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^(134)Cs 796 keV符合修正因子与源半径和高度关系研究
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作者 杜云武 朱杰 +4 位作者 毕朝文 王亮 罗茂丹 毛万冲 朱小铰 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2024年第6期1112-1117,共6页
为准确测量源^(134)Cs活度浓度,研究源^(134)Cs特征γ射线符合修正因子与源半径和高度关系。针对其796 keVγ射线,依据衰变纲图分解^(134)Cs衰变为三个过程,采用蒙特卡罗仿真30种不同半径和高度源^(134)Cs衰变过程,记录每个过程无符合... 为准确测量源^(134)Cs活度浓度,研究源^(134)Cs特征γ射线符合修正因子与源半径和高度关系。针对其796 keVγ射线,依据衰变纲图分解^(134)Cs衰变为三个过程,采用蒙特卡罗仿真30种不同半径和高度源^(134)Cs衰变过程,记录每个过程无符合计数和符合计数,开展源^(134)Csγ能谱特征峰和符合修正分析。研究表明:^(134)Csγ能谱796 keV特征峰由三个不同衰变过程决定,并且每个均有发生符合相加概率,源^(134)Cs 796 keVγ射线符合修正因子与源半径和高度为二元五次多项式关系,源高度对符合修正因子影响较大,源半径对符合修正因子影响相对较小。 展开更多
关键词 源半径和高度 ^(134)Cs特征 γ能峰 符合修正
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