单晶体应力测量的X射线衍射分析

采用HiroshiSuzuki等人提出的多步回归分析方法,结合不对称布拉格衍射,对CdZnTe单晶片的残余应力进行了测量。与传统的单晶体应力测量方法比较,这种新方法可以准确测定平面应力状态下的单晶体应力而不受d0值不可靠所带来的影响。

X射线法测量锗单晶的应力

采用Hiroshi Suzuki等人提出的新的单晶应力测量原理,结合不对称布拉格衍射技术,对锗单晶的应力进行了测量。这种方法的优点在于利用多组试验数据求解多元线性回归方程,从而消除了一般单晶应变测定方法中无应变状态下晶面间距不准确对结果所带来的影响。该法可以推广应用于其他单晶体的应力测量和高织构取向材料的X射线应力测量。

碲锌镉晶体晶格畸变的测定与分析

在高分辨X射线衍射仪上，利用不对称布拉格衍射STD技术与单晶摇摆曲线技术相结合的方法，对碲锌镉单晶材料的晶格畸变进行了分析测定。此方法实现了一次装样，多角度、多次测定晶体的摇摆曲线，从而利用多组实验数据完成多元线性回归方程组的求解，避开了一般应变测定方法中难以确定无应力状态下衍射角的问题。所测定的生长态碲锌镉晶片晶格畸变量为10^-3-10^-2数量级，该畸变量是碲锌镉晶片存在成份偏析、位错和空位等缺陷以及晶片受到的应力综合作用的结果。