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穆瓦条纹测量的应用试验
被引量:
3
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作者
冯文灏
伍大洲
刘政荣
《测绘学报》
EI
CSCD
北大核心
1994年第4期295-301,共7页
本文在扼要叙述穆瓦条纹光学生成过程和其特点的基础上,着重介绍建立一种投资少的基准栅的方法、穆瓦条纹的计量以及穆瓦条纹测量多种环节中应注意的问题。对一个石膏模型进行了快速的测试,点位精度为±0.13mm。
关键词
穆瓦条纹测量
基准栅
脚印
摄影测量
石膏模型
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职称材料
题名
穆瓦条纹测量的应用试验
被引量:
3
1
作者
冯文灏
伍大洲
刘政荣
机构
武汉测绘科技大学
出处
《测绘学报》
EI
CSCD
北大核心
1994年第4期295-301,共7页
文摘
本文在扼要叙述穆瓦条纹光学生成过程和其特点的基础上,着重介绍建立一种投资少的基准栅的方法、穆瓦条纹的计量以及穆瓦条纹测量多种环节中应注意的问题。对一个石膏模型进行了快速的测试,点位精度为±0.13mm。
关键词
穆瓦条纹测量
基准栅
脚印
摄影测量
石膏模型
Keywords
:
moire
topography
,
grid design
,
footprint
分类号
P232 [天文地球—摄影测量与遥感]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
穆瓦条纹测量的应用试验
冯文灏
伍大洲
刘政荣
《测绘学报》
EI
CSCD
北大核心
1994
3
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