NI将举办第二届“设计、验证及测试论坛”

为了给广大测试测量行业工程技术人员提供一个更好的学习与交流平台，美国国家仪器中国有限公司(NI公司)于2005年4月15日在上海国际会议中心举行了第二届DVTF论坛。此次论坛邀请了包括英特尔(Intel)、科梁科技(AEETEK)、Quanser、博软自动化技术(CyboSoft)在内的数家业内领先企业加盟。

NI成功主办第三届“设计、验证及测试论坛”

近日，美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）于9月底在北京成功主办第三届“设计、验证及测试论坛”（Design Validation and Test Forum，即DVTF2006）。本届DVTF是继2004和2005年之后，NI连续第三年在中国地区成功地举办这一活动，并且DVTF的品牌业已在行业用户和媒体间确立了相当的知名度。

NI成功主办第3届“设计、验证及测试论坛”

美国国家仪器有限公司（NI）于9月底在北京成功主办第3届“设计、验证及测试论坛”（DVTF 2006．design validation and test forum2006）。本届论坛以一场形式新颖的主题演讲开始，并分为“自动化测试”和“嵌入式系统设计”两大专题技术讲座，吸引了逾600位工程师、技术人员和院校师生参与。

NI成功主办第三届“设计、验证及测试论坛”

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）于9月底在北京成功主办第三届”设计、验证及测试论坛”（Design Validation and Test Forum，即DVTF 2006）。本届DVTF是继2004和2005年之后，NT连续第三年在中国地区成功地举办这一活动，并且DVTF的品牌业已在行业用户和媒体间确立了相当的知名度。

NI中国成功举办第二届“设计、验证及测试论坛”

本刊讯：2005年5月，NI公司于4月在上海国际会议中心成功主办第二届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation Test Forum，即DVTF2005)，今年的主题为”测试紧跟设计的步伐”。本届论坛总共吸引了逾500住工程师、技术人员和院校教师参与此次盛会，其中97．1％的来宾表示”此次活动对他们的工作有所帮助”，70％将会推荐他们的同事参加明年的”设计、验证及测试论坛”。在此次论坛期间，NI提出了若干驱动虚拟仪器技术发展的主导商业技术，并着重强调了PCIExpress和FPGA这两项。

NI将于4月主办第二届“设计、验证及测试论坛”

2005年2月，NI公司宣布主办第二届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation Test Forurn，即DVTF 2005)。延承2004年第一届DVTF的成功之势，本届论坛将于2005年4月15日在上海国际会议中心举行，NI诚邀行业内外相关领域的多家优秀企业，如英特尔(Intel)、科梁科技(AEETEK)等共同参与，为广大测试测量行业的工程技术人员提供一个绝佳的学习与交流平台。

NI将联合泰克等业内公司主办第三届“设计、验证及测试论坛”

继2004和2005年连续在中国地区成功举办两届“设计、验证及测试论坛”（Design Validation TestForum，即DVTF）之后，美国国家仪器中国有限公司（Nationallnstruments，简称NI）宣布即将于今年9月在北京天鸿科园大酒店主办第三届DVTF活动。除了两年来王牌的自动化测试主题，嵌入式系统设计也将成为今年的亮点。

NI将于4月主办第二届“设计、验证及测试论坛”

美国国家仪器有限公司NI宣布主办第二届“设计、验证及测试论坛”。延承2004年第一届DVTF的成功之势，本届论坛将于2005年4月15日在上海国际会议中心举行，NI诚邀行业内外相关领域的多家优秀企业，如英特尔(Intel)、科梁科技（AEETEK)等其同参与，为广大测试测量行业的工程技术人员提供一个绝佳的学习与交流平台。

NI将于4月主办第二届“设计、验证及测试论坛”

2005年2月美国国家仪器有限公司(简称NI)宣布主办第二届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation Test Forum，即DVTF 2005)。延承2004年第一届DVTF的成功之势，本届论坛将于2005年4月15日在上海国际会议中心举行，NI诚邀行业内外相关领域的多家优秀企业，如英特尔(Intel)、科梁科技(AEETEK)等共同参与，为广大测试测量行业的工程技术人员提供一个绝佳的学习与交流平台。

