一种基于熔丝修调的修调方案设计

基于传统的电阻熔丝修调网络,介绍了一种新的基于熔丝修调方法。将熔丝设计于电路中,熔丝的烧断与否决定着信号的高低电平,从而来控制电路内部的开关状态,给出了修调电路原理图,阐述了修调原理和可行性设计。

采用熔丝修调技术的高精度电流舵D/A转换器

高精度D/A转换器的实际精度往往低于理论上的精度。针对这个长期困扰的难题,在设计16位D/A转换器的过程中,提出了一种熔丝修调技术,即通过修调电流源输出端的电流,有效地减小电流源失配和有限输出阻抗对D/A转换器的DNL和INL的影响,大幅度提高D/A转换器的精度。基于0.18μm CMOS工艺的测试结果表明:在采用熔丝修调技术前,该电路的DNL和INL分别为-0.72~9.07LSB和-5.55~18.1LSB;在采用熔丝修调技术后,该电路的DNL和INL分别为-3.95~0.70LSB和1.94~8.06LSB。当输入信号频率为102 MHz、采样频率为500MHz时,SFDR达到82.16dBc,完全满足D/A转换器高精度的要求。

一种易烧写高可靠的硅化物多晶熔丝修调电路

多晶硅熔丝是一种单次可编程(OTP)的非易失存储单元,常用于集成电路的修调,确保电路在PVT下性能稳定。对传统熔丝修调电路进行了改进,设计了一种常规修调电压下高可靠的硅化物多晶熔丝修调电路。该电路具有功耗低、易扩展和复用性强等优点。基于0.25μm CMOS工艺流片测试,该电路在3.3 V电压下实现了14位DAC高31位温度计码恒流源的修调。

一种利用迭代法实现的熔丝修调方案

随着集成电路的迅速发展,测试过程中熔丝修调的精度受到越来越多的重视。在某些产品熔丝步距一致性欠佳的情况下,传统的查表法熔丝修调方案已经无法满足当下的精度要求,从而表现为测试过程中区域性或批次性的低良率,造成人力、物力的损失。将迭代法应用到熔丝表的计算中去成为了提升测试精度的必然趋势。采用迭代法的熔丝方案可以根据圆片当前区域的熔丝步距实时调整熔丝表,提升测试良率和测试精度。

可修调的高阶曲率补偿基准电压源

设计了一款带有误差放大器和电阻修调电路的分段曲率补偿基准电压源。通过分段电流补偿降低了温度系数;采用数字修调网络和熔丝修调网络,减小了电阻随机误差;采用误差放大器提高了电源抑制比,使基准电压精度得到显著提高。电路基于XFAB 0.35μm高压CMOS工艺设计,仿真结果显示,在-40℃～125℃的温度范围内和多种工艺角下,当输出基准电压为3.0875V时,温度系数为4.1×10^-6/℃,低频电源抑制比达到-70dB。该电路的性能指标大大优于同类型产品,是一款适用于汽车电子芯片的高精度电压基准源。

一种数模混合芯片高效量产测试技术研究

以提高数模混合芯片量产测试效率为目的,基于数模混合芯片的测试参数和功能进行分析,对现有的量产测试方案进行技术优化和提升。对数字参数和模拟参数同时测试的技术方案进行优化,分别针对数字模块、模拟模块设计硬件,开发测试程序,数字模块测试SITE数提高至20 SITES同测。针对模拟模块的个性化熔丝修调方案进行优化,通过设计通用的熔丝修调阵列装置,避免重复设计熔丝修调板卡,缩短电路板(PCB)设计、制造时间。针对集成电路的测试数据进行分析,提出基于应用程序可视化基础(VBA)结合公式计算的集成电路数据筛选方法,提高集成电路测试质量。通过上述技术方案优化,数模混合芯片的量产测试效率提升了50%以上。

一种输出可调的高精度开关电容基准电压源

设计了一种输出可调的高精度开关电容基准电压源,与现有基准电压源相比,该电路可在圆片阶段利用熔丝修调校正技术对基准电压进行修正,降低芯片制造成本。电路采用开关电容结构降低运放输入失调电压对电路的影响,具有高精度的特点。将该基准电压源应用于一款语音编解码芯片,测试结果表明,其在25℃下输出基准电压为2.355V,在-40~80℃范围内温度系数为19.46×10^(-6)/℃。

基于ATE的电源监控芯片测试方法

近年来,随着应用环境复杂性的提高,电源监控芯片也朝着高集成度、大功率密度和低功耗的方向发展。但随着芯片集成度的提高、管脚数的增多、功能的增强,在电源监控芯片量产测试方面,对测试程序的开发和自动测试设备提出了更为苛刻的要求。介绍了基于自动测试设备测试系统的电源监控芯片的测试方法,并进一步地研究了测试方法提升、熔丝修调及测试程序简化等方面的优化。经测试验证,优化后的测试方法效果良好,能够大幅地提高测试效率和产品良率,为此类芯片的测试提供了一定的参考。

一种锂电池充电电路的测试方法

介绍了一种特别的锂电池充电管理电路,以及针对该电路的测试方法,包括该测试方法的硬件设计、测试程序编写以及提高测试稳定性的一些措施。该电路的特别之处在于内部集成了一个升压模块,相当于内置了一个开关电源,可以在锂电池处于放电模式时直接将电池电压升高输出到负载上,这为测试工作带来了困难,介绍了如何克服这些困难并顺利完成测试。同时在测试过程中需对该电路输出基准电压进行修调,对修调方式做了介绍。

一种可频率迁移的高精度振荡器设计

为了降低DC/DC电源芯片过流期间的功耗,本文设计了一种可频率迁移的高精度振荡器,芯片出现过流情况时,振荡器频率可降至100 kHz以下.基于CSMC 0.25μm 30 V-60 V BCD工艺完成了电路设计、仿真.该振荡器常温下可以得到信号幅值为0.6 V~3.2 V、频率为260 kHz的锯齿波.温度偏差在±4.23%以内,电源灵敏偏差在±1.6%以内.出现工艺角偏差时,采用熔丝修调对振荡器的频率加以修正.