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北京谱仪Ⅱ上利用效率比方法进行μ鉴别的研究(英文)
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作者 郭云均 何康林 《高能物理与核物理》 CSCD 北大核心 2007年第11期1050-1055,共6页
北京谱仪Ⅱ的μ探测器的位置分辨和击中效率与带电粒子的动量和入射位置有关,利用选取的宇宙线样本和强子样本对μ探测器逐层进行了标度,并利用构造的效率比函数在物理分析中有效地识别μ和强子.
关键词 μ鉴别 宇宙线 位置分辨 击中效率 效率比方法
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