 位作者 王磊 曹晓珑 徐西永 纪卫 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第7期29-32,共4页
传统观念认为增厚的绝缘可以提高高压XLPE电缆的安全裕度与运行可靠性,但近年来大量的理论研究与实际运行结果都对这个观点提出了质疑。为此,利用极不均匀电场中的应力集中理论以及固体电介质的弱点击穿理论,研究了绝缘与半导电屏蔽层... 传统观念认为增厚的绝缘可以提高高压XLPE电缆的安全裕度与运行可靠性,但近年来大量的理论研究与实际运行结果都对这个观点提出了质疑。为此,利用极不均匀电场中的应力集中理论以及固体电介质的弱点击穿理论,研究了绝缘与半导电屏蔽层交界面上的凸起引起的应力集中以及绝缘本体存在的杂质、微孔等缺陷导致的弱点击穿现象。结果表明,绝缘的增厚对减小凸起处电场强度的作用不大,反而降低了电缆绝缘的最小击穿电场强度,并大大增加了成本,导致了电缆在制造、运输、敷设中的一系列问题。采用高性能原材料、改进生产加工工艺才是提高电缆性能行之有效的根本措施。 展开更多
关键词 高压XLPE电缆 厚绝缘 屏蔽凸起 杂质 微孔 应力集中 弱点击穿
下载PDF
多断口真空开关的动态介质恢复及统计特性分析 被引量:26
2
作者 廖敏夫 段雄英 +1 位作者 邹积岩 丛吉远 《中国电机工程学报》 EI CSCD 北大核心 2003年第2期82-87,共6页
从双断口真空开关的等值模型出发,分析了双断口真空开关的动态介质恢复过程,说明只要恢复电压的峰值和上升速度低于某一极限值,整个双断口真空开关并不会因为一个灭弧室发生重击穿而导致开断失败。在此基础上,理论推导得到双断口及多断... 从双断口真空开关的等值模型出发,分析了双断口真空开关的动态介质恢复过程,说明只要恢复电压的峰值和上升速度低于某一极限值,整个双断口真空开关并不会因为一个灭弧室发生重击穿而导致开断失败。在此基础上,理论推导得到双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增长倍数K_n,同时引入“击穿弱点”概念和概率统计方法,分析建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型和弧后重击穿统计分布模型,它们可以用来有力解释双断口及多断口真空开关与单断口真空开关相比开断能力有显著提高的机理。最后对电场应力x的物理意义进行了讨论,说明x实质上代表的是微粒引导真空间隙击穿所需的能量。 展开更多
关键词 多断口真空开关 动态介质恢复 真空断路器 真空灭弧室 统计特性分析
下载PDF
真空灭弧室耐压水平的改进和提高 被引量:6
3
作者 何俊佳 邹积岩 +1 位作者 张汉明 程礼椿 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第2期50-53,共4页
分析了真空灭弧绝缘击穿的物理机理,提出了击穿弱点的概念,指出真空灭弧室的绝缘击穿是击穿弱点在电场应力作用下的结果。
关键词 真空灭弧室 绝缘击穿 耐压水平
下载PDF
多断口真空开关的绝缘与击穿统计特性 被引量:20
4
作者 廖敏夫 邹继斌 +1 位作者 段雄英 孙辉 《电网技术》 EI CSCD 北大核心 2006年第5期13-17,43,共6页
从长间隙真空开关的击穿特性出发,理论推导得到了双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增益倍数,并运用“击穿弱点”的概念和概率统计方法建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型,认为无论是双断口真空开关还是n个断... 从长间隙真空开关的击穿特性出发,理论推导得到了双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增益倍数,并运用“击穿弱点”的概念和概率统计方法建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型,认为无论是双断口真空开关还是n个断口串联起来,其击穿的统计概率都比单断口的击穿统计概率小。建立了三断口真空开关试验模型, 对单断口真空灭弧室模型和三断口真空开关模型进行了大量的冲击击穿特性试验。研究表明,三断口真空灭弧室比单断口真空灭弧室具有更低的击穿概率,试验数据与理论分布曲线基本吻合。 展开更多
关键词 双断口及多断口真空开关技术 击穿电压增益 击穿弱点 统计特性 高压电器
下载PDF
真空灭弧室冲击电压作用下的击穿统计特性研究 被引量:14
5
作者 何俊佳 邹积岩 +1 位作者 张汉明 李正新 《中国电机工程学报》 EI CSCD 北大核心 1996年第5期312-314,355,共4页
本文实验测取了实际真空灭弧室在雷电冲击电压下的静态击穿统计特性。根据实验结果,引入一个特征参量x来描述电场应力的作用,指出真空灭弧室的绝缘击穿是在电场应力达到一定值后才有可能发生。借助击穿弱点的概念,从间隙击穿的微观... 本文实验测取了实际真空灭弧室在雷电冲击电压下的静态击穿统计特性。根据实验结果,引入一个特征参量x来描述电场应力的作用,指出真空灭弧室的绝缘击穿是在电场应力达到一定值后才有可能发生。借助击穿弱点的概念,从间隙击穿的微观过程出发,推导了击穿累积概率分布特性,并对理论结果和击穿机理做了分析。最后,对x参数的物理意义进行了初步探讨。 展开更多
关键词 真空灭弧室 冲击电压 统计特性 电器
下载PDF
多断口真空开关击穿电压增益与统计特性研究 被引量:2
6
作者 廖敏夫 段雄英 邹积岩 《大连理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第5期740-745,共6页
从长间隙真空开关的击穿特性出发,理论推导得到双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增益倍数Kn,同时引入"击穿弱点"概念和概率统计方法,分析建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型,发现无论是双断口真空... 从长间隙真空开关的击穿特性出发,理论推导得到双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增益倍数Kn,同时引入"击穿弱点"概念和概率统计方法,分析建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型,发现无论是双断口真空开关还是n个断口串联起来,其击穿的统计概率都要比单断口的击穿统计概率要小.为了进行实验论证,建立了三断口真空开关实验模型,对单断口真空灭弧室模型和三断口真空开关实验模型进行了大量的冲击击穿特性实验.研究表明,三断口真空灭弧室相比单断口真空灭弧室具有更低的击穿概率.试验数据与理论分布曲线基本吻合,证明理论研究结果正确. 展开更多
关键词 真空开关 击穿电压增益 击穿弱点 统计特性
下载PDF
Analysis on Dynamic Dielectric Recovery and Statistical Property of Vacuum Circuit-Breakers with Multi-Breaks
7
作者 廖敏夫 段雄英 邹积岩 《Journal of Beijing Institute of Technology》 EI CAS 2004年第1期103-108,共6页
Based on the dynamic dielectric recovery process in the vacuum gaps in series, investigations were made on post-arc insulation state in double and multi-breaks operation in high voltage power system. From the research... Based on the dynamic dielectric recovery process in the vacuum gaps in series, investigations were made on post-arc insulation state in double and multi-breaks operation in high voltage power system. From the research on the breakdown weak points in high voltage vacuum gaps, their turnout and distribution, some theoretic work were made to set up the models for describing the statistical property of multi-breaks vacuum circuit-breakers' breakdown and post-arc re-strike, which can be used for explaining the mechanism of the improvement in the breaking capacity of multi-breaks units compared with that of single-break ones which have the same equivalent gap length. The advantages of vacuum breakers with multi-breaks are proposed. 展开更多
关键词 multi-breaks dynamic dielectric recovery breakdown weak points
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部