用三支路法分析高压电气设备的tgδ

用三支路法在理论和实际两方面研究了电介质或电气设备绝缘的损耗因素，即介质损耗角正切，该法直接利用区分电导损耗和极化损耗的三条支路，从ｔｇδ的物理含义出发，推导了单层介质和双层介质的综合ｔｇδ表达式，给出了ｎ层串联介质的ｔｇδ表达式，并结合具体问题进行了讨论，该研究尤其适宜于有多层介质相串联的电容型产品，可用来说明电流互感器的ｔｇδ“回升”现象。

用三支路法分析电容型绝缘的tgδ回升问题

提出能区分绝缘电导损耗和极化损耗的三支路法,从理论和实际两方面研究了多层串联绝缘的介质损耗率正切,推导了绝缘的综合 tgδ表达式,并对实际产品 tgδ变化原因和回升现象进行了讨论。