不同涂层对微粗糙基底的极化光散射影响

为了研究涂层与基底间的极化光散射,应用一阶矢量衍射理论推导出基底极化双向反射分布函数(PBRDF)。将理论分析结果与实验数据比较并数值模拟分析了在相关和非相关模型下,SiO2和TiO2涂层厚度对PBRDF的影响。考察了不同折射率对基底PBRDF的影响。结果表明随着SiO2涂层厚度的增加,相关和非相关模型下的PBRDF逐渐靠近同时逐渐和裸基底重合,即能逐渐复现基底的粗糙度轮廓;随着TiO2涂层厚度的增加,PBRDF逐渐变大,即TiO2涂层对基底有较好的平滑作用。折射率的实部和虚部对PBRDF的影响相反。因此通过对不同涂层PBRDF进行测量和计算可以反演出基底的光学信息。