用于核态寿命测量的X-γ-γ定时符合系统

由两只ＢａＦ２闪烁探测器和一只高纯锗探测器组成的延迟符合系统适用于电子俘获衰变和Ｅ０跃迁生成的ｎｓ和ｐｓ量级激发态寿命测量。快符合涉及特征Ｘ射线和相应的级联衰变γ射线测量，系统具有元素和级联选择的优点。该系统对放射性核素１５２￣Ｅｕ进行测量，除得到Ｘ－γ－γ瞬发时间谱的半高全宽度外，还分别得到１２１．７８ｋｅＶ和３６６．４８ｋｅＶ能级的半寿命分别为１．３９５±０．０３５ｎｓ和４８±１０ｐｓ。结果表明该系统适用于Ｚ≥６２的电子俘获衰变研究。