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低能量X-RAY测厚仪与β-RAY测厚仪在薄膜生产中的应用比较
1
作者
刘伟
《电力电容器》
2001年第3期36-38,共3页
分析比较了低能量 X- RAY和β- RAY两种测厚仪在薄膜生产测量中的差别。指出低能量 X- RAY测厚仪将逐渐替代 β- RAY测厚仪 ,成为今后薄膜厚度测量的主流机型。
关键词
薄膜生产
低能量X
-ray
测厚仪
β-ray测厚仪
应用
下载PDF
职称材料
题名
低能量X-RAY测厚仪与β-RAY测厚仪在薄膜生产中的应用比较
1
作者
刘伟
机构
安徽铜峰电子股份有限公司
出处
《电力电容器》
2001年第3期36-38,共3页
文摘
分析比较了低能量 X- RAY和β- RAY两种测厚仪在薄膜生产测量中的差别。指出低能量 X- RAY测厚仪将逐渐替代 β- RAY测厚仪 ,成为今后薄膜厚度测量的主流机型。
关键词
薄膜生产
低能量X
-ray
测厚仪
β-ray测厚仪
应用
Keywords
Thickness measuring device
Film
\ Application
Comparison
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
低能量X-RAY测厚仪与β-RAY测厚仪在薄膜生产中的应用比较
刘伟
《电力电容器》
2001
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