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探针台“四芯”测试算法应用研究
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作者 胡晓霞 李猛 +1 位作者 方敏晰 温建军 《电子工业专用设备》 2022年第6期49-52,66,共5页
介绍了探针测试的现状,基于探针设备的硬件结构,探索设计一种“四芯”测试算法,达到提高测试效率的目标。实验结果表明了“四芯”测试算法的可行性及有效性。
关键词 探针台 “四芯”测试 晶圆测试
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