中心掺杂单缺陷层一维光子晶体带隙缺陷特性

在一维光子晶体（1D PC）结构中心掺杂单个缺陷层,采用传输矩阵法,通过Fortran语言编程进行数值计算,获得了中心掺杂单缺陷层一维光子晶体透射谱;分析并讨论了改变缺陷层折射率值（n′2,n′3）、缺陷层两端的基本周期层数N等因素时光子带隙的缺陷特性。结果表明,在一定范围内调节缺陷层折射率n′2或n′3的值,缺陷带隙的透射率的值呈明显先增大后减小的趋势;此外,在（n′2,n′3）=（2.0,3.0）的条件下,随着N从3增加至10,缺陷带隙的透射率值迅速从0.735 9降至0.032 4,缺陷带隙频宽也相应地从0.047 0减小至0;而光子带隙的归一化频率均为0.230 0-0.320 0,即N不影响光子带隙的频宽。