基于覆盖算法的两层结构分类器设计

分类器设计是模式识别系统中的关键步骤之一。在目前的许多设计方法中,分类器大多采用的是单层结构,即直接将输入模式映射为识别出来的结果,这类结构虽然简单直观,但是往往难于发挥分类器设计算法的最大性能。文中从分类器的结构方面考虑,提出了一种基于覆盖算法的两层结构分类器的设计方法,并且与单层结构分类器做了实验分析对比,得出了在不明显增加构造复杂度的情况下两层结构的设计大大改善了分类器的性能。