直读光谱法测定三氧化钨中杂质含量

本文研究了直读光谱法测定三氧化钨中杂质含量的方法。通过在原有碳粉缓冲剂中加入氧化锗作为内标物,有效规避因人工研磨、装填固体标准和样品过程中引起的手法差异,通过对不同测定元素选取与之对应的锗线,确保黑度相近,再以高性能CCD检测器测定杂质元素与锗的黑度差,从而提高检测结果的稳定性,用内标法计算出杂质的含量。该方法加标回收率在93.00%—106.30%,RSD小于等于9.38%,具有操作简单的特点,测试结果稳定、准确,能更有效指导生产。