NI中国成功举办第二届“设计、验证及测试论坛”

美国国家仪器有限公司于4月在上海国际会议中心成功主办第二届“设计、验证及测试论坛”，今年的主题为“测试紧跟设计的步伐”。本届论坛总共吸引了逾500位工程师、技术人员和院校教师参与此次盛会，其中97．1％的来宾表示“此次活动对他们的工作有所帮助”，70％将会推荐他们的同事参加明年的“设计、验证及测试论坛”。在此次论坛期间，NI提出了若干驱动虚拟仪器技术发展的主导商业技术，并着重强调了PCI Express和FPGA这两项。

NI将于4月主办第二届“设计、验证及测试论坛”

美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)宣布主办第二届”设计、验证及测试论坛”（Design Validation Test Forum，即DVTF 2005)。延承2004年第一届DVTF的成功之势，

NI将于4月主办第二届“设计、验证及测试论坛”

近日，美国国家仪器有限公司(NI）宣布将主办第二届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation Test Forum，即DVTF 2005）。

NI成功主办第三届“设计、验证及测试论坛”

美国国家仪器有限公司（National Insturmetns，简称NI）于9月底在北京成功主办第三届“设计、验证及测试论坛”（Design Validation and Test Forum，即DVTF 2006），本届DVTF是继2004和2005年之后，NI连续第三年在中国地区成功地举办这一活动，并且DVTF的品牌业已在行业用户和媒体间确立了相当的知名度。

NI 中国成功举办第二届“设计、验证及测试论坛”

2005年5月NI于4月在上海国际会议中心成功主办第二届“设计、验证及测试论坛”(Design Vaiidation Test Forum，即DVTF 2005)，今年的主题为“测试紧跟设计的步伐”。本届论坛总共吸引了逾500位工程师、技术人员和院校教师参与此次盛会，其中97．1％的来宾表示“此次活动对他们的工作有所帮助”，70％将会推荐他们的同事参加明年的“设计、验证及测试论坛”。

一种两地三中心高可用数据库架构设计及验证测试

目前,两地三中心已成为大型企业数据中心建设的主要模式,为企业提供更加安全、稳定、高效的信息化平台,保障企业信息系统安全高效运营,满足不同故障和灾难场景下对业务连续性的要求。基于开源的关系型数据库管理系统PostgreSQL和开源的分布式协调服务ZooKeeper,文章设计了一种两地三中心高可用数据库架构,能够实现分布式事务一致性及故障场景下数据库高可用,并通过故障场景测试用例对其进行验证测试。测试表明,按照该架构设计部署的两地三中心数据库,当常见故障发生时,数据库均可自动进行故障隔离,且数据零丢失,能够持续稳定地提供数据访问服务,不会影响到上层业务。该数据库架构设计节约软件成本,透明可靠、安全性高,并可针对实际需要进行定制。另外,数据存储介质使用的是服务器本地盘而非集中存储,有利于降低数据库建设成本和运维成本。

一种FPGA通用IO口的验证设计和简易测试方法

文章给出了一种FPGA通用IO的验证设计和简易测试方法,通过最小硬件原理设计对输入IO口、输出IO口、混合IO口提出了详细的软件设计示例,并对三种软件示例测试方法进行比对分析。

基于三相模拟乘法器的交流充电桩测试线设计与实验验证

对电动汽车充电桩进行计量法制管理,加强其计量监管,能够保证充电桩电能量值的准确可靠,维护电能贸易结算的公平和公正。文章设计并验证了一种基于三相模拟乘法器的交流充电桩测试线,旨在提高电动汽车充电桩的计量准确性和监管效率。实验结果表明,该测试线具有准确度高、使用简单、价格低廉等特点,可随时自查充电桩的有功电能误差,确保充电桩运营公司的计量计费的公平公正,为电动汽车行业的健康发展提供重要支持。