微米级炸药晶体缺陷的μVCT试验研究

炸药晶体内部缺陷是影响炸药材料性能的一个关键因素。本文利用微焦点X射线体式CT(μVCT)技术研究了典型炸药奥克托今(HMX)晶体的内部结构,并对HMX晶体的孔隙率进行了定量分析。结果发现一般HMX晶体内部含有较多的微米级孔隙,其面孔隙率可高达1%～2%,揭示了炸药件初始损伤的存在并解释了炸药晶体密度与其理论密度有差异的原因;而经过一定工艺处理后的HMX晶体内部孔隙则有效地减少,晶体密度和材料性能均能明显提升。研究表明对于几十微米以上尺寸的HMX炸药晶体,μVCT可有效地研究其内部结构并实现对其内部细小孔隙缺陷的定量,为深入研究炸药件成型性能和损伤破坏机理提供了一种直观的、可靠的实验手段。

微焦点CT在含能材料密度测试中的应用研究

本文利用微焦点体积CT(μVCT)技术和同步测试方法,研究含能材料体密度与体积CT灰度值的相互关系,探讨相近密度范围内含能材料试件的密度测试方法。采用该方法可以分辨出样件间0.1%的密度差;在样件密度变化范围为2.5%时,试件体密度-体积CT灰度值的线性相关系数达到0.999。