圆锥形光束显微X射线层析法——一种对多相物料进行三维分析的新方法

随着三维立体分析法的技术和分辨率在最近十年来得到了改进 ,现在有可能用三维数字空间对多相物料的微观结构进行详细描述。在这方面 ,三维X射线显微层析法提供了一套独特的成像能力。应用显微聚焦X射线发生器可以达到10 μm级的立体分辨率。最近 ,美国犹他大学安装了一套现代化的圆锥形X光束显微层析系统用于对多相物料进行三维空间的定量分析。该系统可以在直径 10mm的范围内得到 2 0 48× 2 0 48像素的图像 ,同时也可以得到某些较大物体( 40mm)的影像。该系统能够处理高密度的物料 ,密度可以达到 8 0 g/cm3。这个独特的仪器可以用于许多三维立体结构的成像 ,例如 ,三维解离度分析、过滤过程中床层微孔结构分析和混凝土结构中空气隙的测定。X射线显微层析系统不仅可以进行多相系统的定量分析 ,而且可以测定结构特性和相连续性。本文描述了这套新系统的最新应用情况 。