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Amorphous Silicon Films Prepared by Catalytic Chemical Vapor Deposition Method
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作者 ZHONGBoqiang HUANGCixiang 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 1998年第1期31-35,共5页
Amorphous silicon films are prepared at lower temperature of 350 ℃ by new catalytic chemical vapor deposition method.In the method,material gases (SiH 4 and H 2) are decomposed by catalytic reaction at given temper... Amorphous silicon films are prepared at lower temperature of 350 ℃ by new catalytic chemical vapor deposition method.In the method,material gases (SiH 4 and H 2) are decomposed by catalytic reaction at given temperature,so a-Si films are deposited on substrates.It is found that a-Si films with high quality can be obtain,such as high photosensitivity of 10 6,low spin density of 2.5×10 16 cm -3 . 展开更多
关键词 amorphous silicon films catalytic Chemical Vapor Depositon growth rate
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用催化CVD法研制优质a-Si薄膜 被引量:1
2
作者 钟伯强 黄慈祥 潘惠英 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1997年第6期414-417,共4页
用新的催化CVD法在约350℃的低温条件下研制出了a-Si薄膜。本方法是利用催化剂,使SiH4和H2混合气体在一定温度下反应而裂解,在衬底上沉积a-Si薄膜。所制出的a-Si薄膜具有良好的光电特性,光电灵敏度超过10... 用新的催化CVD法在约350℃的低温条件下研制出了a-Si薄膜。本方法是利用催化剂,使SiH4和H2混合气体在一定温度下反应而裂解,在衬底上沉积a-Si薄膜。所制出的a-Si薄膜具有良好的光电特性,光电灵敏度超过106,电子自旋密度约2.5×1016cm-3。 展开更多
关键词 生长速率 a-硅薄膜 催化cvd
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分步法高速沉积微晶硅薄膜 被引量:1
3
作者 高海波 李瑞 +3 位作者 卢景霄 王果 李新利 焦岳超 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2012年第1期475-481,共7页
为提高微晶硅薄膜的纵向结晶性能,在甚高频等离子体增强化学气相沉积技术的基础上,采用过渡参数缓变和两步法相结合的方法在普通玻璃衬底上高速沉积薄膜。当功率密度为2.1 W/cm^2,硅烷浓度在6%和9.6%之间变化时,从薄膜方向和玻璃方向测... 为提高微晶硅薄膜的纵向结晶性能,在甚高频等离子体增强化学气相沉积技术的基础上,采用过渡参数缓变和两步法相结合的方法在普通玻璃衬底上高速沉积薄膜。当功率密度为2.1 W/cm^2,硅烷浓度在6%和9.6%之间变化时,从薄膜方向和玻璃方向测算的Raman晶化率的差异维持在2%以内.硅烷浓度为9.6%时,薄膜沉积速率可达3.43 nm/s,从薄膜方向和玻璃方向测算的Raman晶化率分别为50%和48%,差异的相对值仅为4.O%.合理控制过渡阶段的参数变化,可使两个方向的Raman晶化率差值下降到一个百分点.表明采用新方法制备薄膜,不仅可以抑制非晶孵化层的形成,改善微晶硅薄膜的纵向结构,还为制备优质薄膜提供了较宽的参数变化空间. 展开更多
关键词 微晶硅薄膜 非晶孵化层 高速沉积 甚高频等离子体增强化学气相沉积
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