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NaI(Tl)-HPGeγ-γ符合谱仪系统死时间校正方法
被引量:
4
1
作者
仇九子
王书志
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第3期232-234,共3页
本文讨论了NaI(TI)-HPGcγ-γ符合谱仪系统死时间的校正方法。用双源法分别对符合道和分析道的死时间进行了测量,给出了γ-γ符合谱仪系统死时间校正因子的计算公式。并将该公式应用于核数据的测量工作中,对测量的γ活...
本文讨论了NaI(TI)-HPGcγ-γ符合谱仪系统死时间的校正方法。用双源法分别对符合道和分析道的死时间进行了测量,给出了γ-γ符合谱仪系统死时间校正因子的计算公式。并将该公式应用于核数据的测量工作中,对测量的γ活性进行了死时间的校正。
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关键词
γ-γ符合谱仪
死时间
校正因子
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职称材料
题名
NaI(Tl)-HPGeγ-γ符合谱仪系统死时间校正方法
被引量:
4
1
作者
仇九子
王书志
机构
兰州大学现代物理系
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第3期232-234,共3页
文摘
本文讨论了NaI(TI)-HPGcγ-γ符合谱仪系统死时间的校正方法。用双源法分别对符合道和分析道的死时间进行了测量,给出了γ-γ符合谱仪系统死时间校正因子的计算公式。并将该公式应用于核数据的测量工作中,对测量的γ活性进行了死时间的校正。
关键词
γ-γ符合谱仪
死时间
校正因子
Keywords
γ-
γ coincidence spoctrometerer Deadtime Coefficint of correction
分类号
TL817.2 [核科学技术—核技术及应用]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
NaI(Tl)-HPGeγ-γ符合谱仪系统死时间校正方法
仇九子
王书志
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996
4
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