双极晶体管发射结电流趋热效应及其对结温测量的影响

研究了当双极晶体管芯片有源区出现热斑时流经其发射结的电流的趋热行为及其对用ΔＶＢＥ法测量结温的影响，提出了一种快速判定器件有源区温度分布均匀性的办法。

ΔV_(BE)测试在产线的应用

产品在封装过程中往往存在一定的缺陷需要我们在测试时加以筛选出来,而热阻对晶体管的可靠性有着重要影响,我们利用晶体管ΔVBE参数与热阻在一定条件下满足一定的关系,通过对晶体管ΔVBE参数的测试从而间接地测试热阻参数,实现对封装产品的质量控制,具有测量效率高、测试成本低、对器件无损伤等优点。文章主要描述产品在生产过程中存在的缺陷,引入ΔVBE的测试需求,介绍了ΔVBE测试的主要技术参数,ΔVBE的测试流程和ΔVBE测试在产线的实际应用。我们通过ΔVBE的测试来减少产品的缺陷,提高产品的可靠性,提高产品的质量,从而满足客户需求,增强企业的竞争力。

双极晶体管结温分布均匀性的一种判定方法

分析了当双极晶体管结温分布不均匀时用ΔＶＢＥ法测得的温度与器件结温分布以及测量条件的关系，提出了一种快速判断双极晶体管结温分布均匀性的方法．