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X射线ω扫描方法在Ni-Fe合金镀层织构表征中的应用
1
作者
王黎东
车春波
+1 位作者
冒心远
费维栋
《工程与试验》
2009年第4期25-27,66,共4页
X射线ω扫描技术是一种较方便地确定和分析薄膜织构的方法,能够克服常规XRD方法测定薄膜纤维织构难获得薄膜信息的问题。本文对这种方法进行了介绍,利用电镀法在2024铝合金上制备了不同电镀时间的Ni-Fe合金镀层,利用X射线ω扫描技术对...
X射线ω扫描技术是一种较方便地确定和分析薄膜织构的方法,能够克服常规XRD方法测定薄膜纤维织构难获得薄膜信息的问题。本文对这种方法进行了介绍,利用电镀法在2024铝合金上制备了不同电镀时间的Ni-Fe合金镀层,利用X射线ω扫描技术对镀层进行织构表征,对电镀时间与织构特性的关系进行了讨论。
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关键词
Ni-Fe合金镀层
铝合金
ω扫描
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职称材料
ω扫描和φ扫描在薄膜结构表征中的应用
2
作者
秦冬阳
卢亚锋
+2 位作者
张孔
刘茜
周廉
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第14期125-128,共4页
X射线衍射作为一种无损检测手段已经广泛应用于薄膜材料的结构分析和相分析。ω扫描和φ扫描都基于布拉格方程,可以对薄膜材料丝织构和面内织构进行表征。着重阐述了这两种扫描方式的X射线衍射几何、相关原理和在X射线四圆衍射仪实验过...
X射线衍射作为一种无损检测手段已经广泛应用于薄膜材料的结构分析和相分析。ω扫描和φ扫描都基于布拉格方程,可以对薄膜材料丝织构和面内织构进行表征。着重阐述了这两种扫描方式的X射线衍射几何、相关原理和在X射线四圆衍射仪实验过程中的实验参数设置,并介绍了它们的适用范围。最后列举了两种方法在金属薄膜、氧化物薄膜和半导体薄膜结构分析中的应用,显示出这两种表征手段在薄膜结构表征中的优势。
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关键词
ω扫描
φ
扫描
薄膜
织构
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职称材料
Ω扫描在分选双旋转石英白片中的应用
3
作者
邹伟
《电光系统》
2000年第1期61-64,共4页
关键词
ω扫描
石英
旋转角度
白片
晶体振荡器
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职称材料
Ni/Y_2O_3/YSZ/CeO_2/YBCO高温超导膜的织构分析
4
作者
纪红
王超群
+1 位作者
杨坚
屈飞
《物理测试》
CAS
2006年第5期1-4,共4页
YBCO高温超导体有着广阔的应用前景,为改善其弱连接,通常要求强的c轴织构以提高临界电流密度值。通过RABiTS法可以在具有双轴织构的金属基底上外延生长出织构峰锐、组分单一的超导膜。为了减少晶格失配,通常需要在金属基体和超导层之间...
