π网络零相位法石英晶片的单片机测试系统设计

以测试晶片谐振频率和谐振电阻的π网络零相位法测试技术，并在此基础上设计π网络零相位法石英晶片的单片机测试系统。该方法符合国际标准，其性能指标优于国内普遍采用的振荡器法和阻抗计法。该系统完全由单片机进行控制，测试速度快，精度高，并且能与PC机连接，具有很强的灵活性。

用于石英晶体测试的双通道鉴相系统设计

为提高石英晶体的测试效率，搭建了双独立通道的鉴相系统。该系统采用同一DDS信号源同时激励两个π网络电路，设计了两个独立的鉴相电路，可实现两个通道同时鉴相。该系统采用差频鉴相的方法，使用AD8302作为鉴相器件，在提高鉴相的效率的同时确保了π网络零相位法的检测精度。为验证其可行性，将该系统应用到石英晶体电参数测量系统中。该双独立通道鉴相系统的频率测试范围为1~200 MHz，实验结果表明，鉴相精度达到±1°，满足石英晶体的测试需要。

DDS技术在高频石英晶体测试系统中的应用

在此介绍了一种以DDS芯片AD9912作为信号源的高频石英晶体测试系统。AD9912是一款直接数字频率合成芯片。一方面,AD9912内部时钟速度可高达1GSPS,并集成了14位数/模转换器,可以直接输出400 MHz信号;另一方面,AD9912的频率控制字为48位,可以小于4μHz的分辨率输出信号。由于采用了DDS芯片AD9912作为信号源,所设计的石英晶体测试系统能够在20kHz～400MHz范围内测试石英晶体的串联谐振频率。与国内目前普遍使用的基于振荡器和阻抗计测试方法的测试仪相比,该测试系统具有测试频率范围宽、重复精度高等优点。