基于高光谱成像技术的“达碧兹”电气石光谱与可视化研究

“达碧兹”电气石是比较少见的电气石品种,使用常规宝石鉴定仪器、红外光谱仪、X射线荧光光谱仪及高光谱成像技术对其进行测试分析。旨在探讨高光谱成像技术在复杂样品中的应用,丰富“达碧兹”电气石的多角度研究。“达碧兹”电气石内部存在丰富的平行排列的管状包裹体和黑色固体包裹体。视觉上呈现的边界差异来源于平行管状包裹体的多方向性分布。六方柱a区的平行管状包裹体近乎垂直于c轴排列;而在三方单锥r区,由“达碧兹”三条黑臂划分的三个菱形区域的管状包裹体沿c轴方向分别呈现10°~30°向外辐射的夹角。“达碧兹”现象的出现,来源于黑色包裹体从中部向外三个方向延伸,大量附着于管状包裹体的外部或包裹在其内部。使用高光谱成像技术,获取“达碧兹”电气石的感兴趣区域的平均反射率谱线与可视化图像。高光谱图谱与选区明暗变化一致,出现位于紫区440 nm、橙红区610 nm为中心的宽吸收带。结合成分分析致色元素Cr、V含量较高,认为绿色是由于Cr^(3+)的d—d电子跃迁和V^(3+)的d电子自旋允许跃迁共同作用所致。可视化图像显示样品的测试状态,沿c轴方向,边缘六方柱a逐渐消失,中心三方单锥r逐渐占据整个平面。计算像元比,绿区与整个平面的像元数比值范围在16.81%~49.96%。切片双面的黑臂占比不一致,晶体两端的黑色包裹体数量不呈现线性关系,而是沿+c轴方向,变化率提高。所提出的方法能够快速识别和分析“达碧兹”电气石中不同成分的分布和浓度以及提供矿物内部结构和晶体取向的详细信息;识别矿物中的微小包裹体,对于了解矿物的成因过程和环境条件具有重要意义。