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谱域OCT的印刷电路板三防漆厚度测量
1
作者
朱婕
吴倩
+4 位作者
邵校
余孝军
刘琳波
戴佳宁
莫建华
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021年第4期1157-1162,共6页
三防漆是一种广泛应用在印刷电路板(PCB)的保护性涂层,可以有效保护PCB使其免受恶劣环境的损害。三防漆的厚度是评价三防漆涂层质量的关键指标,因此需要对三防漆涂层进行厚度检测。提出了将谱域光学相干断层扫描成像技术(spectral domai...
三防漆是一种广泛应用在印刷电路板(PCB)的保护性涂层,可以有效保护PCB使其免受恶劣环境的损害。三防漆的厚度是评价三防漆涂层质量的关键指标,因此需要对三防漆涂层进行厚度检测。提出了将谱域光学相干断层扫描成像技术(spectral domain optical coherence tomography,SD-OCT)与图像分割算法相结合,实现对三防漆涂层厚度快速无损测量。为了提高测量精度,选用了宽带SLD光源(带宽:180 nm)来设计SD-OCT系统,系统轴向分辨率达到1.72μm。同时设计了基于边缘跟踪的涂层分割算法来实现三防漆涂层的快速准确分割。为了评估所设计方法的准确性,利用传统的金相切片方法进行了三防漆的厚度测量,将测量结果与该方法测量结果进行比较,分析了两种方法检测到的涂层上下边界吻合程度以及厚度差异。此外,还将所提出的涂层分割算法与我们组之前研究的基于图像梯度的边缘检测算法进行对比,分析了两种方法在测量结果的准确性和运行效率方面的差异,以此来评估该方法的优劣势。结果表明,所设计的三防漆厚度测量方法与传统的金相切片方法的测量结果具有很好的一致性,可以准确地实现三防漆的厚度测量;基于SD-OCT系统的三维成像能力可以直观地看到三防漆厚度地形图,克服了传统的金相切片方法无法进行区域性的三防漆厚度测量的缺陷;相比之前提出的基于图像梯度的边缘检测算法,此方法测量结果更加准确,效率显著提升,具备实时测量的潜力。
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关键词
应用光学
光学相干层析成像
三防漆涂层
无损测量
边缘检测
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职称材料
题名
谱域OCT的印刷电路板三防漆厚度测量
1
作者
朱婕
吴倩
邵校
余孝军
刘琳波
戴佳宁
莫建华
机构
苏州大学电子信息学院
西北工业大学自动化学院
School of Electrical&Electronic Engineering
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021年第4期1157-1162,共6页
基金
国家自然科学基金项目(61705184,81401451)
江苏省自然科学基金项目(BK20140365)
+2 种基金
山西省自然科学基础研究计划项目(2018JQ6014)
中央大学基础研究基金项目(G2018KY0308)
国家重点研发计划项目(2016YFE0107700)资助。
文摘
三防漆是一种广泛应用在印刷电路板(PCB)的保护性涂层,可以有效保护PCB使其免受恶劣环境的损害。三防漆的厚度是评价三防漆涂层质量的关键指标,因此需要对三防漆涂层进行厚度检测。提出了将谱域光学相干断层扫描成像技术(spectral domain optical coherence tomography,SD-OCT)与图像分割算法相结合,实现对三防漆涂层厚度快速无损测量。为了提高测量精度,选用了宽带SLD光源(带宽:180 nm)来设计SD-OCT系统,系统轴向分辨率达到1.72μm。同时设计了基于边缘跟踪的涂层分割算法来实现三防漆涂层的快速准确分割。为了评估所设计方法的准确性,利用传统的金相切片方法进行了三防漆的厚度测量,将测量结果与该方法测量结果进行比较,分析了两种方法检测到的涂层上下边界吻合程度以及厚度差异。此外,还将所提出的涂层分割算法与我们组之前研究的基于图像梯度的边缘检测算法进行对比,分析了两种方法在测量结果的准确性和运行效率方面的差异,以此来评估该方法的优劣势。结果表明,所设计的三防漆厚度测量方法与传统的金相切片方法的测量结果具有很好的一致性,可以准确地实现三防漆的厚度测量;基于SD-OCT系统的三维成像能力可以直观地看到三防漆厚度地形图,克服了传统的金相切片方法无法进行区域性的三防漆厚度测量的缺陷;相比之前提出的基于图像梯度的边缘检测算法,此方法测量结果更加准确,效率显著提升,具备实时测量的潜力。
关键词
应用光学
光学相干层析成像
三防漆涂层
无损测量
边缘检测
Keywords
Applied optics
Optical coherence tomography
Conformal coating
Nondestructive measurement
Boundary detection
分类号
TN247 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
谱域OCT的印刷电路板三防漆厚度测量
朱婕
吴倩
邵校
余孝军
刘琳波
戴佳宁
莫建华
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021
0
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职称材料
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参考文献
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