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多参数数据采集模块的设计
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作者 徐正明 石晓晶 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2013年第12期18-20,共3页
针对传统的数据采集模块存储量不大、通用性欠佳的缺陷,提出了一种在下位机可设置参数的数据采集模块。以MSP430F149作为微控制器进行功能控制,由键盘设置采集模式、量程范围、采集通道、工程量转换单位和标定模式等参数增强了模块的通... 针对传统的数据采集模块存储量不大、通用性欠佳的缺陷,提出了一种在下位机可设置参数的数据采集模块。以MSP430F149作为微控制器进行功能控制,由键盘设置采集模式、量程范围、采集通道、工程量转换单位和标定模式等参数增强了模块的通用性,TFT液晶显示器为模块提供了良好的人机交互界面,SD卡实现了采集数据的大容量存储。实验表明,该方案设计的数据采集模块满足了数据采集的通用性、准确性、实时性、可靠性的要求,实现了模块的智能化,达到了预期效果。 展开更多
关键词 数据采集 参数设置 TFT液晶显示器 SD存储卡
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21世纪高产梳棉机的新发展 被引量:6
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作者 秦贞俊 《纺织器材》 2009年第S1期16-21,共6页
介绍了慕尼黑ITMA 2007展出的德国特吕茨勒公司在DK803型、DK903型的基础上新近研发的TC-03、TC-06、TC-07、TC5-1、TC5-3型高产梳棉机。这些高产梳棉机除了继续沿用DK803型及DK903型的一些技术优点外,对梳棉机做了许多重要改进,如:抬... 介绍了慕尼黑ITMA 2007展出的德国特吕茨勒公司在DK803型、DK903型的基础上新近研发的TC-03、TC-06、TC-07、TC5-1、TC5-3型高产梳棉机。这些高产梳棉机除了继续沿用DK803型及DK903型的一些技术优点外,对梳棉机做了许多重要改进,如:抬高了梳棉机锡林位置,增加梳理弧长度;固定盖板及吸尘罩的新型设计及配置;增加对刺辊落棉的智能管理功能;活动盖板隔距的精确调节;梳棉机传动系统、吸风系统的改进;以及触摸式彩屏显示的设计和控制系统等。瑞士立达公司的C60型梳棉机将机幅加宽到1.5 m,在其它条件不变的情况下,可增加单产50%,并可快速变换成三刺辊供转杯纺纱。 展开更多
关键词 高产梳棉机 简便喂入装置 固定齿条盖板 活动弹性盖板 隔距 磁力盖板 精密匀整系统 在线检测装置 自动换筒装置
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里耶秦简“笥牌”读札 被引量:2
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作者 董飞 《宝鸡文理学院学报(社会科学版)》 2020年第6期22-27,68,共7页
笥一般用作文书的收纳、存放使用。就其使用状态而言可以分为两类:一类用作行政文书的收纳,吏员根据办公的需要取出或放入相应的文书,这一类笥处于使用状态,其上悬挂的笥牌书写格式一般为“年代”+“事项”,部分在“事项”之后还有“具... 笥一般用作文书的收纳、存放使用。就其使用状态而言可以分为两类:一类用作行政文书的收纳,吏员根据办公的需要取出或放入相应的文书,这一类笥处于使用状态,其上悬挂的笥牌书写格式一般为“年代”+“事项”,部分在“事项”之后还有“具此中”字样;另一类笥用作文书存档,其中的文书均已处理完毕,这一类笥及其中的文书一般处于封存状态,其上悬挂的笥牌会有“已事”字样。再者,前一类笥中的文书若是处理完毕,便会移至“已事”笥中存放,笥牌随之废弃,部分笥牌被二次利用。若是文书的时效性不强,属于法律、章程或需要长期办理的“从人”类文书等等,则单独存放于笥中,笥牌上没有年份等时间信息。此外,迁陵县早期事务较少,因此存在将几个笥中的文书合并至一个笥中存放的情况。 展开更多
关键词 笥牌 里耶秦简 文书行政
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BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计
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作者 周传兴 董明义 +2 位作者 鞠旭东 董静 欧阳群 《核电子学与探测技术》 北大核心 2017年第3期225-230,共6页
为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描... 为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描等初步测试。芯片的探针台测试不仅在非邦定的情况下完成了芯片的筛选,同时可为后续芯片在探测器上工作时的阈值等参数配置提供参考。 展开更多
关键词 单片型有源像素芯片 硅像素探测器 探针卡 芯片探针台测试
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IC智能卡失效机理研究 被引量:4
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作者 朱笑鶤 倪锦峰 王家楫 《复旦学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期149-154,共6页
IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造... IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析实例,对引起这些失效的根本原因作了深入探讨,就提升制造成品率、改善可靠性提出应对措施. 展开更多
关键词 IC智能卡 失效机理 引线键合 静电放电 芯片 IC卡 碎裂 性问题 电损伤 影响
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