北京谱仪μ子计数器性能的研究

研究了北京谱仪μ子计数器的性能,对刻度和重建方法作了改进和完善,纠正了在γ-φ方向上μ子鉴别的系统偏差,更好地确定了z向位置坐标,改善了位置分辨率。

北京谱仪μ子计数器离线数据刻度研究

介绍了北京谱仪(BES)μ子计数器的结构,分析了μ子计数器z向位置分辨变坏的主要因素,通过研究μ子计数器离线数据刻度基本原理和刻度方法,采用新的刻度方法解决了μ子计数器z向位置分辨变坏的问题,使μ子计数器z向位置分辨提高了20％。