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题名三栅MOSFET阈值电压模型
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作者
刘建
石新智
林海
王高峰
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机构
武汉大学物理科学与技术学院
武汉大学微电子与信息技术研究院
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出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第4期400-402,406,共4页
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基金
国家自然科学基金重大项目(90307017)
国家自然科学基金资助项目(60444004)
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文摘
根据三栅(TG)MOSFET二维数值模拟的结果,分析了TG MOSFET中的电势分布,得出了在硅体与掩埋层接触面的中心线上的电势随栅压变化的关系;通过数学推导,给出了基于物理模型的阈值电压的解析表达式;并由此讨论了多晶硅栅掺杂浓度、硅体中掺杂浓度、硅体的宽度和高度以及栅氧化层厚度对阈值电压的影响;得出在TG MOSFET器件的阈值电压设计时,应主要考虑多晶硅栅掺杂浓度、硅体中掺杂浓度和硅体的宽度等参数的结论。
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关键词
三栅mosfet
阈值电压
数值模拟
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Keywords
Tri-Gate mosfet Threshold voltage Numerical simUlation
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分类号
TN432
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名新结构MOSFET
被引量:1
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作者
林钢
徐秋霞
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机构
中国科学院微电子中心
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出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第6期527-530,533,共5页
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文摘
和传统平面结构MOSFET相比,新结构MOSFET具有更好的性能(如改善的沟道效应(SCE),理想的漏诱生势垒降低效应(DIBL)和亚阈值特性)和更大的驱动电流等。文章主要介绍了五种典型的新结构MOSFET,包括平面双栅MOSFET、FinFET、三栅MOSFET、环形栅MOSFET和竖直结构MOSFET。随着MOSFET向亚50nm等比例缩小,这些新结构器件将大有前途。
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关键词
平面双栅mosfet
FINFET
三栅mosfet
环形栅mosfet
竖直结构mosfet
集成电路
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Keywords
mosfet
Double-gate mosfet
Fin-FET
Tri-gate mosfet
Gate-all-around mosfet
Vertical mosfet
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分类号
TN432
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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