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多晶硅电池组件“线”型裂纹的研究
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作者 李英剑 《电子技术与软件工程》 2013年第15期119-119,共1页
多晶光伏组件的电池片裂纹质量风险最大,通过EL测试仪检测组件是一种常用方法。由于电池晶界、位错或表面损伤易存在辨识错误的情况发生。本文通过对"线"型裂纹的特点研究,从而达到辨识该种裂纹的目的。
关键词 “线”型裂纹 EL测试 分辨率
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