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椭偏仪对α-Co纳米薄膜性能的研究
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作者 李雯 《科技风》 2016年第17期11-12,共2页
本文采用椭偏仪(SE)测量了不同厚度的Co纳米薄膜的椭偏参数(Ψ和Δ),结合薄膜的特性,建立最优的模型,获得了薄膜的厚度及光学性能。XRD结果表明:纳米薄膜为六方密堆结构α-Co。
关键词 椭偏仪 光学性能 α-co薄膜
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