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NaI(Tl)-HPGeγ-γ符合谱仪系统死时间校正方法 被引量:4
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作者 仇九子 王书志 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 1996年第3期232-234,共3页
本文讨论了NaI(TI)-HPGcγ-γ符合谱仪系统死时间的校正方法。用双源法分别对符合道和分析道的死时间进行了测量,给出了γ-γ符合谱仪系统死时间校正因子的计算公式。并将该公式应用于核数据的测量工作中,对测量的γ活... 本文讨论了NaI(TI)-HPGcγ-γ符合谱仪系统死时间的校正方法。用双源法分别对符合道和分析道的死时间进行了测量,给出了γ-γ符合谱仪系统死时间校正因子的计算公式。并将该公式应用于核数据的测量工作中,对测量的γ活性进行了死时间的校正。 展开更多
关键词 γ-γ符合谱仪 死时间 校正因子
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