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一种新的高成品率InP基T型纳米栅制作方法
被引量:
7
1
作者
石华芬
张海英
+3 位作者
刘训春
陈宝钦
刘明
王云翔
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第4期411-415,共5页
提出了一种新的 PMMA/ PMGI/ PMMA三层胶复合结构 ,通过一次对准和电子束曝光、多次显影在 In PPHEMT材料上制作出高成品率的 T型纳米栅 .在曝光显影条件变化 2 0 %的情况下 ,In P HEMT成品率达到 80 %以上 ;跨导变化范围在 5 90~ 6 10...
提出了一种新的 PMMA/ PMGI/ PMMA三层胶复合结构 ,通过一次对准和电子束曝光、多次显影在 In PPHEMT材料上制作出高成品率的 T型纳米栅 .在曝光显影条件变化 2 0 %的情况下 ,In P HEMT成品率达到 80 %以上 ;跨导变化范围在 5 90~ 6 10 m S/ mm,夹断电压为 - 1.0~ - 1.2 V,器件的栅长分布均匀 .这种新的结构工艺步骤少 ,工艺宽容度大 ,重复性好 。
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关键词
InP
制作方法
三层胶复合结构
PHEMT
电子束曝光
T型纳米栅
磷化铟
电子迁移率晶体管
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职称材料
题名
一种新的高成品率InP基T型纳米栅制作方法
被引量:
7
1
作者
石华芬
张海英
刘训春
陈宝钦
刘明
王云翔
机构
中国科学院微电子中心
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第4期411-415,共5页
基金
国家重点基础研究发展规划资助项目 (编号 :G2 0 0 0 0 683 0 40 4)~~
文摘
提出了一种新的 PMMA/ PMGI/ PMMA三层胶复合结构 ,通过一次对准和电子束曝光、多次显影在 In PPHEMT材料上制作出高成品率的 T型纳米栅 .在曝光显影条件变化 2 0 %的情况下 ,In P HEMT成品率达到 80 %以上 ;跨导变化范围在 5 90~ 6 10 m S/ mm,夹断电压为 - 1.0~ - 1.2 V,器件的栅长分布均匀 .这种新的结构工艺步骤少 ,工艺宽容度大 ,重复性好 。
关键词
InP
制作方法
三层胶复合结构
PHEMT
电子束曝光
T型纳米栅
磷化铟
电子迁移率晶体管
Keywords
PMMA/PMGI/PMMA tri resist structure
InP PHEMT
E beam exposure
T shaped nano gate
分类号
TN431 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种新的高成品率InP基T型纳米栅制作方法
石华芬
张海英
刘训春
陈宝钦
刘明
王云翔
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
7
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职称材料
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