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探针台“四芯”测试算法应用研究
1
作者
胡晓霞
李猛
+1 位作者
方敏晰
温建军
《电子工业专用设备》
2022年第6期49-52,66,共5页
介绍了探针测试的现状,基于探针设备的硬件结构,探索设计一种“四芯”测试算法,达到提高测试效率的目标。实验结果表明了“四芯”测试算法的可行性及有效性。
关键词
探针台
“四芯”测试
晶圆
测试
下载PDF
职称材料
题名
探针台“四芯”测试算法应用研究
1
作者
胡晓霞
李猛
方敏晰
温建军
机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
三河建华高科有限责任公司
出处
《电子工业专用设备》
2022年第6期49-52,66,共5页
文摘
介绍了探针测试的现状,基于探针设备的硬件结构,探索设计一种“四芯”测试算法,达到提高测试效率的目标。实验结果表明了“四芯”测试算法的可行性及有效性。
关键词
探针台
“四芯”测试
晶圆
测试
Keywords
Probe system
“Four Sites”testing
Wafer probe
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
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作者
出处
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1
探针台“四芯”测试算法应用研究
胡晓霞
李猛
方敏晰
温建军
《电子工业专用设备》
2022
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