Effect of Y_2BaCuO_5 Phase Content on Magnetic Property in Bulk Melt－textured YBCO

Bulk YBCO samples were prepared by PMP method. The nominal composition was Y123+xwt% Y211+10 wt% Ag2O (x= 0,15,25,40).The result of magnetic measurements indicated the sample with x= 1 5 at 77 K exhibited a J0 of 3. 9 ×104 A/cm2 at 0.1 T and 2. 4 ×104A/cm2 at 1.0 T.The morphology of samples suggested that fine dispersed Y2BaCuO5 phase acts as effective pinning centers.

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定锆钇合金中7种元素含量

建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定锆钇合金中Cr、Si、Y、Fe、Ca、Ti、Hf元素含量的分析方法。通过光谱干扰实验,确定了各元素分析谱线:Y 360.07 nm、Cr 267.716 nm、Si 288.158nm、Fe 238.204 nm、Ca 373.690 nm、Ti 336.121 nm、Hf 264.141 nm。进行了加标回收和精密度试验,加标回收率为90%~110%。测定值的相对标准偏差(n=7)为0.11%~0.90%。

沉淀条件对荧光级氧化钇中钙含量的影响

研究了用草酸沉淀钇制备荧光级氧化钇时加料速度、加料比、反应温度、搅拌强度和加料方式对荧光级氧化钇中钙含量的影响。结果表明:温度是影响产品中钙含量的决定性因素,实际生产中应该确保体系温度大于60℃。与此同时,荧光级氧化钇产品中的钙含量与氯化钇料液中的钙含量相关,其Ca/RE建议控制在10×10-6g/g以下。当Ca/RE高于10×10-6g/g时,采用偏正同沉加料方式有利于降低氧化钇产品中的钙含量。

钇掺杂量和膜厚对HfO_2纳米薄膜相结构的影响

二氧化铪(HfO_2)是广泛应用于微电子器件制备的电介质绝缘材料,其高介电系数四方相或立方相的稳定受掺杂元素含量和薄膜厚度的共同影响。采用纯水基溶胶-凝胶法在低阻硅基底上制备不同厚度的钇掺杂HfO_2薄膜,通过对薄膜晶相结构的X射线衍射分析,明确了四方/立方相在室温下稳定的临界钇掺杂量和临界膜厚条件,并对薄膜介电系数随晶相结构的演变以及漏电流进行了测试分析,研究结果对于HfO_2材料的微纳电容器件应用具有重要参考价值。

ICP-OES内标法测定不锈钢中硅含量

建立ICP-OES内标法测定不锈钢中硅元素含量,利用钇元素作为内标物质,有减少元素干扰和基体差异的优点,同时节约实验资源。以盐酸和硝酸的混合酸溶解不锈钢,优化ICP-OES的测试条件,选择检测谱线。本方法简单高效,方法检出限为0.028μg/m,加标回收率为104.6%,可满足产品质量控制的需要。

钢铁中Y含量测定方法的研究

试验了用等离子体发射光谱（ICP-AES）法测定钢铁中Y含量的方法,选用了最佳波长为371.030 nm作为分析曲线,测定下限为0.01μg/mL,标准回收率96%-108%,样品用HCl-HNO3分解,用基体匹配的方法消除基体效应。该法应用于球墨铸铁和中低合金钢中Y含量的测定,数值结果与光度法相近,但较为快捷。

铈基含钇片状稀土抛光粉制备及其性能

采用化学沉淀法以氯化铈和氯化钇为原料,用碳酸氢铵作为沉淀剂制备了具有良好抛光性能的无氟片状稀土抛光粉。使用X-射线衍射、扫描电镜及马尔文激光粒度仪,研究了样品的结构组成、微观形貌及粒度分布特征,并考察了钇含量对样品形貌的影响。结果表明:当样品中钇添加量为20%时,形貌为规则的片状结构,粒径分布均匀且较小,松装密度为0.36g/cm^3,抛光性能优于常规抛光粉。

预分离萃取法及其分离低钇离子稀土矿新工艺

预分离萃取法是首先用少量级数对待分离的原料进行预先分离,然后再流入级数较多的、进行相邻元素间分离的细分离工艺,从而减少进入级数较多的相邻元素分离工艺的料液量。因而,整体工艺的萃取槽体积减少25%～40%,有机相、水相及稀土金属的存槽量减少25%～40%,酸碱消耗也减少30%～40%,废水排放量大为减少。预分离工艺有多种形式,相邻元素间的细分离工艺也有多种类型。本文介绍了预分离萃取法的形成缘由、基本原理,使用这种方法的基本原则和它的各种工艺形式,以及用预分离萃取法分离低钇离子稀土矿的新工艺。