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当前电子产品可靠性试验存在问题探讨
被引量:
4
1
作者
樊建祖
《电子产品可靠性与环境试验》
2006年第4期1-3,共3页
论述了当前一些电子产品可靠性试验中存在不真实的试验过程、试验记录和试验报告(结论)这一尖锐问题。分析了问题产生的人、机、料、法、环原因,指出人的利益观和责任心问题是首要原因,设备问题则是重要原因。探讨了解决问题的途经,提...
论述了当前一些电子产品可靠性试验中存在不真实的试验过程、试验记录和试验报告(结论)这一尖锐问题。分析了问题产生的人、机、料、法、环原因,指出人的利益观和责任心问题是首要原因,设备问题则是重要原因。探讨了解决问题的途经,提出将可靠性试验作为生产的特殊过程管理,巩固和加强重要产品的监督试验,将解决一些重要设备问题作为新的突破口,一步一步地解决电子产品可靠性试验中存在的不真实问题,不断地提高我国电子产品的可靠性水平。
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关键词
电子产品
可靠性试验
不真实问题
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职称材料
题名
当前电子产品可靠性试验存在问题探讨
被引量:
4
1
作者
樊建祖
机构
西京检测试验中心
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2006年第4期1-3,共3页
文摘
论述了当前一些电子产品可靠性试验中存在不真实的试验过程、试验记录和试验报告(结论)这一尖锐问题。分析了问题产生的人、机、料、法、环原因,指出人的利益观和责任心问题是首要原因,设备问题则是重要原因。探讨了解决问题的途经,提出将可靠性试验作为生产的特殊过程管理,巩固和加强重要产品的监督试验,将解决一些重要设备问题作为新的突破口,一步一步地解决电子产品可靠性试验中存在的不真实问题,不断地提高我国电子产品的可靠性水平。
关键词
电子产品
可靠性试验
不真实问题
Keywords
electronic products
reliability test
invalidity problem
分类号
TB114.3 [理学—概率论与数理统计]
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作者
出处
发文年
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1
当前电子产品可靠性试验存在问题探讨
樊建祖
《电子产品可靠性与环境试验》
2006
4
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