磁瓦表面图像的下包络线灰度对比度缺陷检测算法

为解决磁瓦表面缺陷对比度低、整体亮度不均匀以及磁瓦图像中存在大量的冲击噪声干扰等难题,提出了一种基于下包络线灰度对比度的缺陷检测算法。首先定义扫描线灰度对比度,用下包络的方式来优化每一行扫描灰度曲线,然后计算下包络线上的最大灰度对比度并判断该点是否为缺陷区域中的点从而得到缺陷区域的"骨架",最后通过8邻接方式对"骨架"进行扩展得到完整的缺陷区域。实验证明,该方法能够有效解决冲击噪声对图像分割的影响,克服光照不均、表面存在磨削条纹等干扰,对不同类型缺陷有较好的分割效果。