基于LOCO的上海光源储存环线性光学参数校正(英文)

为了测量和校正线性光学参数,在上海光源储存环调束过程当中使用了基于响应矩阵的线性光学参数分析(LO-CO)的方法。介绍了应用LOCO进行计算和校正的过程,包括:数值模拟得到束流位置探测器的测量精度对拟合结果的影响,调整四极铁电源电流强度来校正工作点和beta函数周期性的恢复。测量结果表明,在四极铁强度调整幅度在1.5%以内的情况下,储存环的束流光学参数成功地恢复到和设计值相当接近的状态,beta函数和色散函数畸变小于1%。通过束流光学参数的校正,使得在今后的工作当中可以轻松地控制储存环的工作模式。

高频噪声对上海光源储存环束流品质的影响

为了向用户提供高品质的同步辐射光,储存环束流应具有好的性能。储存环高频噪声的存在会影响到束流品质。本文基于DKW理论,研究了高频幅度噪声与相位噪声对束流能散度的影响,并分析了束团长度拉伸效应,以及对小间隙插入件U27上微聚焦光束品质的影响。模拟结果显示,位相噪声对束流品质以及辐射光品质的影响比较显著,且阶次越高的辐射光受高频噪声的影响越大。

SSRF储存环B铁和S铁电源故障信息监控系统

根据上海光源储存环B铁和S铁电源系统的工作特点,系统故障连锁信息通过S7-200和S7-300 PLC的软件设计,完成了本地监控。基于EPICS的应用开发,实现了远程监控。介绍了EPICS系统架构,并对其硬件和软件设计中的关键技术进行了阐述。该系统具有人机交互性好、操作使用简便等优点。通过实际运行发现,系统工作稳定,达到了设计要求。