YBCO高温超导体有着广阔的应用前景,为改善其弱连接,通常要求强的c轴织构以提高临界电流密度值。通过RABiTS法可以在具有双轴织构的金属基底上外延生长出织构峰锐、组分单一的超导膜。为了减少晶格失配,通常需要在金属基体和超导层之间加入缓冲层。文章用2θ-θ扫描、扫描和ω扫描及极图法,对具有多层氧化物缓冲层的Ni/Y2O3/YSZ/CeO2/YBCO超导膜的织构进行了分析,表征了超导体由镍基带的立方织构{001}<100>经缓冲层的转动立方织构{001}<110>再到超导层的c轴织构的传递过程。
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关键词
织构
超导膜
极图
ω扫描
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职称材料
题名
X射线ω扫描方法在Ni-Fe合金镀层织构表征中的应用
1
作者
王黎东
车春波
冒心远
费维栋
机构
哈尔滨工业大学材料科学与工程学院
哈尔滨商业大学食品工程学院环境工程系
出处
《工程与试验》
2009年第4期25-27,66,共4页
文摘
X射线ω扫描技术是一种较方便地确定和分析薄膜织构的方法,能够克服常规XRD方法测定薄膜纤维织构难获得薄膜信息的问题。本文对这种方法进行了介绍,利用电镀法在2024铝合金上制备了不同电镀时间的Ni-Fe合金镀层,利用X射线ω扫描技术对镀层进行织构表征,对电镀时间与织构特性的关系进行了讨论。
关键词
Ni-Fe合金镀层
铝合金
ω扫描
Keywords
Ni-Fe alloy coatings
aluminum alloy
ω-scan
分类号
O766.3 [理学—晶体学]
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职称材料
题名
ω扫描和φ扫描在薄膜结构表征中的应用
2
作者
秦冬阳
卢亚锋
张孔
刘茜
周廉
机构
西安交通大学金属材料强度国家重点实验室
西北有色金属研究院
中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室
出处
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第14期125-128,共4页
基金
国家科技支撑计划课题(2007BAE07B01)
文摘
X射线衍射作为一种无损检测手段已经广泛应用于薄膜材料的结构分析和相分析。ω扫描和φ扫描都基于布拉格方程,可以对薄膜材料丝织构和面内织构进行表征。着重阐述了这两种扫描方式的X射线衍射几何、相关原理和在X射线四圆衍射仪实验过程中的实验参数设置,并介绍了它们的适用范围。最后列举了两种方法在金属薄膜、氧化物薄膜和半导体薄膜结构分析中的应用,显示出这两种表征手段在薄膜结构表征中的优势。
关键词
ω扫描
φ
扫描
薄膜
织构
Keywords
ω scan, Ф scan, thin film, texture
分类号
O722.2 [理学—晶体学]
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职称材料
题名
Ω扫描在分选双旋转石英白片中的应用
3
作者
邹伟
出处
《电光系统》
2000年第1期61-64,共4页
关键词
ω扫描
石英
旋转角度
白片
晶体振荡器
分类号
TN752 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
Ni/Y_2O_3/YSZ/CeO_2/YBCO高温超导膜的织构分析
4
作者
纪红
王超群
杨坚
屈飞
机构
北京有色金属研究总院测试所
出处
《物理测试》
CAS
2006年第5期1-4,共4页
基金
国家高技术研究发展计划(2004AA306130)
文摘
YBCO高温超导体有着广阔的应用前景,为改善其弱连接,通常要求强的c轴织构以提高临界电流密度值。通过RABiTS法可以在具有双轴织构的金属基底上外延生长出织构峰锐、组分单一的超导膜。为了减少晶格失配,通常需要在金属基体和超导层之间加入缓冲层。文章用2θ-θ扫描、扫描和ω扫描及极图法,对具有多层氧化物缓冲层的Ni/Y2O3/YSZ/CeO2/YBCO超导膜的织构进行了分析,表征了超导体由镍基带的立方织构{001}<100>经缓冲层的转动立方织构{001}<110>再到超导层的c轴织构的传递过程。
关键词
织构
超导膜
极图
ω扫描
Keywords
texture
superconductor thin film
polarogram
ω scan
分类号
TM26 [一般工业技术—材料科学与工程]
TB383.2 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
X射线ω扫描方法在Ni-Fe合金镀层织构表征中的应用
王黎东
车春波
冒心远
费维栋
《工程与试验》
2009
0
下载PDF
职称材料
2
ω扫描和φ扫描在薄膜结构表征中的应用
秦冬阳
卢亚锋
张孔
刘茜
周廉
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011
0
下载PDF
职称材料
3
Ω扫描在分选双旋转石英白片中的应用
邹伟
《电光系统》
2000
0
下载PDF
职称材料
4
Ni/Y_2O_3/YSZ/CeO_2/YBCO高温超导膜的织构分析
纪红
王超群
杨坚
屈飞
《物理测试》
CAS
2006
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
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