一次性可编程存储器的数据保持特性建模及分析

基于300 mm 0.18μm MS 5 V工艺平台设计并流片了1k×16一次性可编程OTP器件,并对存储单元的结构、工作原理及工艺等可能影响数据保持寿命的因素进行了分析。根据Arrhenius寿命模型对不同样品设置了高温老化实验测试,收集数据并对OTP器件的保持特性进行建模。通过225℃、250℃和275℃条件下的高温老化加速实验,拟合样品最大数据保持时间曲线。在生产过程中可能出现的最差产品条件下,对1/(kT)与数据保持时间曲线进行数学拟合,计算在不同失效条件下的浮栅电荷泄漏的激活能和最大数据保持时间。

OTP存储器位线负载对读出速度的影响

在OTP存储器设计中,随着存储器容量的不断加大,位线负载也相应变大,可能导致读机制失效。为了防止发生读机制失效,需增加灵敏放大器充电时间,但是延长充电时间会影响读取速度。在分析OTP存储器灵敏放大器工作原理的基础上,重点研究了位线负载对读出速度的影响。通过仿真,优化了OTP存储器的读出电路参数。

PIC12C508/509单片机实时电路设计

对小巧的８脚单片机ＰＩＣ１２Ｃ５０８／５０９的性能特点作了简要介绍。着重讨论了在实时系统中该种单片机工作振荡方式的选择以及工作电压、环境温度对振荡频率的影响。ＰＩＣ１２Ｃ５０８／５０９具有非常广泛的应用领域。

基于片外SPI Flash的OTP烧录器的设计与实现

对于内部集成了OTP的MCU/SoC芯片,客户在量产期间需要较方便地实现这类芯片的一次性编程烧写功能,因此OTP烧录器必不可少。该文以一款内部集成32位嵌入式CPU核和OTP的MCU芯片为例,开发一款基于外部SPI Flash的OTP烧录器。首先介绍了OTP烧录器的框架,然后从硬件和软件两个方面详细阐述了具体的实现方法,实际应用表明设计达到了预期的要求。