基于密度的凹版专色叠印色光谱预测模型的研究及应用

目的建立一种基于密度与光谱反射率关系的专色叠印色光谱预测模型。方法首先建立前景色、后景色密度与其光谱反射率关系;基于此建立叠印色光谱反射率的计算方法;其次对模型进行优化,完成专色叠印色光谱预测模型的建立;再通过凹版印刷实打样30张专色叠印色样张,基于Malab利用色差以及拟合决定系数R2对预测模型进行验证;最后在相同工艺条件下实打样专色叠印色样张进行预测,通过色差完成对模型的精度检验。结果验证表明,不同专色叠印色在同一网点面积率下与其对应的前景色、后景色密度之间存在较强相关关系,其拟合决定系数R2均大于0.9;模型精度检验中,73.7%的模型预测值与样张实测值色差为0~2.5个CIE1976色差单位,大部分色块色差为0~2个CIE1976色差单位,占总频率的60.54%,整体平均色差为1.92个CIE1976色差单位。结论本文所建模型具有较高的预测精度,能基本满足对颜色预测的需求。

基于光谱的专色叠印预测模型研究

目前,专色叠印预测领域还没有形成成熟的理论算法,传统四色叠印预测方法应用于专色叠印过程时需要大量的样本色块,在多个专色叠印中实现困难较大。针对此问题,提出一种简单的专色叠印预测模型,能满足实际生产中印前设计以及数字打样的需求。采用对专色和叠印色分别进行光谱分析的方法,模拟两者之间的关系,对光散射、叠印率、透明度等物理因素进行修正,建立一种简单的专色叠印预测模型。测试色靶由两个专色以及与C、M、Y、K相互叠印的色块组成,采用胶印的方式进行印刷。对该模型的验证结果以CIEDE2000表示,专色叠印预测值与测量值之间的平均CIEDE2000值小于3。

专色及叠色的数字打样解决方案

基于黑、蓝、红、黄的四色数字打样方案,已经为业界完全接受和认可,并在印刷生产过程中广泛应用。特别是随着CTP技术的普及和发展,数字打样已成为一种标准的流程配置。但很多包装和标签印刷企业,特别是高端标签印刷企业,